|
|
  |
Помогите найти справочник, расчет интенсивности отказов |
|
|
|
Dec 1 2012, 19:18
|
Участник

Группа: Участник
Сообщений: 45
Регистрация: 30-11-07
Пользователь №: 32 830

|
Здравствуйте, необходимо сделать расчет интенсивности отказов устройства, согласно "ОСТ 4Г 0.012.242-84 Методика расчета показателей надежности" следует воспользоваться справочником "Надежность изделий электронной техники, электротехники и квантовой электроники". Вопрос, где можно найти этот самый справочник? Гугл ответа не дал. Прикрепил рисунок с данной цитатой.
Эскизы прикрепленных изображений
|
|
|
|
|
Dec 2 2012, 10:00
|
Частый гость
 
Группа: Свой
Сообщений: 197
Регистрация: 17-06-10
Из: Киев
Пользователь №: 57 986

|
Посмотрите этот. Обратите внимание - это 1975 год.
|
|
|
|
|
Dec 2 2012, 11:05
|
Участник

Группа: Участник
Сообщений: 42
Регистрация: 18-06-06
Пользователь №: 18 158

|
Цитата(Stalker27 @ Dec 1 2012, 23:18)  Здравствуйте, необходимо сделать расчет интенсивности отказов устройства, согласно "ОСТ 4Г 0.012.242-84 Методика расчета показателей надежности" следует воспользоваться справочником "Надежность изделий электронной техники, электротехники и квантовой электроники". Вопрос, где можно найти этот самый справочник? Гугл ответа не дал. Прикрепил рисунок с данной цитатой. Сейчас этот документ именуется справочник "Надежность электрорадиоизделий". Если он вам действительно нужен и его необходимо официально купить, то следует обращаться к разработчику справочника - Филиал 46ЦНИИ или в ОАО "РНИИ "Электронстандарт"
|
|
|
|
|
Dec 2 2012, 16:53
|
Группа: Новичок
Сообщений: 2
Регистрация: 9-11-12
Пользователь №: 74 313

|
Тоже интересует этот справочник. Последняя редакция 2006 года? Неужели нет нигде в открытом доступе?
|
|
|
|
|
Dec 2 2012, 19:28
|
Участник

Группа: Участник
Сообщений: 45
Регистрация: 30-11-07
Пользователь №: 32 830

|
Всем большое спасибо за ответы, разобрался. А каким справочником воспользоваться для импортных деталей? Например, интересует микроконтроллер ATmega16.
|
|
|
|
|
Dec 3 2012, 04:40
|

Частый гость
 
Группа: Участник
Сообщений: 166
Регистрация: 14-11-05
Из: Москва
Пользователь №: 10 827

|
Цитата(Stalker27 @ Dec 2 2012, 23:28)  Всем большое спасибо за ответы, разобрался. А каким справочником воспользоваться для импортных деталей? Например, интересует микроконтроллер ATmega16. Справочник "Надежность ЭРИ ИП" MIL-HDBK-217F. Reliability prediction of electronic equipment RADS-TR-89-177. VHSIC/VHSIC-LIKE. Reliability prediction modeling Да, и посмотрите на этом форуме: http://electronix.ru/forum/index.php?showtopic=97609
Сообщение отредактировал asonika - Dec 3 2012, 04:41
--------------------
Жаднов В.В.
|
|
|
|
|
Dec 3 2012, 22:52
|
Частый гость
 
Группа: Свой
Сообщений: 197
Регистрация: 17-06-10
Из: Киев
Пользователь №: 57 986

|
Цитата(Novgorod @ Dec 2 2012, 19:53)  Тоже интересует этот справочник. Последняя редакция 2006 года? Неужели нет нигде в открытом доступе? Почему же нет, у нас есть
|
|
|
|
|
Dec 4 2012, 14:57
|
Группа: Новичок
Сообщений: 2
Регистрация: 9-11-12
Пользователь №: 74 313

|
i-mir, спасибо, забрал считать!
|
|
|
|
|
Dec 6 2012, 17:33
|
Участник

Группа: Участник
Сообщений: 45
Регистрация: 30-11-07
Пользователь №: 32 830

|
Цитата(i-mir @ Dec 4 2012, 02:52)  Почему же нет, у нас есть А справочника "Надежность ЭРИ ИП" случайно не завалялось?
|
|
|
|
|
Dec 6 2012, 19:07
|
Участник

Группа: Участник
Сообщений: 42
Регистрация: 18-06-06
Пользователь №: 18 158

|
Цитата(Stalker27 @ Dec 6 2012, 21:33)  А справочника "Надежность ЭРИ ИП" случайно не завалялось? Этот справочник тоже в ОСТ 4Г 0.012.242-84 прописан?  Фактически справочник повторяет MIL-HDBK-217F notice 2, поэтому смотрите его, сильно не ошибетесь.
|
|
|
|
|
Dec 7 2012, 09:21
|
Участник

Группа: Участник
Сообщений: 42
Регистрация: 18-06-06
Пользователь №: 18 158

|
Цитата(i-mir @ Dec 7 2012, 02:10)  надежность элементов уже перестала определяться качеством самих элементов - а больше связанна с условиями работы, т.е. коректность режимов, КЗ и помехи от ВЧ модулей и т.д. Я бы не стал утверждать столь категорично. Моя практика показывает, что дефектных ЭРИ достаточно много, в том числе, и иностранного производства. А вот обращать внимание и пытаться учесть при прогнозировании условия работы весьма целесообразно. Например, RIAC, разработчик RIAC-HDBK-217Plus, приводит данные, что поток отказов ЭРИ (по причине их ненадежности) в среднем составляет только около 20% потока отказов аппаратуры. Поэтому и предлагает качественный подход, позволяющий оценить вероятность отказов аппаратуры по другим причинам, не связанных с ненадежностью ЭРИ. Советую также ознакомиться с руководством FIDES Guide 2009 Edition A, документ доступен для загрузки после регистрации на сайте http://fides-reliability.org.
|
|
|
|
|
Dec 8 2012, 05:09
|

Частый гость
 
Группа: Участник
Сообщений: 166
Регистрация: 14-11-05
Из: Москва
Пользователь №: 10 827

|
Цитата(i-mir @ Dec 7 2012, 02:10)  Отвечаю - у меня этого справочника к сожалению нет. Тут есть: http://www.weibull.com/knowledge/milhdbk.htmЦитата(i-mir @ Dec 7 2012, 02:10)  Но реально эти данные уже далеки от чего-то реального, ибо надежность элементов уже перестала определяться качеством самих элементов - а больше связанна с условиями работы, т.е. коректность режимов, КЗ и помехи от ВЧ модулей и т.д. Вы перепутали два понятия "работоспособное состояние" и безотказность. Если аппаратура не работает в требуемых "...условиях работы, т.е. коректность режимов, КЗ и помехи от ВЧ модулей и т.д.", то о ее работоспособном состоянии, а тем более о безотказности, и говорить не приходится! Безотказность - функция времени, и при оценки ее показателей априори принимается, что аппаратура в начальный момент времени находится в работоспособном состоянии (во всех режимах, условиях применения и т.д.). А при такой постановке отказы аппаратуры будут определятся отказами элементов.
Сообщение отредактировал asonika - Dec 8 2012, 05:10
--------------------
Жаднов В.В.
|
|
|
|
|
Apr 13 2013, 22:10
|
Частый гость
 
Группа: Свой
Сообщений: 197
Регистрация: 17-06-10
Из: Киев
Пользователь №: 57 986

|
здесь можно много обсуждать про теоретическую и практическую надежность. раз вы начали с академических знаний - то не лишне в начале обговорить что практически разработчик не в курсе о тех условиях, в которых работает ваш транзистор, микросхема и т.д. Простой пример с тиристорами - напруга 220 В - ставь себе 3й класс на 300 В и радуйся, ан нет - ставим максимальный 12класс, ибо дохнут. Все знают про реактивный характер нагрузки и мы ее фильтруем - но, по ходу не все так гладко. На осциллографе все ок - но повторюсь не всю картину мы можем получить через наши приборы. Учтите что вся информация которая есть у вас - косвенная, мы ж не можем пока "почувствовать ток" напрямую, а только через экран. А кто сказал что в этом экране вся картина видна ? Это больше область философии. Набумаге, когда квадратики ваши работают "в режимах" - можете крутить любые формулы, не вопрос. На практике же мир очень сложная штука и это честно - радует. Удачи в расчетах, они дают ориентировочную оценку - понять что мы не ошиблись на порядок, а ошибки +/- 100% это ок. как бы это дико не звучало.
|
|
|
|
|
  |
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0
|
|
|