реклама на сайте
подробности

 
 
 
Reply to this topicStart new topic
> Помогите найти справочник, расчет интенсивности отказов
Stalker27
сообщение Dec 1 2012, 19:18
Сообщение #1


Участник
*

Группа: Участник
Сообщений: 45
Регистрация: 30-11-07
Пользователь №: 32 830



Здравствуйте, необходимо сделать расчет интенсивности отказов устройства, согласно "ОСТ 4Г 0.012.242-84 Методика расчета показателей надежности" следует воспользоваться справочником "Надежность изделий электронной техники, электротехники и квантовой электроники". Вопрос, где можно найти этот самый справочник? Гугл ответа не дал. Прикрепил рисунок с данной цитатой.
Эскизы прикрепленных изображений
Прикрепленное изображение
 
Go to the top of the page
 
+Quote Post
i-mir
сообщение Dec 2 2012, 10:00
Сообщение #2


Частый гость
**

Группа: Свой
Сообщений: 197
Регистрация: 17-06-10
Из: Киев
Пользователь №: 57 986



Посмотрите этот.
Обратите внимание - это 1975 год.
Прикрепленные файлы
Прикрепленный файл  ____4.__.202.014.txt ( 47.29 килобайт ) Кол-во скачиваний: 1025
 
Go to the top of the page
 
+Quote Post
Gennadiy_1
сообщение Dec 2 2012, 11:05
Сообщение #3


Участник
*

Группа: Участник
Сообщений: 42
Регистрация: 18-06-06
Пользователь №: 18 158



Цитата(Stalker27 @ Dec 1 2012, 23:18) *
Здравствуйте, необходимо сделать расчет интенсивности отказов устройства, согласно "ОСТ 4Г 0.012.242-84 Методика расчета показателей надежности" следует воспользоваться справочником "Надежность изделий электронной техники, электротехники и квантовой электроники". Вопрос, где можно найти этот самый справочник? Гугл ответа не дал. Прикрепил рисунок с данной цитатой.

Сейчас этот документ именуется справочник "Надежность электрорадиоизделий". Если он вам действительно нужен и его необходимо официально купить, то следует обращаться к разработчику справочника - Филиал 46ЦНИИ или в ОАО "РНИИ "Электронстандарт"
Go to the top of the page
 
+Quote Post
Novgorod
сообщение Dec 2 2012, 16:53
Сообщение #4





Группа: Новичок
Сообщений: 2
Регистрация: 9-11-12
Пользователь №: 74 313



Тоже интересует этот справочник. Последняя редакция 2006 года? Неужели нет нигде в открытом доступе?
Go to the top of the page
 
+Quote Post
Stalker27
сообщение Dec 2 2012, 19:28
Сообщение #5


Участник
*

Группа: Участник
Сообщений: 45
Регистрация: 30-11-07
Пользователь №: 32 830



Всем большое спасибо за ответы, разобрался. А каким справочником воспользоваться для импортных деталей? Например, интересует микроконтроллер ATmega16.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
asonika
сообщение Dec 3 2012, 04:40
Сообщение #6


Частый гость
**

Группа: Участник
Сообщений: 166
Регистрация: 14-11-05
Из: Москва
Пользователь №: 10 827



Цитата(Stalker27 @ Dec 2 2012, 23:28) *
Всем большое спасибо за ответы, разобрался. А каким справочником воспользоваться для импортных деталей? Например, интересует микроконтроллер ATmega16.


Справочник "Надежность ЭРИ ИП"
MIL-HDBK-217F. Reliability prediction of electronic equipment
RADS-TR-89-177. VHSIC/VHSIC-LIKE. Reliability prediction modeling

Да, и посмотрите на этом форуме:
http://electronix.ru/forum/index.php?showtopic=97609

Сообщение отредактировал asonika - Dec 3 2012, 04:41


--------------------
Жаднов В.В.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
i-mir
сообщение Dec 3 2012, 22:52
Сообщение #7


Частый гость
**

Группа: Свой
Сообщений: 197
Регистрация: 17-06-10
Из: Киев
Пользователь №: 57 986



Цитата(Novgorod @ Dec 2 2012, 19:53) *
Тоже интересует этот справочник. Последняя редакция 2006 года? Неужели нет нигде в открытом доступе?


Почему же нет, у нас есть
Прикрепленные файлы
Прикрепленный файл  Sprav2006.pdf ( 4.21 мегабайт ) Кол-во скачиваний: 7040
 
Go to the top of the page
 
+Quote Post
Novgorod
сообщение Dec 4 2012, 14:57
Сообщение #8





Группа: Новичок
Сообщений: 2
Регистрация: 9-11-12
Пользователь №: 74 313



i-mir, спасибо, забрал считать!
Go to the top of the page
 
+Quote Post
Stalker27
сообщение Dec 6 2012, 17:33
Сообщение #9


Участник
*

Группа: Участник
Сообщений: 45
Регистрация: 30-11-07
Пользователь №: 32 830



Цитата(i-mir @ Dec 4 2012, 02:52) *
Почему же нет, у нас есть

А справочника "Надежность ЭРИ ИП" случайно не завалялось?
Go to the top of the page
 
+Quote Post
Gennadiy_1
сообщение Dec 6 2012, 19:07
Сообщение #10


Участник
*

Группа: Участник
Сообщений: 42
Регистрация: 18-06-06
Пользователь №: 18 158



Цитата(Stalker27 @ Dec 6 2012, 21:33) *
А справочника "Надежность ЭРИ ИП" случайно не завалялось?

Этот справочник тоже в ОСТ 4Г 0.012.242-84 прописан? sm.gif
Фактически справочник повторяет MIL-HDBK-217F notice 2, поэтому смотрите его, сильно не ошибетесь.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
i-mir
сообщение Dec 6 2012, 22:10
Сообщение #11


Частый гость
**

Группа: Свой
Сообщений: 197
Регистрация: 17-06-10
Из: Киев
Пользователь №: 57 986



Как говориться вам шашечки или ехать?
Если вам нужен формальный подход, можно
рассуждать так: ГОСТ 27.301-95 прямо
ссылается на MIL-HDBK-217Е, поэтому берем
данные оттуда. Все в инете есть, если попросите
выложу и сюда.

Но реально эти данные уже далеки от чего-то
реального, ибо надежность элементов уже перестала
определяться качеством самих элементов - а больше
связанна с условиями работы, т.е. коректность
режимов, КЗ и помехи от ВЧ модулей и т.д.
Естественно дешевый Китай не рассматриваем здесь.

Повторюсь - если нужно "кирпич данных" по надежности
- ответ выше, если что-то реально посчитать - пишите сюда.

Отвечаю - у меня этого справочника к сожалению нет.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
Gennadiy_1
сообщение Dec 7 2012, 09:21
Сообщение #12


Участник
*

Группа: Участник
Сообщений: 42
Регистрация: 18-06-06
Пользователь №: 18 158



Цитата(i-mir @ Dec 7 2012, 02:10) *
надежность элементов уже перестала
определяться качеством самих элементов - а больше
связанна с условиями работы, т.е. коректность
режимов, КЗ и помехи от ВЧ модулей и т.д.

Я бы не стал утверждать столь категорично. Моя практика показывает, что дефектных ЭРИ достаточно много, в том числе, и иностранного производства.
А вот обращать внимание и пытаться учесть при прогнозировании условия работы весьма целесообразно. Например, RIAC, разработчик RIAC-HDBK-217Plus, приводит данные, что поток отказов ЭРИ (по причине их ненадежности) в среднем составляет только около 20% потока отказов аппаратуры. Поэтому и предлагает качественный подход, позволяющий оценить вероятность отказов аппаратуры по другим причинам, не связанных с ненадежностью ЭРИ.
Советую также ознакомиться с руководством FIDES Guide 2009 Edition A, документ доступен для загрузки после регистрации на сайте http://fides-reliability.org.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
asonika
сообщение Dec 8 2012, 05:09
Сообщение #13


Частый гость
**

Группа: Участник
Сообщений: 166
Регистрация: 14-11-05
Из: Москва
Пользователь №: 10 827



Цитата(i-mir @ Dec 7 2012, 02:10) *
Отвечаю - у меня этого справочника к сожалению нет.

Тут есть:
http://www.weibull.com/knowledge/milhdbk.htm

Цитата(i-mir @ Dec 7 2012, 02:10) *
Но реально эти данные уже далеки от чего-то
реального, ибо надежность элементов уже перестала
определяться качеством самих элементов - а больше
связанна с условиями работы, т.е. коректность
режимов, КЗ и помехи от ВЧ модулей и т.д.

Вы перепутали два понятия "работоспособное состояние" и безотказность. Если аппаратура не работает в требуемых "...условиях работы, т.е. коректность
режимов, КЗ и помехи от ВЧ модулей и т.д.", то о ее работоспособном состоянии, а тем более о безотказности, и говорить не приходится! Безотказность - функция времени, и при оценки ее показателей априори принимается, что аппаратура в начальный момент времени находится в работоспособном состоянии (во всех режимах, условиях применения и т.д.). А при такой постановке отказы аппаратуры будут определятся отказами элементов.

Сообщение отредактировал asonika - Dec 8 2012, 05:10


--------------------
Жаднов В.В.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
i-mir
сообщение Apr 13 2013, 22:10
Сообщение #14


Частый гость
**

Группа: Свой
Сообщений: 197
Регистрация: 17-06-10
Из: Киев
Пользователь №: 57 986



здесь можно много обсуждать про теоретическую и практическую надежность.
раз вы начали с академических знаний - то не лишне в начале обговорить что практически
разработчик не в курсе о тех условиях, в которых работает ваш транзистор, микросхема и т.д.
Простой пример с тиристорами - напруга 220 В - ставь себе 3й класс на 300 В и радуйся,
ан нет - ставим максимальный 12класс, ибо дохнут. Все знают про реактивный характер нагрузки
и мы ее фильтруем - но, по ходу не все так гладко. На осциллографе все ок - но повторюсь
не всю картину мы можем получить через наши приборы. Учтите что вся информация которая
есть у вас - косвенная, мы ж не можем пока "почувствовать ток" напрямую, а только через
экран. А кто сказал что в этом экране вся картина видна ?
Это больше область философии.
Набумаге, когда квадратики ваши работают "в режимах" - можете крутить любые формулы,
не вопрос.
На практике же мир очень сложная штука и это честно - радует.
Удачи в расчетах, они дают ориентировочную оценку - понять что мы не ошиблись на порядок,
а ошибки +/- 100% это ок. как бы это дико не звучало.
Go to the top of the page
 
+Quote Post

Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 17th June 2025 - 23:34
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.01467 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016