Получение информации о размещении падов. Опции

[hi all]

Доброго времени суток. Снова.

Суть вопроса такова: при помощи VLS сделал топологию устройства, успешно провел её через все проверки и экстракцию(Calibre) и с толкнулся с проблемой получения информации о размещении падов на кристалле(для помещения кристалла в корпус), точнее с тем, где взять эту информацию. Для корпусирования используется SiP. Я, к сожалению, не знаю нюансов при переносе этой информации из virtuoso в SiP. Есть предположение, что это делается при помощи GDS файла, получаемого из Virtuoso, но формат данных, хранимых в нем, не вполне читабелен и опции конвертирования в SiP тоже не обнаружено. Необходимых данных нужно немного(по сравнению с объёмом GDS-файла), и они должны быть представлены в текстовой форме, возможно это делается полностью вручную?

Заранее спасибо.