реклама на сайте
подробности

 
 
2 страниц V  < 1 2  
Reply to this topicStart new topic
> Использование слабых транзисторов в логике SC, На технологиях суб 100нм
Shivers
сообщение Jan 27 2015, 14:25
Сообщение #16


Знающий
****

Группа: Свой
Сообщений: 680
Регистрация: 11-02-08
Из: Msk
Пользователь №: 34 950



Спасибо!
Go to the top of the page
 
+Quote Post
v_mirgorodsky
сообщение Apr 12 2015, 16:36
Сообщение #17


Местный
***

Группа: Свой
Сообщений: 342
Регистрация: 21-02-05
Пользователь №: 2 804



Для 28нм HKMG затворы исключительно прямые, с постоянным шагом и длинной транзисторов. Для поликремниевых затворов в зависимости от ФАБа затворы разрешается гнуть, или делать из них букву L. Практически все остальное в технологиях тоньше 40нм запрещено. Помню, что в проекте на 65нм мы использовали поликремний почти как металл для роутинга внутри целов, то в процессах тоньше 40нм о таких вольностях надо забыть.

Еще в технологиях тоньше 40нм сильно проявляется влияние позиции транзистора на его максимальный ток. Отличие на низких напряжениях может достигать 30%. На напряжениях, близких к номиналу все получается не так печально, но это уже инженерная задача каждого конкретного места в лейауте. Т.е., одиноко стоящий транзистор приходится делать на 30% и больше процентов шире, чем такой же транзистор, выполняющий аналогичные функции но в группе транзисторов. Таким образом единственный более-менее подходящий подход к лейауту на технологиях ниже 40нм - это длинная непрерывная полоса диффузии, на ней много транзисторов с одинаковыой длинной канала с постоянным шагом. Если транзистор в этом конкретном месте не нужен, то его затвор просто сажается на соответствующий рейл питания, или, если чип большой и с ESD проблемы, то на близ лежащий tie-off или tie-on. Транзисторы могут иметь разную ширину канала, но и тут есть ограничения. В зависимости от ФАБа может сильно варьироваться конфигурация и требования к "выступающим", или утопленным частям диффузии. Короче, надо смотреть по ПДК - однозначного рецепта здесь нет.

Еще огромную проблему на 28 и ниже представляет собой активное сопротивление металлов. 28 в этом смысле самый сложный процесс. Потребление схемы все еще высокое, геометрически транзисторы большие и получить значительный IR-drop на рейле питания сравнительно просто. Это приходится учитывать, делать более широкие рейлы питания, или выделять два металла на разводку питания.

Особенностей в тонких техпроцессах много. Спрашивайте, что вспомню - расскажу, если не будет противоречить всяким NDA wink.gif

Shivers, может этот вопрос будет уже неактуальным, но играться с длинной канала на тонких процессах будет совсем напряжно по площади. Посмотрите в сторону такого элемента, как мажорити. Если коротнуть ему выход на один из входов получается очень даже хороший C-элемент. На 28 нм у меня такая штука заняла "всего" 7 полосок поли на два входа.


--------------------
WBR,
V. Mirgorodsky
Go to the top of the page
 
+Quote Post

2 страниц V  < 1 2
Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 31st August 2025 - 13:25
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.01372 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016