Моделирование поведения элементарных частиц, в электромагнитных полях Опции

[Yuri Potapoff]

Уважаемые господа!

Немецкая компания CST (www.cst.com) сообщила о выходе нового продукта
CST PARTICLE STUDIO, предназначенного для моделирования поведения
заряженных частиц в электромагнитных полях.

Первое представление продукта пройдет на международной конференции
Particle Accelerator Conference (PAC 2005), проходящей в Кноксвилле
(США) в период 16-20 мая 2005 года.



Продукт CST PARTICLE STUDIO (CST PS) может использоваться для
моделирования электронных пушек, высоковольтных ламп, магнетронов и
т.д. Пакет заменяет модули TS2/TS3 пакета CST MAFIA-4 и предоставляет
пользователям легкий и понятный графический интерфейс, а также
непревзойденные возможности интеграции, доступные в других продуктах
серии CST STUDIO, одним из которых является популярная система полного
трехмерного электродинамического моделирования объемных СВЧ структур
во временной области CST MICROWAVE STUDIO (CST MWS).

Доступная в настоящий момент бета версия включает следующие функции:

- Моделирование траекторий элементарных частиц в статическом магнитном
и электрическом полях с учетом эффекта объемного заряда.

- Различные модели эмиссии, например, Space-Charge Limited Emission.

- Тесная интеграция с системами механического проектирования через
интерфейсы импорта/экспорта STEP, SAT, CATIA-4, CATIA-5, Pro/E, DXF,
IGES и др.

- Мощные возможности построения 3D моделей

- Параметризация и автоматическая оптимизация

- Поддержка макроскриптов на языке VBA и технологии OLE (COM/DCOM)


Более подробная информация о продукте приведена по адресу:

http://www.mwstudio.ru

Более подробная информация о конференции PAC 2005 приведена по адресу:

http://www.sns.gov/pac05/

За любой дополнительной информацией просим обращаться по адресу
info@eltm.ru или телефону (095) 974-14-80