Уважаемые господа!
Компания Sigrity, ведущий разработчик программного обеспечения для
анализа SI и PI проблем анонсировала новую версию продукта XtractIM
v3.0, предназначенного для моделирования корпусов интегральных
микросхем. Благодаря своим быстродействию и точности, этот продукт
устанавливает новые стандарты для моделирования проблем целостности
сигналов при проектировании корпусов микросхем. Большинство
нововведений проверено на практике специалистами таких крупных
компаний, как Altera и Qualcomm.
В новую версию вошли следующие изменения:
- Метод практической оценки для сложных систем в корпусе (SiP) с
поддержкой одиночных бескорпусных кристаллов, позволяющий выявить
возможные проблемы выводов со стороны платы или кристалла.
- Новый инструментарий по оценке и отображению электрических
параметров цепей.
- Поддержка корпусов QFP, QFN и нового VQFP.
- Повышена точность анализа моделей переходных отверстий, контактных
площадок, проводников, односегментных RLGC и IBIS моделей и
многосегментных широкополосных моделей. Добавлена возможность
использовать эти модели при анализе на системном уровне во временной
области.
Полный текст пресс-релиза можно найти по адресу:
http://www.sigrity.com/company/news/Releas...actIM%203.0.pdfДополнительную информацию о продуктах Sigrity можно найти по адресу:
http://www.eurointech.ru/sigrityЗа любой дополнительной информацией просим обращаться по адресу
sales@eurointech.ru или телефону (495) 749-45-78 в компанию Евроинтех,
являющуюся официальным дистрибьютором программного обеспечения Sigrity
на территории России и стран СНГ.
Компания Sigrity анонсировала новую версию продукта XtractIM v3.0
Jul 23 2009, 07:51
