Цитата(AndreyVN @ Dec 25 2012, 21:41)

Скорее возрастать, в местах дефектов кристаллических решеток возникают очень сильные поля молекулярных масштабов.
Помимо неоднородностей, фотоэфект сильно будет зависеть от химической чистоты поверхности, причем непредсказуемым образом.
Я не специалист в этой области, но видел дефектоскопы (поверхность и скрытые дефекты) основанные на измерении неоднородности намагниченности.
Есть магнитопорошковые, есть вихретоковые. Но они подразумевают нахождения датчика вблизи поверхности
А как быть если лист подвешен на 2м и доступ к поверхности затруднен?
В физике я абсолютный чайник. Я не знаю что почем
Но думаю здесь надо использовать или лазер или какой-то луч и измерять отклик от поверхност
Внешний фотоэффект использовать похоже не удастся
Может фотоионизация один УФ луч создает канал проводимости к какой-то точке металлической поверхности на него один электрод
Второй сканирует на него второй электрод
Но по-моему тоже бред