Цитата(Torpeda @ Jan 18 2013, 11:06)

1) Что такое глюки по Вашему? как вы их увидели и поняли что что-то не так?
2) Прошивка должна быть скомпилена под конкретную ПЛИС. Нельзя менять тип ПЛИС и не перекомпиливать проект.
3) У Вас симуляция с реальными задержками есть?
Из своего опыта скажу - небыло такого чтобы ПЛИС работала не так как на симуляции с задержками. Смысла в "отладке на плате" не вижу.
4) У Вас STA констрейны как заданы? Тайминг виолейшины есть?
5) Может у Вас температура плату коробит и неконтакт пинов выходит?
6) Ну и на счёт тестирования блоков ПЛИС...
Производитель проводит тестирование с ~100% фолт кавереджем всех выпускаемых кристалов.
Убить его можна разве что нарушением технологии монтажа.
Ну....
Если есть правильные STA констрейны и проект перекомпилен без тайминг виолейшинов в другой кристал - не вижу проблем. Это-ж цифра......
смотрите, про перемаркированные кристаллы речь не идет, на них я почти ничего не делал, всмысле этого проекта (не собирал ни разу для них ничего, просто сказал о них, чтобы объяснить почему мы перепаиваем кристаллы, а платы разработаны именно для 195-х), поэтому тип кристалла я нигде не меняю, а с самого начала собираю под 195.
симуляция с реальными задержками есть. по результату все так же отрабатывает тест ( но так как проект большой, то слишком долгого теста не получается, всего пару пакетов, но в принципе процедура обработки каждого пакета одинакова ), то есть то что получается проверить в модели с задержками вроде проверяю.
а глюк был конкретно такой (правда уже писал) что FIR корка с типичными входными воздействиями выдает совершенно некорректные выходные. причем это появляется в случайные моменты (например, может работать несколько часов без сбоев, но при перезапуске может быстро выдать ошибки) на неработающей плате. соответственно на других платах ни разу такого не наблюдалось.
насчет временных констрейнов, можете сказать где почитать ? потому что я задаю период основного клока и честно говоря не понимаю на какие сигналы надо накладывать временные ограничения на такой скорости.
в пайке с большой вероятностью все в порядке, так как уже и кристалл после этого снимали, смотрели, все шарики как один пропаяны. седня еще на рентген отнесем.
в общем прошу помощи по STA констрейнам.
еще такой вопрос, когда проводится моделирование с реальными задержками, то нужно пытаться сравнить вэйвформы и из этого исходить в выставлении STA-констрейнов?
кстати начисто сожженная плиса, может распознаваться Boundary Scan'ом - замечательное зрелище) и даже шьется как то)
Цитата(Flood @ Jan 18 2013, 19:56)

С одной стороны, топикстартер перегружает тему лишними данными, с другой - комментаторы отвечают, не разобравшись в получившейся каше.
Из того, что я понял - есть плата, на которой был заменен чип. Плата - бу (перепайка БГА), чип - новый. Проект на такой плате не работает.
Самый простой вывод - есть проблемы с качеством платы, скорее всего с пайкой БГА.
С другой стороны - всего 3 экземпляра рабочих плат еще не показатель работоспособности проекта. Особенно если ПЛИС на них из одной партии, а на не рабочих платах - из другой.
Вопрос в сторону: правильно ли я понял, что у Вас были 130-ые, перемаркированные в 195 (иначе не понятна логика закупщика)? Как увидели перемаркирование?
Насчет битых кристаллов, по-моему, ухудшение временных характеристик не свойственно перегретым кристаллам. Из наиболее явных изменений у подбитого чипа должно наблюдаться изменение потребляемого тока.
согласен, я плохо описал тему, стараюсь исправиться)
правильно поняли насчет перемаркировки. увидели перемаркированные Impact'ом.
еще вопрос: до какой температуры надо нагреть чип при пайке (по даташиту 220 градусов), чтобы в нем что-то отгорело или попортилось?