Привет всем!!!
Подскажите пожалуйста методику расчета низшей резонансной частоты. Данная частота является критерием необходимости проведения испытаний по механике (вибрация, удары) по ГОСТ РВ 20.57.416-98. В ГОСТе приведены только экспериментальные методы. Тип изделия монолитная интегральная схема. Как бы понятно, что ее частота будет высокая, но хотелось бы подтвердить это расчетным методом.
Полная версия этой страницы: Определение низшей резонансной частоты
Если по проще, можно посмотреть здесь -
Талицкий Е.Н. Защита электронных средств от механических воздействий. Учебное пособие, Владимир, ВлГу, 2001 - 256с. (pdf –скачать)
http://ktes.vlsu.ru/fileadmin/templates/fi.../talickiy/3.pdf
По резонансным частотам пластин - раздел.3.3, страница 67 и далее...
По старой книге этого автора (с соавторами) в свое время сам изучал вопрос.
Но есть проблемка. На самом деле в простейших случаях закрепление рассматривается только по краям пластины (чипа?)
А она обычно всей плоскостью посажена в корпусе.
Скорее всего слабые места с точки зрения мех.воздействий будут места микросварки и сами проволочки.
PS Да! По устойчивости выводов - из тех учебников, что видел, больше всего это было рассотрено в книге -
Механические воздействия и защита радиоэлектронных средств
Авторы: Н.И. Каленкович, Е.П. Фастовец, Ю.В. Шамгин
Издательство: Вышэйшая школа
Год: 1989 ?
Талицкий Е.Н. Защита электронных средств от механических воздействий. Учебное пособие, Владимир, ВлГу, 2001 - 256с. (pdf –скачать)
http://ktes.vlsu.ru/fileadmin/templates/fi.../talickiy/3.pdf
По резонансным частотам пластин - раздел.3.3, страница 67 и далее...
По старой книге этого автора (с соавторами) в свое время сам изучал вопрос.
Но есть проблемка. На самом деле в простейших случаях закрепление рассматривается только по краям пластины (чипа?)
А она обычно всей плоскостью посажена в корпусе.
Скорее всего слабые места с точки зрения мех.воздействий будут места микросварки и сами проволочки.
PS Да! По устойчивости выводов - из тех учебников, что видел, больше всего это было рассотрено в книге -
Механические воздействия и защита радиоэлектронных средств
Авторы: Н.И. Каленкович, Е.П. Фастовец, Ю.В. Шамгин
Издательство: Вышэйшая школа
Год: 1989 ?
Спасибо, почитаю. Но в моем случае это GaAs МИС (кристалл), без разваренных перемычек. Габариты максимум 3*3*0,1 мм.
Цитата(oleg_uzh @ Feb 12 2014, 17:47) 
Спасибо, почитаю. Но в моем случае это GaAs МИС (кристалл), без разваренных перемычек. Габариты максимум 3*3*0,1 мм.
А в корпусе кристалл микропроволокой разваривается?
Цитата(fider @ Feb 13 2014, 06:49)
А в корпусе кристалл микропроволокой разваривается?
Не рассматривается тип испытания с разваренной проволокой. То, что проволока даст дополнительное ухудшение по механическим факторам, это понятно.
QUOTE (oleg_uzh @ Feb 13 2014, 10:42)
Не рассматривается тип испытания с разваренной проволокой. То, что проволока даст дополнительное ухудшение по механическим факторам, это понятно.
у меня при вибрации разрушалась проволока Нажмите для просмотра прикрепленного файла- но проблема не в самой проволоке а воздействии на ножку и уже ножка натягивает проволоку - резонанс проволоки за 20 кгц уходит как сняли нагрузку с ножки проволока перестала рваться - хотя милитари делают пайку на ножкеНажмите для просмотра прикрепленного файла вместо проволоки
можно считать резонанс в программах по механике - у нас пробовали в SolidWorks
на стенде частоты совпадали с расчетом
Для просмотра полной версии этой страницы, пожалуйста, пройдите по ссылке.