Может ли слететь прошивка в плис Альтера EPM3064 из за импульсных помех в питании?

Или по другим причинам.

По другим причинам - от жесткого ионизирующего излучения. А также по истечение срока хранения информации (не дождетесь).

От импульсной помехи по питанию, теоретически, такая возможность есть, если вдруг что-то там войдет в режим программирования, но для этого она должна быть катастрофической и запредельной, такой, от которой микросхема сама по себе может выйти из строя.

То есть ПЛИС по хранению данных надёжней микроконтроллера?

Естественно, так как в микроконтроллере есть код (программа), на который тот по ошибке залететь может, и который напакостит, а в ПЛИС это невозможно физически.

Помнится лет 10 назад приятель жаловался, что в их сварочном агрегате слетала прошивка у 3000-ника. И как вообще додумались на такое применение?...

И еще!... По опыту предыдущей работы наблюдал регулярную (примерно раз в пол-часа ...и до полусуток) перезаливку Циклона 3 в аппаратуре цифровой обработки радиотехнического комплекса. ОЗУ конфигурации на FPGA слетала? А что еще?

Классика - глитчи на конфиг. ногах, рестартующие перезагрузку (nCONFIG)

Я заметил, на kit_ах микроконтроллеров, любимое занятие программеров на кнопочку перезагрузки жать.



CPLD от Альтеры спалить по не знанию легко.

Тут о другом речь. После заливки время жизни системы может быть конечным. Видел применение супервизора на перезаливку FPGA, как способ борьбы с "забыванием". То, что я упоминал,- исключительно по командам оператора, вручную.

Ну тут все придумано давно самими производителями FPGA. Например "Soft error detection (SED)", и аналогичные, у каждого вендора свое название.

А в ПЛИС (epm3064) данные о конфигурации тоже ведь где то хранятся ?

Вот именно, данные, а не программа, которая может случайно выполниться из-за программного сбоя.

Без разницы как назвать, эти данные конфигурируют ПЛИС и она выполняет функционал описанный в этих данных.
Ошибка в одном бите - и что делает ПЛИС - непредсказуемо. Правда обычно есть контрольная сумма.




У нас регулярно с вероятностью 100% слетала флеш в радиоаппаратуре при приёме определённой комбинации - оказалась одна из катушек приёмника расположена над флешкой - перенесли катушку в сторону и эффект пропал.

Это называется незнание основ работы с флеш в микроконтроллере и отличий от работы с флеш в ПЛИС.

А они такие:

- И там, и там, есть некий автомат, стирающий/записывающий флеш. Он одинаково может испортить данное, если влетит в некорректное состояние от запредельной, убийственной помехи, или без автомата вообще, как Ваша катушка, наводящая на изолированные затворы ячеек (и/или каналы) адские потенциалы.

- В микроконтроллере, обычно, есть еще программа в ПЗУ, или в составе рабочего софта, которая совершенно официально занимается прошиванием флеши, для обеспечения функций программирования в системе. В ПЛИС такой программы нет - ПЛИС вообще, сама по себе, не умеет исполнять программ. Поэтому, в микроконтроллере возможен программный сбой, вызванный какой-то неадекватной ситуацией, но не убийственной, из-за которой слетит исполнение программы, и она по ошибке уйдет на алгоритм стирания/записи флеш. В ПЛИС такой сценарий невозможен.

Поэтому в среднестатистической ПЛИС значительно меньше шансов порчи флеши, чем в среднестатистическом МК.

Хм. Вставляем в FPGA встроенный софт-процессор и повторяем рассуждения.

От этого в ПЛИС не появится физической возможности переписать свою встроенную конфигурационную флеш изнутри себя.

PS. Очень хочу посмотреть на софт-процессор в EPM3064 вообще

А, речь про CPLD. Тогда да, пожалуй.

Да и в FPGA c флеш-памятью, например LatticeXP, LatticeXP2, MAX-V, и т.п. такой возможности нету. Там можно переписать user flash, TAG, т.п., но никак не конфигурацию.

такая возможность есть в LatticeXP2 - SSPIA порт/примитив, мы ей пользуемся, очень полезно.
по-моему и в MachXO2 тоже можно (ну из-за малого размера на практике снаружи должен быть какой-то контроллер, но теоретически возможно)

Спасибо, не знал

Но, все равно, в CPLD этой возможности нет.

В случае с моей катушкой - действительно происходила наводка команды на стирание и стиралась страница.

Но! Есть дисер Ферсенко М.В. из ЦНИРТИ, в котором показана аппаратура для уничтожения информации во флэш памяти путём облучения электромагнитным полем мощностью менее 1мкДж в течении 1мС. На эту тему им выполнен ряд НИОКР ещё 7 лет назад.

а принцип или какие-либо детали можете описать? а то и рентгеновское излучение, самое что ни на есть, электромагнитное поле

На защиту выносятся следующие научные положения:

1. Уничтожение информации на полупроводниковом носителе электромагнитным полем при энергиях импульса не менее 2,2-10—5 Дж с использованием туннельного пробоя без деструкции транзисторной структуры.

2. Использование магнитного поля с длительностью импульса более 1 мс, обеспечивает максимальную передачу энергии внутрь полупроводниковой структуры с учетом ослабления магнитного поля за счет скин-эффекта.

3. Разрушение транзистора за счет нагрева возможно даже при малых значениях электрического поля, при многократном импульсном облучении. Создаваемое электрическое поле, с величиной определяемой крутизной (или скоростью) вызывает изменение магнитного поля.

4. Учет и оптимизация конструкции устройства стирания информации на флеш носителе посредством многократного облучения электромагнитными импульсами обеспечивает надежное стирание информации без возможности ее восстановления.

5. Учет и оптимизация конструкции устройства стирания информации на флеш носителе посредством программного стирания информации непосредственно с микросхемы памяти с последующим воздействием на флеш носитель высоким напряжением обеспечивает надежное стирание информации без возможности ее восстановления.

6. Использование полеобразующей системы состоящей из шести жестко связанных контуров и оптимизация конструкции устройства стирания информации на флеш носителе посредством воздействия переменным магнитным полем обеспечивает надежное стирание информации без возможности ее восстановления.

7. Применение разработанных способов построения систем управления, регистрации и контроля технических характеристик прибора, обеспечивают высокую точность измерения параметров для надежного стирания информации.

8. Комбинация способов внешнего воздействия, оптимизированная и реализованная в макете прибора, обеспечивает гарантированное уничтожение информации с носителей, в основе которых лежат полупроводниковые элементы (флеш память).