Здравствуйте, уважаемые форумчане!

Возникла задача организовать входной контроль для небольшой партии микросхем в корпусе LGA133, шаг выводов - 1,27 мм. Микросхемы - аналоговые (вторичный источник питания). В перспективе возможно возникновение задач контроля микросхем в LGA-корпусах того же шага, но меньшего размера.
Рассматриваем вариант самостоятельного изготовления КПА (партия небольшая, ручной или полуавтоматичекий контроль вполне устроит), для чего нужны соответствующие панели (они считаются ZIF - Zero Insert Force? Или - можно подобное назвать "кроваткой"? В общем - панель с матрицей подпружиненных контактов). Подскажите пожалуйста компании, у которых их можно было бы приобрести или заказать изготовление.

Если кто-то встречался с подобной задачей - входной контроль небольших партий аналоговых ИМС в LGA-корпусах - какое решение Вы нашли? Использует ли кто-то "сильно автоматизированную" аппаратуру? Как она настраивается / программируется, сколько стоит, с каких объёмов имеет смысл рассматривать, такое решение?

Есть ли на рынке компании, предоставляющие такие услуги или доступ к оборудованию, на котором можно было бы проверить небольшую партию вторичных источников питания в корпусах LGA?

P. S. Помню, как на одной из московских выставок встречал компанию (из Санкт-Петербурга, но могу и ошибаться; точно - отечественные), реализующую стенды собственной разработки для автоматизированной проверки как ИМС, так и ПП. Несколько моделей стендов. Для ПП - размером с положенный на бок холодильник, да ещё и подвешенный качающимся на горизонтальной оси. И к своим стендам они продавали, соответственно, множество переходников под разные микросхемы и стандартные разъёмы ПП. По такому описанию кто-то может подсказать, о какой компании идёт речь? Рекламный проспект их, к сожалению, не сохранился.

ZIF панельки под LGA есть у 3M.

http://www.e-tec.ch

про систему тестирования - вы случайно не про них? http://www.sovtest.ru/equipment/ft-17hf/

Благодарю за ответы!

Да, это именно то, что искал.

А по поводу организации входного контроля микросхем в целом - поделится кто опытом?