Цитата(Stefan1 @ Jul 28 2016, 08:17)

Спасибо. В начале темы вы говорите о потерях из-за поляризации, это и вызвало недоумение. В статье же идет речь совсем о другом, а именно, о потерях, связанных с
наведенными вихревыми токами (токи Фуко), возникающими в объеме полупроводника под действием СВЧ.
Поляризация присходит в диэлектриках, но никак не в монокристаллических (и тем более сильнолегированных) полупроводниках (рекомендую старый но хороший учебник для ВУЗов
Фрелих Г. Теория диэлектриков). Исключения: собственные неорганичекие полупроводниковые материалы при низких температурах или, как упомянул выше
saab, органические полупроводники с малой подвижностью носителей заряда.
Судя по тому, что в конце статьи приводится в пример именно сильнолегированный ПП, то описываемые процессы вполне актуальны, что не удивительно, ведь токи Фуко - классическое явление для любой металлической поверхности. Тем не менее, в статье речь идет о несколько ином эксперименте: модель проволоки над ПП кристалом, обсуждаются потери, связанные с близостью и геометрией этой проволоки к кристаллу полупроводникового материала. Тема актуальная для комбинированных СВЧ устройств и схем (см комметарий saab про бондинг и пр).
У вас же просто МОП конденсатор, на который подается переменной напряжение. Мне, если честно, не до конца понятно, что именно вы хотите определить. Однако я и не специалист в СВЧ, так что не обессудьте.
Как уже упоминалось выше, рассматривайте ваш объект как обычный плоский конденсатор: SiO2 плоскость с металлическими обладками.