Доброго времени суток .

Занимаюсь вопрсами ускоренных испытаний МИС (в частности определением "энергии активации" и зависимости температуры от MTTF) .

Крайне необходимы два документа (№ 1-ин в списке на мой взгляд более важен) :

1) РД 11 0755-90 Микросхемы интегральные. Методы ускоренных испытаний на безотказность и долговечность. РНИИ "Электронстандарт".

2) ОСТ 11 336.938-83 Приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность и долговечность.


Буду очень благодарен если со мной поделяться .

Добрый день! Есть РД. Напишите в личку.

Не знаю по какой причине но мне на форуме запрещено пользоваться личными сообщениями .

Посему вличку написать Вам не могу (но вроде с форума на ваш электронный ящик письмо отправить получилось) .

п.1 есть тут