Имеется сдвоенный операционный усилитель, например, 1491УД1.
Я для себя представляю ситуацию следующим образом:

• оба ОУ расположены на одной подложке (следовательно, были на пластине соседними) и изготовлены в одном техпроцессе;
• перед разделением путём зондового контроля на пластине лазером подогнаны балансировочные сопротивления на каждом из ОУ.

Следует ли ожидать стохастический связи между неопределёнными параметрами в паре ОУ:

• знака и модуля температурного дрейфа напряжения смещения;
• знака и модуля разности входных токов;
• знака и модуля среднего входного тока;
• знака и модуля температурного коэффициента входного тока;
• коэффициента усиления?

Следует всегда следовать официальным бумагам, а там ни о каких таких корреляциях никогда ничего не было. Кристалл у сдвоенного ОУ один — Вы бы об этом знали, если бы проявили реальный интерес к данной теме и изучили бы данный конкретный экземпляр, для которого производителем представлена функциональная схема, на которой отчётливо видна общая для двух каналов цепь смещения. И калибруют всегда схему в целом, а калибровать отдельно ОУ петрушкина работа.

Насколько понимаю причину разности входных токов - это различие входных цепей прямого и инверсного входов в одном ОУ. С чего бы это различие должно повториться в соседнем ОУ, если не смогли сделать одинаковыми 2 соседних транзистора?

Технические условия вообще отличаются малой информативностью. Если в обосновании отталкиваться строго от них, то из перечня МНИИРИП нельзя собрать вообще ничего. Как правило, единственными вероятностными параметрами изделий электронной техники являются показатели надёжности. Всё остальное дано в форме только доверительного интервала, зачастую одностороннего.


Так бы и сказали, мол, вскройте или позвоните на «Восход». Уже позвонил. Нет стахостической связи. Вообще никакой связи нет.


Уверены? А то у 1491УД1 даже питание у каждого канала своё.


Что сказать-то хотели? И зачем?



Да, согласен, моя невнимательность.

Ну по поводу всех этих параметров. Я бы с удовольствием посмотрел бы на схемы измерения, как они проводились в целом.
А то знаю я тут один ОСТ на измерения в котором такая бурда написана, где измерения тока проводятся там где он никому не нужен, но по заявлениям этот ток крайне важен =)

Я микросхему не видел и не разбирал, но там есть надпись(по другому документ не назову...ни одного графика...AD молча курят в сторонке) "2 канала аналогичных по характеристикам 140УД25 в одном корпусе"
сколько у нас стоит запуск микросхемы? =) И Вы реально думаете, что ни взяли топологию 140УД25 отразили повернули и отправили ее на производство? =) Крайне сомнительная вещь. Какие там цепи смещения общие...ничего не вижу =)

НО! Если у кого-то есть фотка без крышки этой микросхемы, то пожалуйста в студию! Ну или на почту скиньте esdn@ya.ru

Если они на одной подложке, то параметры должны быть -+ крайне идентичными (говорю про микросхемы выпущенные на XFAB). Ну так же вопрос размеров важен, на сколько могуч этот ОУ. =) А если там 2 кристалла слеплены в одном корпусе, то не знаю даже =)

Но в любом случае, температурные параметры там вероятно будут разными, так как уход параметров источника тока по Монте-Карло никто не отменял. На счет усиления, усиление будет так же зависеть от gm входного каскада, оно так же по Монте-Карло будет уходить. Так перемешивание между ОУ отсутствуют. Если Вы хотите делать какую-то точную систему, в которых 2 ОУ должны работать синхронно, то так не выйдет думаю (смотря какая у Вас точность). А как Вы его хотите применить?

Метод Монте-Карло — это численный способ воспроизведения симулятором семейства реализаций сложного процесса (следствия) с использованием свойств вероятностей его причин, т. о. возможно оценить свойства вероятностей сложного следствия со случайными причинами. В данном случае информативно было бы не указывать на общий метод оценки, а охарактеризовать свойства вероятностей. Я полагаю, что рассчитывать стоит на нормальное распределение, а доверительными интервалами, указанными в ТУ, пользоваться как трёхсигменными. Поправьте, если я не прав.