Собственно тема в заголовке.
Кто как мерит эффективный эпсилон ( или эпсилон для проектов), статьи и все такое,только приветствуются в.ч для V диапазона.

Видел как измеряется диэл. проницаемость диэлектриков при изготовлении рсв ламинатов на производстве.
Изготовленный ламинат обязательно двухсторонний, измеряется емкость и площадь.

C= Ɛr*Ɛo*S/d
Где:
εr — диэлектрическая проницаемость изолятора между обкладками,
εо — электрическая постоянная,
S — площадь поверхности обкладок конденсатора,
d — промежуток между обкладками.
Может и другая формула, могу уточнить.

А так чтобы кошмары ночью замучали МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ
ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИ ПРОНИЦАЕМОСТЕ ВЕЩЕСТВ
СВЕРХВЫСОКИ ЧАСТОТА
В. Д. Шеетопалов и if. П. Яцук

Это всё-таки не эффективная величина получается. Для этого случая более точные формулы в ГОСТ 22372-77 с использованием топологии, учитывающей краевую емкость. Хотя и так можно для оценки.
А эффективную можно попробовать оценить резонансным способом, если иметь отрезок линии, связанный зазорами с запитывающими линиями, чтобы обеспечить максимальную однородность. На краях линии будет укорачивающая емкость, ее надо как-то учесть. Сослаться не могу на что-то конкретное, но что-то видел подобное в живую.

А вобще в ГОСТ е фигурирует метод разности фаз?
Скорее этот метод любопытен.

Нет конечно. Это измерение через емкость, как привел MW_Юрий, только с уточнениями и, так сказать, стандартизированно. И то, для низких частот с точки зрения СВЧ-иста. Посмотрите сами. Это не Ваш вариант. Только как оценка для каких-то случаев.
Насчет метода разности фаз, наверное тоже надо иметь "чистый" отрезок линии - без переходов и других неоднородностей. Как это сделать - другой вопрос. Возможно, собственным калибровочным набором из подобных линий разной длины. Иначе не ясно, какой вклад в эффективную эпсилон будут давать емкости неоднородностей.

Про фазовый метод были статьи у CST, можно поискать на их сайте. На сколько помню, у них есть даже специальный макрос встроенный для этого.

Такого четкого макроса в ЦэЭсТэ нет.Ну разве если самому написать.Есть синтез импеданса микрополоскаи выхлоп в 3D.Что тоже не плохо.

Нашел тот вебинар, называется Modeling Material Properties based on Measured Data. Можно посмотреть на сайте CST. Надеюсь, поможет.

Если на просвет то что то типа http://www.swissto12.com/products/MCK/ или на резонаторах фабри-перо если поглощение в материале слишком мало.
Читать можно это https://cdn.rohde-schwarz.com/pws/dl_downlo...7-0019_1_5E.pdf но там более низкие частоты в основном.

Мдяя.И у Хьюлет
Пакарт есть .

Только надо всегда помнить об анизотропии материалов. Особенно монокристаллических или слоистых. Т.е для адекватных результатов надо измерять епсилонон по направлению ( тензор диэлектрической проницаемости).

мне кажется, или у вас настолько "затюненная" структура, что вы, вместо того, чтобы предусмотреть допуски и настроечную часть, начинаете валить все косяки на производителя ПП и эпсилон?

Да именно-вам кажется.Даже не представляю что именно. The story is about substrat broadband determination DK and ideally Df also.Nothing else.

Для высокоточных измерений метод разности фаз ( задержек) для набора полосковых линий различной длины недостаточно точен- начинает влиять неточность измерения длины измерительной линии, потери в разьемах ( у каждой линии свой комплект)
Обычно применяют наборы тестовых структур типа как на рисунке- с кольцевыми резонаторами. Тогда сразу получаем набор значений на разных частотах и по ним интерполируем график.
Нажмите для просмотра прикрепленного файла

А пробовали?Да хотя бы и не точно ( и сколько это 5-10-20% ?)

Я на микрстрипах на вейфре измерял, типа как тут http://anlage.umd.edu/Microwave%20Measurem...cterisation.pdf
Неточность посадки трехконтактных микрощупов не позволила получить дисперсию епсилона в диапазоне частот- ошибка была сравнима с изменением диэлектрической проницаемости. На микрорезонаторах все получилось намного лучше. Ошибки- единицы процентов, но дисперсия епсилон- тоже.

Ясно.