Кто пользовался Boundary Scan для тестирования устройств на ПЛИС? Пожалуйста, поделитесь опытом.

Я пробовал trial версию Universal Scan. Работает и вроде даже нечего, но
для комплексного тестирования, мне кажется, что не подойдет. В обшем
можно посмотреть/поменять состояние отдельных контактов. Если, например,
мне нужен комплексный тест довольно сложной платы, на которой стоит пять
BGA-шек сильно связанных между собой, микросхемы памяти и т.д. и все это завязано по JTAG, для такого теста видимо нужно писать что-то свое.

Для таких вещей подойдет какой-нибудь более серьезный JTAG пакет, чем Universal Scan. Например, от Asset. В нем присутствует функция автоматического построения тестов для проверки соединений путем импорта схемы.

Правда, учитывая стоимость таких пакетов, для небольших серий проще написать свой софт.

А вот тут поподробнее пожалуйста... *))) Что за пакет от Asset?

Asset Scanworks http://www.asset-intertech.com/scanworks.html

У программы UniverslScan есть режим записи SVF файлов и затем их можно проиграть. Таким образом можно вручную проити тесты, а потом запускать их проигрывать.
см статьи у меня на iosifk.narod.ru

Но я писал свою программу.
она делала проверку цепи JTAG-тестирования, определяла число чипов, далее программе скармливались таблица цепей, и таблицы паттернов.

И еще учтите стандарт выводов у незагруженного чипа.
Удачи.

Мы используем для тестирования контроллеры Boundary Scan фирмы GOEPEL www.goepel.com, соответственно и их программное обеспечение CASCON.
Что касается программного обеспечения, то довольно удобный пакет для автоматической генерации тестовых программ из CAD-файлов, но конечно и руками поправлять тоже приходится.