На странице http://www.caxapa.ru/lib/emc_immunity.html имеется схема защиты устройства, содержащего оптрон, от наносекундных помех (резистор к микроконтроллеру). А будет ли проходить наносекундные помехи не ччерез оптрон, а через обычный индикаторный светодиод? Кто-нибудь сталкивался с тем, что помехи проходили через светодиод на передней панели и приходилось вводить резисторы и т.д.?

а вы их глазами увидите?

тут видится два решения:
1. Их все равно не видно.
2. Что бы спалось спокойнее, можно и поставить RC цепь

Кто-нибудь сталкивался с тем, что помехи проходили через светодиод на передней панели и приходилось вводить резисторы и т.д.?
[/quote]
Более чем проходят. У наших российских светодиодов выводы иногда выходят на поверхность корпуса. Если пластмасса светодиода касается металлического корпуса изделия, беды не миновать. Тоже присутствует в семисегментных индикаторах.

Вы сначала определитесь, куда помехи подаются, в какую цепь?
В той статье рассматривался случай внешних линий ввода с гальванической развязкой. По схеме испытаний наносенкудные помехи подаются в кабель, подключенный к этим цепям, через емкостные клещи связи. А у вас тут просто светодиод на передней панели. Куда вы будете прикладывать помеху? Гипнотически смотря в его красный глаз?

===Вы сначала определитесь, куда помехи подаются, в какую цепь?===

Судя по второму посту ===Если пластмасса светодиода касается металлического корпуса изделия==, то помеха может проходить по корпусу изделия от грязной земли и далее через емкость пластмассы на кристалл светодиода, затем в контроллер (если нет резистора). В оптроне ведь связь с грязной землей тоже емкостная.
Так ведь, Kalimusk?

Чушь какая. Если у вас такая помеха ходит по грязной земле, там возможно найдутся более легкие пути прохождения оной помехи.
Наносекудны из ниоткуда не берутся в устройстве. Они приходять из кабелей. Вот и прикладывайте помех к кабелям, которые в устройство приходят, и анализируйте, как они могут проходить (через какие цепи) и на что влиять.

Легко представить. Стою (сижу) весь наэлектризованный и тыкаю пальцем в светодиодный индикатор на передней панели прибора. при первом касании проскочит искра между пальцем и панелью. сколько там нс и кВ не знаю, ИМХО если светодиод просто через резик подключен к выходу МК то галюны ему гарантированы.

Наносекундные помехи и киловольты-- это разные проверки.
на киловольты таким большим пистолетом (можно сказать шокером, но аттестованным) делают разряд на корпус и по всем металлическим выступающим частям.
Был случай. Красивая китайская кнопка с надписью 220V испытаний не выдержала.
через нее пролазило и сбрасывало процессор.
Но если светодиодное табло закрыто прозрачной крышкой--- должно выдержать

Вы путаете наносекундные помехи с электростатическим разрядом.
От ЭСР, к сожалению, последовательный резистор в цепи не помогает.
Если у вас панель не пластиковая, то разряд произойдет на панель.
Ток разряда будет растекаться в рависимости от конструктивного исполнения
панели, наличия хорошей малоиндуктивной связи с контуром заземления.
Результат может быть как самый плачевный для схемы вцелом, так и влияния
этого ЭСР можно вообще не заметить. И не в количестве резисторов тут счастье.

Вы это сами ЛИЧНО на практике проверяли? Или это просто так? Теоритические предположения?

Согласен, источники возникновения и пути проникновения у них разные,
ИМХО но после того как помеха попала в схему они будут соизмеримы.

С металлической качественно (до 10 нГ) заземленной на грязную землю панелью проблем не должно быть, даже на испытаниях искрой.
На наносекундные испытания едва ли повлияет прохождение через светодиоды. Если все же да (мало ли) - емкость шунтирующая светодиод, может помочь...но с таким трудно встретиться...
Вот если панель пластмассовая, то для искры коротким путем будет - до ножек светодиода...тогда все - туши свет, сливай масло...Сапрессор не поможет - диод ведь не на грязной земле сидит, как правило... Однако если прикрыть все прозрачной пластиковой пластиной - может, просто разряда не будет и тогда ничего....

PS эксперименты проводили искрой до 16 кВ, наносекунды - до 4 кВ...

Что конкретно не проверял?
Нарисуйте схему и точку приложения ЭСР.



Пожалуйста, не распростаняйте свои заблуждения среди других участников форума.
Или по крайней мере поясняйте, что и с чем соизмеримо будет.
ЭСР и наносекунды разные вещи, и те и те достаточно противны, . Но бороться с ними можно.
С ЭСР лучше бороться конструктивно, лучше вообще не давать попадать им в схему (имполнением корпуса). Но если уж они попали, то рассматривать их нужно для определенных входных цепей.
Метод гашения - быстродейстующие варисторы и TVS с малоиндуктивными выводами для тех цепей, для которых предполагается попадание ЭСР.
С наносекуднами борются фильтрами на цепях питания и ввода-вывода, к котороым подключаются кабели.
Касательно исходного вопроса - та статья, правильная. Но и применять ее нужно правильно.
Если в рамках той статьи шарахнуть на вход IO ЭСР разряд, то как только напряжение достигнет значения напряжения пробоя для воздушных промежутков, то искра пролетит поверх, и никакими резисторами или оптронами тут не поможешь. А если пробоя не будет, то и тока разряда не будет протекать, и всё будет достаточно стабильно себя вести.

а фильтры на наносекундные помехи у Вас какие то особенные? не быстродействующие варисторы, не TVS с малоиндуктивными выводами?

На цепях питания например - от Epcos, серии Sifi B
А если касательно цепей ввода-вывода, то - статья, на которую была ссылка в первом посте, там вообще фильтров как таковых нет, просто помеха пропускается по цепям, где она не может нанести вреда. Если касается интерфейсных дел, то применяются драйвера со встроенной ESD защитой, ну и внешние цепи. Общей рекомендации нет, в каждом конкртеном случае нужно анализировать схему.

Вопрос: Например сигнальная цепь выходит на наружный разъем прибора. на ней помеха.
помеху создает разрядник или генератор нс помех.
Сможете Вы опознать ее происхождение только по осцилограмме в данной цепи?
предполагаем что
1. Вы не знаете подключен кабель или нет
2. разрядник и генератор нс помех сертифицированны

Наносекундные импульсы (EFT) и статические разряды (ESD) имеют разную форму и параметры импульсов. Но, как правило, устройства их подавления (фильтры, TVS-диоды итп) ослабляют и то, и то. Но, например, для более эффективного подавления ESD в общем случае нужны TVS-диоды с меньшей ёмкостью pn-перехода. Но, как уже верно сказали, конструктив устройства, разводка платы, земли, экраны зачастую влияют на подавление помех больше, чем фильтры и сапрессоры (например, если индуктивность соединения анода TVS-диода с заземлением велика, то эффект от этого сапрессора будет минимальным).

Возможно Вы это знаете, но на всякий случай напомню, что и EFT, и ESD являются common-mode помехами, т.е. распространяются между устройством (включая кабели) и "реальной" землёй. Кстати, отсюда следует использование common-mode choke для подавления EFT.

Рекомендую почитать Генри Отта (Ott), Дж.Барнса, да и другие полезные материалы есть.

Я не совсем понял смысл вопроса, но с тем, что написал cioma выше согдасен полностью.

спрошу еще раз
Вы сможете отличить ЭСР от нС помехи на одном и том же входе(выходе) одного и того же устройства? допустим что устройство удачно сконструировано и ничего не выгорает и не глючит.
в каких конкретно параметрах импульса приведенного к входу(выходу) там разница? фронты, длительности, напряжения, токи?

Именно длительность переднего фронта, амплитуда напряжения холостого хода и тока короткого замыкания, длительность импульса. Для EFT эти импульсы подаются пачками.

Для начала я бы глянул вот это, основные аспекты станут понятны:
http://www.caxapa.ru/lib/emc_immunity.html
http://www.ramayes.com/EMC_Test_Specificat...C_61000-4-2.htm
http://www.ramayes.com/EMC_Test_Specificat...C_61000-4-4.htm
http://www.teseq.com/com/en/news_events/sp...rts.php?navid=5

Думаю, отличить ЭСР от нС помехи на одном и том же входе(выходе) одного и того же устройства можно, вопрос как это дело измерить, т.к. паразитные параметры, например осциллографа, да и само наличие человека в непосредственной близости сведут чистоту эксперимента на нет (я говорю о реальных условиях на столе разработчика, у которого нет осцилла за 50k EUR )

ЭСР - фактически импульс тока, возникающего при разряде. Характеризуется очень крутым передним фронтом, порядка 1 нс. Помеха от ЭСР может влиять на схему через ток, протекающий по цепям стекания заряда на землю. Может влиять как наводка в соседних цепях от протекающего тока разряда, поскольку ток разряда в пике может достигать 40А.
Наносеки (или EFT) - импульсы напряжения определенной амплитуды, фронт - 5 нс. Идут как правило пачками. За счет короткого фронта лезут через паразитные емкости по разным цепям схемы.
Вот Surge - это вообще песня, энергии дофига, но фронты пологие, никуда скрыто не лезут, ломятся просто напролом, такие предсказуемые, люблю их...

Даааа, я surge тоже люблю (в хорошем смысле этого слова ), газоразрядники, варисторы...
И, как было верно подмечено - намного более предсказуемы. Но если эта бяка пролезет через защиту, то всё - туши свет, сливай масло и суши весла .

А наиболее интересно когда надо защититься от всех этих помех + свои излучаемые и кондуктивные помехи свести в минимум + еще какие-нибудт специфические требования по шумам (при точных измерениях, например).

Гм. Я всегда считал, что собственная емкость перехода играет только положительную роль - как дополнительный фильтр нижних частот, состоящий из сопротивления (R и L подводящей цепи в сочетании с Cперехода). Конечно, при правильной топологии - минимальной индуктивности выводов диода. Или я не прав?

Опс, верно подметили, ошибся я в причинно-следственных связях

Попробую исправить:

- для наилучшего подавления ESD нужны компоненты с минимальным временем срабатывания;

- следует учитывать влияние емкости сапрессоров на качество сигнала. Это особенно актуально для высокоскоростных интерфейсов (USB, Ethernet итп) где следует применять компоненты с минимизированной собственной емкостью.