Помощь - Поиск - Пользователи - Календарь
Полная версия этой страницы: Форсированные испытания
Форум разработчиков электроники ELECTRONIX.ru > Сборка РЭУ > Вопросы надежности и испытаний
Denisnovel
Всем доброго времени суток. Пишу диплом. В качестве исследовательской части у меня испытания на надежность, в частности форсированные испытания. Возник вопрос: Как определяется коэффициент подобия? Если есть ссылки на какие нибудь материалы дайте пожалуйста. help.gif
WALER
Цитата(Denisnovel @ Jun 12 2008, 01:20) *
Всем доброго времени суток. Пишу диплом. В качестве исследовательской части у меня испытания на надежность, в частности форсированные испытания. Возник вопрос: Как определяется коэффициент подобия? Если есть ссылки на какие нибудь материалы дайте пожалуйста. help.gif

Может коэффициент ускорения?Методика ускоренных испытаний есть в ГОСТ В 20.57.304-76(98).
Denisnovel
Может есть у кого следующие документы в электронном виде.
1 РМ 11 0008-84 Изделия электронной техники. Методы ускоренных испытаний на долговечность и гамма-процентный ресурс. Общие требования
2 ОСТ 11 094.039-79 Методы ускоренной оценки гамма-процентного ресурса
3 РД 11 0755-90 Микросхемы интегральные. Методы ускоренных испытаний на безотказность и долговечность
Gennadiy_1
Цитата(Denisnovel @ Jun 12 2008, 02:20) *
Всем доброго времени суток. Пишу диплом. В качестве исследовательской части у меня испытания на надежность, в частности форсированные испытания. Возник вопрос: Как определяется коэффициент подобия? Если есть ссылки на какие нибудь материалы дайте пожалуйста. help.gif


Уточните: речь идет об форсированных испытаниях ЭРИ или РЭА?
Для РЭА могу посоветовать РД В 319.01.11-98 "Типовые методики ускоренных испытаний на безотказность и долговечность".
Для ЭРИ существуют ряд ОСТ по классам изделий.
Для интегральных микросхем - РД 11 0755-90.
Для полупроводниковых приборов - ОСТ 11 336.938-83 и т.д.
Denisnovel
интересует именно испытание аппаратуры. Може у вас есть эти документы
Tem@
Цитата(Gennadiy_1 @ Jun 14 2008, 15:29) *
Уточните: речь идет об форсированных испытаниях ЭРИ или РЭА?
Для РЭА могу посоветовать РД В 319.01.11-98 "Типовые методики ускоренных испытаний на безотказность и долговечность".
Для ЭРИ существуют ряд ОСТ по классам изделий.
Для интегральных микросхем - РД 11 0755-90.
Для полупроводниковых приборов - ОСТ 11 336.938-83 и т.д.


Сейчас занимаюсь ускоренными испытаниями.
Очень интерестно было бы взглянуть на РД В 319.01.11-98. Если есть у кого очень прошу дать для ознакомления.
Ильдус
Цитата(Tem@ @ Oct 16 2008, 16:47) *
Очень интерестно было бы взглянуть на РД В 319.01.11-98. Если есть у кого очень прошу дать для ознакомления.


Пожалуйста Нажмите для просмотра прикрепленного файла
WALER
Цитата(Ильдус @ Oct 17 2008, 22:57) *


Ильдус-большое спасибо за РДВ -очень полезнная вещь!
Tem@
Цитата(Ильдус @ Oct 17 2008, 22:57) *


Спасибо вещь действительно ценная
Для просмотра полной версии этой страницы, пожалуйста, пройдите по ссылке.
Invision Power Board © 2001-2025 Invision Power Services, Inc.