Всем доброго времени суток. Пишу диплом. В качестве исследовательской части у меня испытания на надежность, в частности форсированные испытания. Возник вопрос: Как определяется коэффициент подобия? Если есть ссылки на какие нибудь материалы дайте пожалуйста.

Может коэффициент ускорения?Методика ускоренных испытаний есть в ГОСТ В 20.57.304-76(98).

Может есть у кого следующие документы в электронном виде.
1 РМ 11 0008-84 Изделия электронной техники. Методы ускоренных испытаний на долговечность и гамма-процентный ресурс. Общие требования
2 ОСТ 11 094.039-79 Методы ускоренной оценки гамма-процентного ресурса
3 РД 11 0755-90 Микросхемы интегральные. Методы ускоренных испытаний на безотказность и долговечность

Уточните: речь идет об форсированных испытаниях ЭРИ или РЭА?
Для РЭА могу посоветовать РД В 319.01.11-98 "Типовые методики ускоренных испытаний на безотказность и долговечность".
Для ЭРИ существуют ряд ОСТ по классам изделий.
Для интегральных микросхем - РД 11 0755-90.
Для полупроводниковых приборов - ОСТ 11 336.938-83 и т.д.

интересует именно испытание аппаратуры. Може у вас есть эти документы

Сейчас занимаюсь ускоренными испытаниями.
Очень интерестно было бы взглянуть на РД В 319.01.11-98. Если есть у кого очень прошу дать для ознакомления.

Пожалуйста Нажмите для просмотра прикрепленного файла

Ильдус-большое спасибо за РДВ -очень полезнная вещь!

Спасибо вещь действительно ценная