Возник вопрос по нахождению leakage power для характеризации библиотеки стандартных цифровых селов!
Вроде все просто: dc анализ, или transient ко времени, чтобы все успело устаканиться. Берем ток питающего источника и умножаем на напряжение. Так как величина тока вообщем то зависит от состояний на входах ячейки имеем 2^n (n-количество входов) различных значений.
В .lib файле указано только одно значение leakage power, и нет информации при каких состояниях на входах оно было вычислено... Это среднее значение из всех полученных, максимальное, а может, какая другая статистика была применена в данном случае?
К сожалению, даже нахождение leakage power для инвертора не смогло ответить на этот вопрос: одно из значений привысило другое в разы!
В многовходовых ячейках почти всегда существует значение в разы превышающее все остальные. В .lib файле с которым мы сверяемся, указанное значение ближе к минимальному из полученных, но это, вроде, не совсем логично, так как рассматривается наихудший случай с точки зрения характеризации.
Кто что может сказать по этому поводу?
Спасибо!