Стоит задача протестировать микросхему NAND-флешь на серийно выпускаемом устройстве.
Устройство работает на ucLinux, флеш NAND512W3AOAN6, с файловой системой YAFFS.
Столкнулся с тем, что при работе, некоторые микросхемы полностью покрываются BAD-секторами.

Сейчас тестирую таким образом:
1) создаётся файл.
2) в файл записывается 1МБ данных.
3) в позицию P1 файла пишется S1, байт.
4) из позиции P2 файла читается S2, байт.
5) goto 3.
Числа P1, P2, S1, S2 - случайные.

Попалась такая микросхема, которая при работе покрывается bad-секторами, а при тестировании - нет.
В чем может быть мой просчёт?
Как построить алгоритм теста, чтобы он максимально эффективно выявлял проблемные NAND-флешь?