Всем привет. интересует Highly Accelerated Life Test(HALT). есть ли у кого методики или литература по этому типу теста

В общем виде, тест основан на уравнении Аррениуса,
где устанавливается зависимость скорости химической реакции от температуры.

Конкретные методики есть ноу-хау, но в инете может найти у крупных поставщиков.
Привожу пример от Xilinx.

Я писал дисер на тему старения кварцевых резонаторов, там ускорение с помощью температуры тоже используется, однако результаты методики не идентичны старению при рабочих условиях.
В уравнении Аррениуса присутствует энергия активации, эти цифры для каждого соединения свои - таким образом характерные кривые старения на разных температурах определяются выходом различных соединений.
В общем температурным ускорением можно получить только качественные оценки старения, но не количественные.