реклама на сайте
подробности

 
 
> Как проверить временные характеристики ПЛИС?
ISK
сообщение Oct 2 2013, 09:05
Сообщение #1


Участник
*

Группа: Свой
Сообщений: 59
Регистрация: 9-06-05
Из: Киев
Пользователь №: 5 857



Есть проект на альтеровских FPGA. Выпустили 10 плат, проверили, всё работает. Через время закупили новую партию микросхем, сделали новые платы, и в некоторых проявились проблемы. Разные платы по-разному подглючивают. Есть подозрение на времянку. Возник вопрос, можно ли как-то проверить, отличается ли быстродействие микросхем одной партии от другой? Может уже кто-нибудь делал подобное? Скажем, подавать на вход импульс, и замерять задержку на выходе? Хотя хотелось бы это как-то делать это программно.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
 
Start new topic
Ответов (1 - 4)
litv
сообщение Oct 2 2013, 10:18
Сообщение #2


Местный
***

Группа: Свой
Сообщений: 401
Регистрация: 6-10-04
Из: Воронеж
Пользователь №: 806



Надо овладеть синхронным проектированием и заданием грамотных констрейнс .
При таких же вопросах проблема была не в ПЛИС вообще - прочтите http://electronix.ru/forum/index.php?showt...=109546&hl= .
ПЛИС можно не тестировать.

Go to the top of the page
 
+Quote Post
ISK
сообщение Oct 2 2013, 11:12
Сообщение #3


Участник
*

Группа: Свой
Сообщений: 59
Регистрация: 9-06-05
Из: Киев
Пользователь №: 5 857



Цитата(litv @ Oct 2 2013, 13:18) *
ПЛИС можно не тестировать.

Ну а если всё-таки потестировать? Я тоже не исключаю проблемы с констрейнами и даже догадываюсь где именно. Но меня интересует сам факт, можно ли как-то увидеть, есть ли разница (хоть минимальная) во временных характеристиках разных кристаллов?
Go to the top of the page
 
+Quote Post
Bad0512
сообщение Oct 2 2013, 11:23
Сообщение #4


Знающий
****

Группа: Свой
Сообщений: 802
Регистрация: 11-05-07
Из: Томск
Пользователь №: 27 650



Цитата(ISK @ Oct 2 2013, 18:12) *
Ну а если всё-таки потестировать? Я тоже не исключаю проблемы с констрейнами и даже догадываюсь где именно. Но меня интересует сам факт, можно ли как-то увидеть, есть ли разница (хоть минимальная) во временных характеристиках разных кристаллов?

Если чипы из обеих партий одного и того же спидгрейда, то это означает лишь то, что временные характеристики их будут _НЕ_ХУЖЕ_ заявленных в даташитах во всём рабочем диапазоне температур.
Но вполне могут оказаться и лучше. Насколько лучше - не регламентируется.Потому что это абсолютно неважно в случае синхронного дизайна.
Измерять эти характеристики вряд ли имеет смысл, кроме того сама методика измерений - вопрос нетривиальный.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
yes
сообщение Oct 2 2013, 11:27
Сообщение #5


Гуру
******

Группа: Свой
Сообщений: 2 198
Регистрация: 23-12-04
Пользователь №: 1 640



если квартус (STA) говорит, что временные констрейны удовлетворены, то значит они удовлетворены для любого кристалла из любой партии - это гарантирует альтера (они берут параметры самого плохого кристалла в самых плохих условиях)

тема действительно не раз поднималась, скорее всего - пока была маленькая партия и маленькое время наработки ошибок не было, а как пошла статистика, то и вскрылись ошибки, то есть скорее всего дизайн с ошибками

кроме "синхронный дизайн + констрейны" можно еще посмотреть синхронизацию тактовых доменов, если есть

ну и еще (гипотетически) перемаркированные ПЛИС - то есть хитрые китайцы поставили спидгрейд выше, чем в реальности - соберите проект для самого медленного спидгрейта
опять же - теоретически возможно сделать тестовый дизайн, который позволит (на достаточно большой статистике) определить спидгрейд, но это целый НИР и на практике я никогда такого не делал (интересно - есть ли кто-нибудь, кто делал?)
Go to the top of the page
 
+Quote Post

Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 18th July 2025 - 00:32
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.01453 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016