реклама на сайте
подробности

 
 
2 страниц V  < 1 2  
Reply to this topicStart new topic
> Надёжность хранения прошивки в плис
alexadmin
сообщение Feb 20 2014, 08:55
Сообщение #16


Знающий
****

Группа: Свой
Сообщений: 572
Регистрация: 17-11-05
Из: СПб, Россия
Пользователь №: 10 965



Цитата(SM @ Feb 20 2014, 12:54) *
От этого в ПЛИС не появится физической возможности переписать свою встроенную конфигурационную флеш изнутри себя.


А, речь про CPLD. Тогда да, пожалуй.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
SM
сообщение Feb 20 2014, 08:56
Сообщение #17


Гуру
******

Группа: Свой
Сообщений: 7 946
Регистрация: 25-02-05
Из: Moscow, Russia
Пользователь №: 2 881



Цитата(alexadmin @ Feb 20 2014, 12:55) *
А, речь про CPLD. Тогда да, пожалуй.


Да и в FPGA c флеш-памятью, например LatticeXP, LatticeXP2, MAX-V, и т.п. такой возможности нету. Там можно переписать user flash, TAG, т.п., но никак не конфигурацию.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
yes
сообщение Feb 20 2014, 15:48
Сообщение #18


Гуру
******

Группа: Свой
Сообщений: 2 198
Регистрация: 23-12-04
Пользователь №: 1 640



Цитата(SM @ Feb 20 2014, 12:54) *
От этого в ПЛИС не появится физической возможности переписать свою встроенную конфигурационную флеш изнутри себя.


такая возможность есть в LatticeXP2 - SSPIA порт/примитив, мы ей пользуемся, очень полезно.
по-моему и в MachXO2 тоже можно (ну из-за малого размера на практике снаружи должен быть какой-то контроллер, но теоретически возможно)
Go to the top of the page
 
+Quote Post
SM
сообщение Feb 20 2014, 15:59
Сообщение #19


Гуру
******

Группа: Свой
Сообщений: 7 946
Регистрация: 25-02-05
Из: Moscow, Russia
Пользователь №: 2 881



Цитата(yes @ Feb 20 2014, 19:48) *
такая возможность есть в LatticeXP2 - SSPIA порт/примитив, мы ей пользуемся, очень полезно.

Спасибо, не знал sm.gif

Но, все равно, в CPLD этой возможности нет.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
_4afc_
сообщение Feb 21 2014, 08:01
Сообщение #20


Профессионал
*****

Группа: Свой
Сообщений: 1 262
Регистрация: 13-10-05
Из: Санкт-Петербург
Пользователь №: 9 565



Цитата(SM @ Feb 20 2014, 11:07) *
Поэтому в среднестатистической ПЛИС значительно меньше шансов порчи флеши, чем в среднестатистическом МК.


В случае с моей катушкой - действительно происходила наводка команды на стирание и стиралась страница.

Но! Есть дисер Ферсенко М.В. из ЦНИРТИ, в котором показана аппаратура для уничтожения информации во флэш памяти путём облучения электромагнитным полем мощностью менее 1мкДж в течении 1мС. На эту тему им выполнен ряд НИОКР ещё 7 лет назад.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
yes
сообщение Feb 21 2014, 13:44
Сообщение #21


Гуру
******

Группа: Свой
Сообщений: 2 198
Регистрация: 23-12-04
Пользователь №: 1 640



Цитата(_4afc_ @ Feb 21 2014, 12:01) *
В случае с моей катушкой - действительно происходила наводка команды на стирание и стиралась страница.

Но! Есть дисер Ферсенко М.В. из ЦНИРТИ, в котором показана аппаратура для уничтожения информации во флэш памяти путём облучения электромагнитным полем мощностью менее 1мкДж в течении 1мС. На эту тему им выполнен ряд НИОКР ещё 7 лет назад.


а принцип или какие-либо детали можете описать? а то и рентгеновское излучение, самое что ни на есть, электромагнитное поле
Go to the top of the page
 
+Quote Post
_4afc_
сообщение Feb 24 2014, 08:52
Сообщение #22


Профессионал
*****

Группа: Свой
Сообщений: 1 262
Регистрация: 13-10-05
Из: Санкт-Петербург
Пользователь №: 9 565



Цитата(yes @ Feb 21 2014, 16:44) *
а принцип или какие-либо детали можете описать? а то и рентгеновское излучение, самое что ни на есть, электромагнитное поле



На защиту выносятся следующие научные положения:

1. Уничтожение информации на полупроводниковом носителе электромагнитным полем при энергиях импульса не менее 2,2-10—5 Дж с использованием туннельного пробоя без деструкции транзисторной структуры.

2. Использование магнитного поля с длительностью импульса более 1 мс, обеспечивает максимальную передачу энергии внутрь полупроводниковой структуры с учетом ослабления магнитного поля за счет скин-эффекта.

3. Разрушение транзистора за счет нагрева возможно даже при малых значениях электрического поля, при многократном импульсном облучении. Создаваемое электрическое поле, с величиной определяемой крутизной (или скоростью) вызывает изменение магнитного поля.

4. Учет и оптимизация конструкции устройства стирания информации на флеш носителе посредством многократного облучения электромагнитными импульсами обеспечивает надежное стирание информации без возможности ее восстановления.

5. Учет и оптимизация конструкции устройства стирания информации на флеш носителе посредством программного стирания информации непосредственно с микросхемы памяти с последующим воздействием на флеш носитель высоким напряжением обеспечивает надежное стирание информации без возможности ее восстановления.

6. Использование полеобразующей системы состоящей из шести жестко связанных контуров и оптимизация конструкции устройства стирания информации на флеш носителе посредством воздействия переменным магнитным полем обеспечивает надежное стирание информации без возможности ее восстановления.

7. Применение разработанных способов построения систем управления, регистрации и контроля технических характеристик прибора, обеспечивают высокую точность измерения параметров для надежного стирания информации.

8. Комбинация способов внешнего воздействия, оптимизированная и реализованная в макете прибора, обеспечивает гарантированное уничтожение информации с носителей, в основе которых лежат полупроводниковые элементы (флеш память).





Прикрепленные файлы
Прикрепленный файл  fesenko.zip ( 1.88 мегабайт ) Кол-во скачиваний: 11
 
Go to the top of the page
 
+Quote Post

2 страниц V  < 1 2
Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 28th June 2025 - 05:47
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.01461 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016