Если вы поробуете смоделировать фильтр в ЕМ-структуре, а потом посмотреть его уже на анализаторе цепей, то увидете что затухание даваемое фильтром и рассчитанное программой отличается в децибелы. Вот только почему так? Может кто знает? (диалектрическая проницаемость материала учитывается при моделировании).

Моделирование не дает возможно результаты с точностью до единиц децибел, хотя тоже смотря что моделировать. На Ваш вопрос пока трудно ответить, может Вы где наврали при моделировании! Можно глянуть проект, если не секретный конечно, возможно это ускорит поиск вашей проблемы?
Ну конечно учитывается диэлектрическая проницаемость если Вы ее задали, как и толщина материала впрочем.

1.Возможно,не были учтены потери в диэлектрике (т.е. тангенс угла диэлектрических потерь)
2.Так же не были учтены потери в металле.
Это,конечно,всего лишь предположения. Что-то конкретное можно будет сказать только после ознакомления с проектом.

Потери в диэлектрике преднамеренно взяты равным нулю для уменьшения времени расчёта.
Реально фильтр даёт затухание 3.6-3.7дБ.
Проект

Посмотрел я Ваш проект (пока не разбирался-только глянул). Могу сказать следующее-в свое время в журнале EDA Express (12 номер) была статья,в которой автор сравнивал расчет различных типов фильтров, сделанный в Microwave Office и IE3D,с макетами. И получил следующий результат-для расчета структур, подобной вашей, продукт AWR не пригоден. Он считает с заведомой ошибкой (и это не раз было проверенно на практике). Автор статьи рекомендует использовать IE3D от Zeland (была на форуме информация по этой софтине). Либо использовать какой-либо трехмерный симулятор (хотя это как из пушки по воробьям).

Я немного модифицировал ваш проект-сделал чуть меньше сетку разбиения структуры,добавил потери в диэлектрик (поставил tan(d)=0.002 это правильно,или он больше?) и еще кое-что. Получил потери около 2-х дБ в полосе пропускания (считал в AWR и в Sonnet-результаты примерно одинакове). Интереса ради,киньте значения потерь в диэлектрике,толщину слоя металлизации и данные на металл (медь,золото..?)

Глянул статью. AWR не рекомендуют использовать при наклонном расположении резонатором, но здесь другое дело.
Поставил тангенс угла потерь 0,0055 и потери стали сопоставимы с результатами эксперимента.
Правда время моделирования увеличилось вдвое.
А материал Флан - облицованный с двух сторон электролитической гальваностойкой медной фольгой толщиной 35 мкм.
тангенс угла диэлектрических потерь при частоте 10 ГГц, не более 0,0045.

Посмотрел Ваш проект да действительно дело в неучтенных потерях как и писал Neznayka. Я так понял Вы используете Флан 10, но он есть 2 разновидностей с различными потерями есть 0.0045 и он с буквенным индексом С и с потерями 0.0015 он с буквой А. У Вас точно с С??? Потому как учет всех параметров(потерь в диэлектрике и материале) больше подходит для варианта с малыми потерями, т.е. А. Если же Вы все правильно указали, то с учетом всех потерь получаются большие потери чем у Вас на макете, остается только порадоваться, что получается пракика лучше теории.)) Прикрепил Вам два различных варианта из названия надеюсь разберетесь, что разного.

Удачи!

Добрый день.
Недавно столкнулся с такой проблемой. Работаю с проектом (черчу схемы в схематике, развожу топологию и т.д.), время от времени сохраняю проект (бывают электричество отключают). Закрываю проект. При его открытии пишет ошибку: типа такая то часть проекта повреждена... В конце концов файл загружается, но все схемы набитые в схематике исчезли.
Какие будут мысли?

кетай

Тоже заинтересовался Вашим проектом и посмотрел, что там получается. Я смотрю здесь уже прозвучало несколько вариантов значения потерь ФЛАНа (кто точнее? ), хочу еще один вариант озвучить tg=0.0027. Это значение мне подсказали, когда на ФЛАНе железку считал. И вот с этим значением потерь в диэлектрике и с медью в качестве материала проводников получились потери на уровне 3,4-3,5 дБ, почти как и у Вас измеренные.
И вот такой вопрос возник. В 2002 MWO, при моделировании устройств на связанных линиях для получения корректного результата нужно было замоделировать толщину проводника. т. к. связь происходит, во многом, за счет боковой связи, а проводники в MWO2002 моделируются с нулевой толщиной. Ну не буду расписывать как это делается, это всё есть в хелпе и книге Разевига. А в MWO2006 можно задать толщину проводника, но у Вас она не задана. Я попробовал придать проводникам толщину, но на результатах это никак не отразилось. И при всем при этом результаты красивые, а в MWO2002 разница была бы очень заметна. Так вот к вопросику подошел: считает то он вроде правильно, но зачем тогда возможность придания толщины проводникам, если разницы не заметно при толщинах 0, 0.035 и 0.5 мм. Хотя связь должна сильно при этом меняться. Т. е. это говорит о том, что не учитывает MWO2006 заданную толщину или как? Но при всём этом и правильно считает связанные линии без лишних премудростей (при нулевой толщине).

EUrry
Толщина металла будет играть роль когда она сопоставима с шириной проводников. По этому в большинстве случаев можно считать без учета толщины металла.

Тогда зачем же в MWO2002 нужно было извращаться и создавать над проводником такой же проводник на расстоянии равном толщине реального и между ними ставить перемычки для получения корректнго результата.
Так Вы говорите толщина играет роль при значении, сопоставимом с шириной проводника. Я довел толщину до 1 мм всё в том же проекте RAD1STа (хотя до этого я делал 0,5 мм, что тоже более чем сопоставимо с шириной) и разница между результатами пи толщинах 0 и 1 мм составила нуль целых хрен десятых . Возьмите любую книгу по связанным линиям и посмотрите, что для линий с боковой связью на связь, в значительной мере, влияет именно толщина проводников, а не их ширина, а при толщине сопоставимой с шириной уже получается очень сильная связь. При этом, как правило, используется воздушная (для малых потерь при работе на больших мощностях) конструкция (напр. ответвителя), а большая толщина нужна при этом для жесткости конструктива. Для уменьшения связи при этом придется увеличивать зазор между линиями, что ведет к увеличению габаритов устройства. Поэтому применение такого варианта скорее всего ограничено, когда необходимо пропускать большие мощности (десятки Вт). Так что вопрос насчет толщины проводников MWO2006 остается открытым.
Еще прошу прощения за не точнось в предыдущем посте. Там я написал, что у ФЛАНа tg=0.0027. Это значение для одного и роджерсов. Просто сначала свое железо я считал на ФЛАНе, а потом решили роджерс взять, вот я и запутался чуток в них. Еще раз сори! А у ФЛАНа по справочнику Вольмана по полоскам велина tg=0.0015.

Сообщение отредактировал EUrry - Apr 13 2007, 10:08

В MWO реализована классическая версия метода моментов, где в качестве граничного условия используется Леонтович. Т.е. в электродинамической модели толщина проводников равна 0, а вводимое значение толщины используется только для расчета эквивалентного поверхностного импеданса проводника. Если толщина проводника играет существенную роль, то проще использовать CST или HFSS.
Такое вот ИМХО....

Спасибо! Действительно, сегодня проверил, при задании резистивной пленки не моделью поверхностного импеданса, а неидеальным проводником, это влияет на расчет поверхностного импеданса покрытия. Сравнивал с экв. Т-аттенюатором.

Тут еще проблемка возникла. Может кто возился со встроенными мат. функциями. Как загнать матрицу в output equation? Есть функция DataFile(name), которая возвращает матрицу из файла данных проекта, но так я и не увидел эту матрицу, всё ошибку выдает при просмотре внутренностей переменной, которой присвоена эта функция: Equation Error: Data file not found Probe_1. Через функции доступа к столбцам и строкам (col() и row()) таже ошибка.