Добрый день!
Дайте, пожалуйста, совет новичку!

Для исследования процесса ультразвукового резания древесины требуется измерение амплитуды колебаний на торце магнитострикционного ультразвукового излучателя ПМС-15А-18 (_http://www.mrtz.ru/product.php?r=29) с резцом. Частота колебаний составляет 18 кГц, амлитуда колебаний (будет регулироваться путем изменения подводимой мощности) до 20 мкм. Требуется не динамическое измерение смещения торца, а просто определение значения амплитуды!

Можно ли для этих целей использовать акселерометр? (Например какой-нибудь ICP (IEPE))? Если можно то подскажите модель, которую бысто и легко купить?

Сообщение отредактировал spartakhamp - Aug 2 2007, 06:31

Это я цену за минмальный работающий буржуйский конфокальный микроскоп привел. У МДТ, по моему, дороже намного.

Не вместе с резцом а вместо резца-это и будет калибровка.Проблема в том что мерой дб теже самые микрометры.Проще говоря нужно нечто тонкое,что можно измерять микрометром,затем нечто под микроскоп и если у микроскопа нет искажений по краям можно мерять.А вообще нужен измерительный микроскоп.,у него есть шкала.

Этим тонким и будет концевая мера размер которой известен и выполнен с большой точностью.
А измерительные микроскопы есть такие, чтобы можно было смотреть на объект не с предметного стола?

Да но от этого не легче.Его все равно нужно фокусировать на объект и поверять.Те вы должны закрепить микроскоп или окуляр(1/2 микроскопа) на заданном для данного типа прибора расстоянии и затем провести калибровку по эталону.

Есть. В конце концно в можно отвинтить и обычный микроскоп от станины, а измерительным его делает окуляр со шкалой. Они производятся практически для всех типов микросокпов.

Оказывается у нас есть обычная аналоговая камера на которую привинчен объектив от микроскопа в 200х. И софт + платы есть соотвествующие, чтобы получить изображение! Как такой вариант?

Сообщение отредактировал spartakhamp - Aug 31 2007, 09:25

Если есть возможность нанесите риски на вибрирующую поверхность.Если нет одну полосу,тогда проидется градуировать.

200 кратных объективов не бывает. Максимум 60. от 60 до 100 - с масляной иммерсией.

У измерительного микроскопа, действительно, шкала устанавливается в окуляр. Это нужно если просмотр ведется глазами, для камеры шкала не нужна. А калибровка, как сказал Евгений Германович, выполняется всегда, по шкале под объективом (обычно с отсчетом в 10мкм). Если у Вас нет калибровочной шкалки, то ее можно попытаться заменить проволокой малого диаметра (до 50мкм). для калибровки камеры этого достаточно. Только желательно взять твердую проволоку (вольфрам, нихром) и проверить диаметр микрометром и/или по дифракции (освещаете оптической указкой и по расстоянию между максимами дифракционной картины определяете диаметр). И, возможно, придется повозится с освещением, под микроскопом проволока может бликовать. Удачи.

Вернусь к старой теме.
Спасибо всем за советы. В итоге измерения проводил с помощью микроскопа Webbers F2cn (Описание микроскопа)

Для калибровки нашли объект-микрометр. Вот так выглядел миллиметр при максимальном увеличении:


Ну и дальше измерялись различные амплитуды (просто по сравнению картинки с объектом-микрометром)

Например, 0 мкм:


14 мкм:


Теперь стоит следующий вопрос. Необходимо измерять амплитуду ультразвуковых колебаний торца ультразвукового излучателя ПМС-15А-18 (Описание).

А вот так он (торец) выглядит


Вот не знаю, что можно придумать, чтобы реализовать можно была самому. Микроскоп здесь не очень подойдет, так как колеблющаяся поверхность весьма большая (и вполне можно допустить, что колеблется не вся как единое целое). Лазерный интерферометр от "Брюэль и Кьер" предложили за 15000 евро (с ума сойти) Что-то индуктивное в голову приходит, но как это реализуется?

Амплитуда колебаний до 15 мкм, частота колебаний 18 кГц, требуемая точность +/- 1 мкм хотя бы.

Могу предложить попробовать метод аналогичный конденсаторному микрофону.
Над торцом излучателя закрепляете металлическую пластину такого же диаметра как и излучатель.
Измеряете емкость между пластиной и излучателем, по емкости и площади пластины рассчитываете точное расстояние между пластиной и излучателем.
Через высокоомный резистор подаёте постоянное напряжение смещения (побольше).
Вольтметром/осциллографом меряете амплитуду переменного напряжения и пересчитываете в амплитуду механических колебаний.

Интерферометр на оптоволокне, наверное, дешевле.
Можно попробовать сделать на основе оптики от CD/DVD, интерферометр.IMHO, схема Миро подойдет. Это если с деньгами хуже, чем с умением и навыками аккуратной работы.

Возможно подойдёт "self-mixing" эффект диодного лазера
http://www.scientific.net/AMR.189-193.906
Laser Range Finder and Doppler velocimeter

ещё могу предложить стробоскопическую подсветку в микроскопе, синхронную с колебаниями излучателя - картинка не будет размыта.
изменяя фазовый сдвиг контролируете разные фазы движения.

Сообщение отредактировал НЕХ - Mar 19 2011, 15:33

http://cxem.net/ik/ik2.php