|
|
  |
Analog Designer vs Mismatching |
|
|
|
Dec 27 2007, 20:04
|
Участник

Группа: Новичок
Сообщений: 47
Регистрация: 26-10-05
Пользователь №: 10 129

|
Здрасте коллеги.
Вопрос:
Как я понимаю, большенство разработчиков аналоговых микросхем работают в таких конторах у которых в силу разных причин нет своих фабрик. И кристаллы свои они производят на неких сторонних заводах со всеми вытекающими последствиями. Как в этом случае Вы боретесь с проблемой mismatching-а в тонких аналоговых приборах? Поставляют ли фабрики эту информацию или добывается опытным путем?
|
|
|
|
|
Dec 28 2007, 20:51
|

Частый гость
 
Группа: Участник
Сообщений: 93
Регистрация: 18-08-06
Из: Москва
Пользователь №: 19 651

|
Цитата(unit900 @ Dec 27 2007, 23:04)  Здрасте коллеги.
Вопрос:
Как я понимаю, большенство разработчиков аналоговых микросхем работают в таких конторах у которых в силу разных причин нет своих фабрик. И кристаллы свои они производят на неких сторонних заводах со всеми вытекающими последствиями. Как в этом случае Вы боретесь с проблемой mismatching-а в тонких аналоговых приборах? Поставляют ли фабрики эту информацию или добывается опытным путем? Все зарубежные фабрики предоставляют модели монте-карло для транзисторов, резистров итд., котрые позволяют промоделировать разбросы параметров, а также коэффициенты, которые можно использовать для ручного расчета.
Сообщение отредактировал yxo - Dec 28 2007, 20:52
--------------------
"Сначала идет мысль, фантазия, сказка... за ней следует инженерный расчет и уже в конце концов исполнение венчает мысль" (Э.Циолковский)
|
|
|
|
|
Dec 29 2007, 19:52
|
Участник

Группа: Новичок
Сообщений: 47
Регистрация: 26-10-05
Пользователь №: 10 129

|
Спасибо за ответ... Это многое обьясняет.
|
|
|
|
|
Jan 12 2008, 11:23
|
Участник

Группа: Новичок
Сообщений: 32
Регистрация: 11-02-07
Пользователь №: 25 249

|
Если нет моделей, учитывающих разсогласование характеристик, можно самому поварьировать некоторые из них - например пороговое напряжение путем коррекции моделей или еще проще - понавешайте источников тока или напряжения там, где необходимо создать разсогласования (напрмер current mirror и т.д.). Меняя значения напряжения (тока) можно ввести и контролировать дельту. Кроме того мы еще и заранее в формульном виде просчитывали вероятные отклонения (см. у Пелгрома), только технологические факторы Аk и Avth нужно заранее выяснить у технологов.
|
|
|
|
|
Jan 18 2008, 01:26
|
Участник

Группа: Участник
Сообщений: 38
Регистрация: 13-06-07
Пользователь №: 28 412

|
Цитата(chairman @ Jan 12 2008, 20:23)  Если нет моделей, учитывающих разсогласование характеристик, можно самому поварьировать некоторые из них - например пороговое напряжение путем коррекции моделей или еще проще - понавешайте источников тока или напряжения там, где необходимо создать разсогласования (напрмер current mirror и т.д.). Меняя значения напряжения (тока) можно ввести и контролировать дельту. Кроме того мы еще и заранее в формульном виде просчитывали вероятные отклонения (см. у Пелгрома), только технологические факторы Аk и Avth нужно заранее выяснить у технологов. это как пальцем в небо  в зависимости от техпроцеса, мисматч вариации могут быть очень разными... если интересует, рекомендую почитать "DFM/DFY Design for Manufacturability and Yield - influence of process variations in digital, analog and mixed-signal circuit design"
|
|
|
|
|
Apr 9 2008, 10:56
|
Участник

Группа: Участник
Сообщений: 19
Регистрация: 2-10-04
Пользователь №: 757

|
Цитата Все зарубежные фабрики предоставляют модели монте-карло для транзисторов, резистров итд., котрые позволяют промоделировать разбросы параметров, а также коэффициенты, которые можно использовать для ручного расчета. TSMC, например, такого не представила.
|
|
|
|
|
Apr 9 2008, 15:49
|

Частый гость
 
Группа: Участник
Сообщений: 93
Регистрация: 18-08-06
Из: Москва
Пользователь №: 19 651

|
Цитата(fom @ Apr 9 2008, 14:56)  TSMC, например, такого не представила. Часто их не бывает для процессов, которые недавно поставили, и, которые, если можно так сказать, только "обкатываются". Иногда модели или хотя бы коэффициенты могут высылать по дополнительному запросу...
--------------------
"Сначала идет мысль, фантазия, сказка... за ней следует инженерный расчет и уже в конце концов исполнение венчает мысль" (Э.Циолковский)
|
|
|
|
|
Apr 9 2008, 17:15
|
Участник

Группа: Новичок
Сообщений: 47
Регистрация: 26-10-05
Пользователь №: 10 129

|
То есть, если большой тираж, то остается только читать мантры и петь суры, в надежде на благополучный исход дела. Естественно, конечно все возможные меры для уменьшения разброса (аккуратная топология, размеры и т.д.) будут приняты, но нет возможности получить хоть какую то оценку.....
|
|
|
|
|
Apr 9 2008, 19:53
|
Участник

Группа: Новичок
Сообщений: 32
Регистрация: 11-02-07
Пользователь №: 25 249

|
Цитата(kDaniu @ Jan 18 2008, 03:26)  это как пальцем в небо  в зависимости от техпроцеса, мисматч вариации могут быть очень разными... если интересует, рекомендую почитать "DFM/DFY Design for Manufacturability and Yield - influence of process variations in digital, analog and mixed-signal circuit design" естественно, но если нат моделей, то хоть так. и как уже сказали - предохраняться в лэйауте всевозможными способами.
|
|
|
|
|
Apr 11 2008, 19:23
|

Частый гость
 
Группа: Участник
Сообщений: 93
Регистрация: 18-08-06
Из: Москва
Пользователь №: 19 651

|
Цитата(unit900 @ Apr 9 2008, 21:15)  То есть, если большой тираж, то остается только читать мантры и петь суры, в надежде на благополучный исход дела. Естественно, конечно все возможные меры для уменьшения разброса (аккуратная топология, размеры и т.д.) будут приняты, но нет возможности получить хоть какую то оценку..... Ничего читать и петь не нужно 1)Можно посмотреть сигмы для такого же процесса с другой фабрики. Думаю будут близко. 2)Нужно делать тестовые структуры и измерять их
--------------------
"Сначала идет мысль, фантазия, сказка... за ней следует инженерный расчет и уже в конце концов исполнение венчает мысль" (Э.Циолковский)
|
|
|
|
|
Apr 11 2008, 19:35
|
Участник

Группа: Новичок
Сообщений: 47
Регистрация: 26-10-05
Пользователь №: 10 129

|
Цитата(yxo @ Apr 11 2008, 23:23)  Ничего читать и петь не нужно 1)Можно посмотреть сигмы для такого же процесса с другой фабрики. Думаю будут близко. 2)Нужно делать тестовые структуры и измерять их 1. На другой фабрике, это все равно что на другой планете... Оборудование персанал, все другое... 2. Тестовые структуры это конечно хорошо, если есть свободные выводы а когда 8 - 16 выводов и все при деле?
|
|
|
|
|
May 16 2008, 08:28
|

Участник

Группа: Новичок
Сообщений: 34
Регистрация: 24-04-08
Из: Новосибирск
Пользователь №: 37 054

|
Цитата(unit900 @ Apr 11 2008, 23:35)  1. На другой фабрике, это все равно что на другой планете... Оборудование персанал, все другое... 2. Тестовые структуры это конечно хорошо, если есть свободные выводы а когда 8 - 16 выводов и все при деле? В фотошаблон встраиваются тестовые кристаллы. В скрайбовой линии тоже есть минимальмый набор тестов для контроля технологии. Очень важно проконтролировать пластину в радиальном направлении, многие заводы грешат радиальным разбросом параметров.
--------------------
Chip Design Engineer
|
|
|
|
|
  |
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0
|
|
|