Кстати, до НЕЛИНЕЙНОГО импеданса мы то еще и не добрались, застряли на измерении линейного. А вообще то обычные векторные нетворканалайзеры при сильном сигнале меряют не усредненные S-параметры, а параметры для какого то определенного фазового сдвига между тестовым сигналом и гетеродинным сигналом СВЧ самплеров. Я говорю о классической схеме VNA c тремя SPD (sampling phase detector). Для корректного измерения НЕЛИНЕЙНЫХ S-параметров VNA должен обеспечивать плавную перестройку по фазе момента срабатывания SPD. Кто какие модели VNA знает, которые имеют такой режим?

Это все я пропускаю без комментов. На вашей совести.



Смею вас заверить, что показаться кому то образованным - это не мой диагноз. Это все не обо мне.
Но мне не понятно, на каком основании вы себе присвоили эту область знаний?



А в книжке написано "Элементы матрицы S представляют собой волновые коэфициенты передачи по нормированным напряжениям".
Вы пожалуйста, по теме S-параметров - мне не приписывайте. Или вы обьясняйте значения терминов, или ссылку давайте на источник.
А если в книге сказано "напряжение" - то вы тогда свою книжку напишите со своими "параметрами". Это вопрос не ко мне.

Вернемся к - "баранам"? Т.е. к измерению волнового сопротивления входа транзистора?




А может быть этот фазовый сдвиг определяет индуктивный или емкостный характер нагрузки? Нужный для вычисления комплексной части?

Как угодно!

А я к Вам, как можете заметить, это и не относил. Я такой вывод могу сделать только при личном непосредственном некраткосрочном общении.
И опять Вы непонятно откуда делаете выводы о каком-то присвоении. Если бы я присвоил, я бы собирал налог на использование! По-моему, Вы необоснованно применяете метод индукции, используйте лучше дедукцию.

Ну, вот! Сначала претензии, что на вопросы не отвечают, а теперь уже свое видение терминов и укор других. И какое может быть дальнейшее желание давать Вам ответы? Знаете основное правило спора? Перед спором необходимо договориться о терминах. А основную логическую ошибку? Подмена термина. Получается, что мы с Вами и о терминах договориться не смогли, и совершаем грубейшую логическую ошибку.
Ссылку на источник я уже давал, но там "сухая математика". Я не против, применяйте закон Ома для прямоугольного волновода, но как-нибудь без меня.
А "свои параметры" пока только у Вас!


Правильно поставленный вопрос - половина ответа!!!
Термин волновое сопротивление применимо только к регулярной линии передачи!!! И однозначно только в линиях передачи при распростанении поперечной электромагнитной волны. При других типах волн в линии передачи волновое сопротивление, а более корректно - характеристический импеданс, имеет несколько различных определений и частотно зависимо.

Мне просто не интересно далее продолжать подобный невежливый разговор.

Почему то мне думается, что в тех самых анализаторах, на которые вы тут ссылались, измерение производится только при определенных фиксированных частотах, в режиме той самой линии передачи. Другое дело, что это потом гибко перестраивается, и в результате по формулам на МК пересчитывается в абстракции типа вашего частотнозависимого характеристического импеданса. Я кстати совсем не возражаю против этого. Но измеряются только напряжения, с учетом изменения фазы (как подсказал khach). В каждый момент времени, при котором производится измерение напряжения - частота и фаза неизменны. Кстати, почему линия - почему не мост?



Да вы всеравно пока ничего полезного не сказали, пмсм.

еще немного и тему можно будет сносить в общение

Я чо-то не заметил, что кого-либо из участников раздражает "Мега-ФОРУМ" недовольных Electronixom!!!???

Если мне не изменяет память, семплирование на SPD идет на частоте, смещенной относительно тестового сигнала на значение промежуточной частоты, т.е. с разными фазами, иначе как нам определить амплитуду и фазу или надо делать квадратурный фазовый семплер. В принципе за счет того, что гетеродины синтезируются на ФАПЧах из одного кварцевого генератора, мы можем узнать разницу фаз между ними и использовать ее для наших измерений большесигнальных S-параметров. Остается под вопросом возможность вытянуть из прибора информацию о фазе или хотя бы получить просто оцифрованный сигнал со всех АЦП.
Интуиция подсказывает, на SPD можно сделать некоторый аналог NVNA Mesuro/Tektronix MB20, построенного на базе стробоскопического осциллографа.

Поясните

Думаю, Khach намекал, что линию можно заменить синтезатором частоты DDS с произвольно задаваемой фазой. В линии детектор механически двигается по линии, а тут двигается фаза вместо этого, а детектор "приделан" к "клемме" транзистора жостко. Т.е. какбы линия "наоборот" - кверху фазой, т..е.
Если правильно понял, конечно...

Не уверен что до конца понял о чем речь в этом посте. Но самый крутой нелинейный анализатор, о котором я слышал, это:
http://193.109.184.8/products.htm
подробнее:
http://193.109.184.8/pdf/productpresentation.pdf

С его помощью измеряются выходные и входные токи и напряжения в зависимости от времени (делим U(t)/I(t) и вот входной импеданс Z(t)!). Еще можно нагрузочную характеристику измерять, в зависимости от времени, мощности, импедансов (если тюнеры есть). Измерения во временной области дают наиболее полную информацию о транзисторе.

Есть еще PNA-X и X-параметры: http://www.home.agilent.com/agilent/produc...amp;cmpid=21255

Не знаю, что вы имели подразумевали под термином нелинейный импеданс, но в моем представлении это импеданс транзистора при воздействии большого сигнала. При измерении анализатором у нас получается усредненная точка, хотя на самом деле это не точка, а область значений импедансов (если отобразить на диаграмме Смита), т.е. будет зависимость от времени (или от фазы тестируемого сигнала). Наиболее полно, наверно, это можно измерить только во временной области. Менее полно при помощи систем с тюнерами.


Мне кажется для построения нелинейной модели хватит и S-параметров в режиме большого сигнала. Лучший критерий для модели - это практика!

S-параметры не учитывают изменения при разных входных мощностях.
Возможно влияет температура и смещение на линейность.
Практика имеет смысл, если есть понимание процессов.

Да они и не должны по определению. Потому что S-параметры - это малосигнальные параметры, то есть измеряются в режиме малого сигнала. Большесигнальные S-параметры это измерение S-параметров "на фоне" большого сигнала, т.е. это все равно линейные вещи. Так как сказать, "линеаризация", так как с линейными вещами удобнее работать. По крайней мере они отражают как изменяются значения элементов эквивалентной схемы транзистора в режиме большого сигнала. Как знать, может это и нужно автору темы.

Что такое смещение на линейность?

У меня есть опыт построения нелинейных моделей. Обычно использовались выходные и входные ВАХ, S-параметры при разных напряжениях смещения, зависимость выходной мощности от входной. Вроде все нормально было. Ну а буржуи обычно используют еще S-параметры и ВАХ в импульсном режиме, load-pull и прочее. Про измерительные линии для измерения нелинейного входного импеданса транзисторов для построении моделей не слышал.

Вот это:




Все верно, линии предназначены для измерения напряжения внутри "себя", а нелинейный импенданс он внутри транзистора находится - можно только по косвенным "приметам" смоделировать. Вы же не сможете измерительную линию внутрь транзистора впихнуть?
Поэтому создаются почти линейные условия "в наружных точках" измерений, а на основе этого моделируются нелинейные параметры внутри транзистора. Помоему все логично?

Одна из возможных реализаций. Все проблема в том, что двухсигнальные NVNA показывают чушь. Т.е когда один генератор служит для установки рабочего режима транзистора, а второй, с небольшой расстройкой от первого- измерительный.
Надо возвращаться к time- domain измерениям, можно их же назвать сробоскопическим осциллографом многоканальным. Кстати, подход Verspecht-Teyssier-DeGroote именно такой- линия служит для согласования импеданса исследуемого транзистора с 50 омной линией накчки и нагрузки. Согласование достигается конечно только на одной конкретной частоте, и для снятия следующей точки по частоте нужна перестройка тюнера. Но rf pickup- измерительный зонд VNA расположен со стороны транзистора (на неизвестном нелинейном импедансе). И семплирующие головки снимают полную time- domain характеристику сигнала стробоскопически методом (например управляемым сдвигом фаз синтезатора гетеродина семплера). Отсуюда получаем осциллограму 1 периода СВЧ колебания, вернее 3 или четыре- падающую, отраженную, прошедшую, с извесными фазовыми зависимостями между ними. Ну а уж что длать с ними дальше- зависит о принятой методики разарботки. Кто-то работает с временной диаграммой, кто-то с треком рабочей точки на ВАХ, кто- то делает таблицы S-параметров для каждой точки по уровню сигнала. Устоявшейся методики пока нет.

У NVNA на стробоскопических осциллографах, как пишут в разной литературе, есть проблемы с дисперсией (джиттером) триггерной синхронизации. В анализаторах Anritsu серии VectorStar, построенными на базе семплеров на NLTL с полосой до 70 или 110 ГГц, почему-то не стали делать прямые измерения во временной области, а как в анализаторах с гетеродинными приемниками, последовательно измеряют основную и все гармоники сигнала при перестройке гетеродина, используя при этом внешний генератор гармоник для более точного измерения фаз.