|
|
  |
Вопросы по CST |
|
|
|
Sep 7 2011, 11:43
|
Группа: Новичок
Сообщений: 2
Регистрация: 21-11-09
Пользователь №: 53 769

|
Добрый день! Начиная с 2010 версии CST использует асимптотический солвер. На основе каких математических выкладок он работает? Очень мало информации. Единственное что указано, это лучевой метод...
|
|
|
|
|
Sep 8 2011, 16:34
|

Местный
  
Группа: Свой
Сообщений: 399
Регистрация: 25-07-10
Из: Rybinsk
Пользователь №: 58 593

|
Цитата(UKvist @ Sep 7 2011, 09:57)  В солвере можно указать или одну, или все моды. Как указать интересующее количество? Солвер выдаст частоты мод-эта информация будет в какой папке? 1. При построении модели количество мод задается для каждого порта в его свойствах. 2. При запуске солвера форточкой количества мод можно дополнительно регулировать это количество, но, теперь уже, не более, чем задано в п. 1. 3. Результаты в папке 3D-port modes-port 1-e1.... Частота - Fcutoff (для Т-солвера). Для вывода видео - пкм (свойства) включить анимацию. Не забудьте увеличить частотный диапазон.
|
|
|
|
|
Sep 15 2011, 14:03
|
Частый гость
 
Группа: Свой
Сообщений: 108
Регистрация: 13-11-08
Из: Москва
Пользователь №: 41 599

|
Цитата(GDai @ Sep 7 2011, 15:43)  Добрый день! Начиная с 2010 версии CST использует асимптотический солвер. На основе каких математических выкладок он работает? Очень мало информации. Единственное что указано, это лучевой метод... здравствуйте. для расчета электрически-больших структур (размер объекта в десятки или сотни раз больше длины волны) могут использоваться различные асимптотические методы. Например, методы физической оптики, геометрической оптики, однородной теории дифракции. Лучевым методом чаще всего считают метод геометрической оптики. Если проблем с английским нет - довольно подробно теоретические аспекты изложены в книге THOMAS A. MILLIGAN MODERN ANTENNA DESIGN ссылки не привожу, но в поисковике найти эту книжку - легче легкого
|
|
|
|
|
Sep 16 2011, 04:37
|
Группа: Новичок
Сообщений: 2
Регистрация: 21-11-09
Пользователь №: 53 769

|
Цитата(barr @ Sep 15 2011, 18:03)  здравствуйте.
для расчета электрически-больших структур (размер объекта в десятки или сотни раз больше длины волны) могут использоваться различные асимптотические методы. Например, методы физической оптики, геометрической оптики, однородной теории дифракции. Лучевым методом чаще всего считают метод геометрической оптики.
Если проблем с английским нет - довольно подробно теоретические аспекты изложены в книге THOMAS A. MILLIGAN MODERN ANTENNA DESIGN
ссылки не привожу, но в поисковике найти эту книжку - легче легкого Спасибо. это я понял, а вот чем именно питается CST? хотя хотя... ОК. Спасибо!
|
|
|
|
|
Sep 20 2011, 14:14
|

Частый гость
 
Группа: Свой
Сообщений: 106
Регистрация: 10-12-10
Пользователь №: 61 538

|
Здравствуйте! Имеются макеты микрополосковых полосно-пропускающих фильтров разных типов: с боковыми связями, на шпильках, встречно-стержневые. Материалы подложек: поликор и RO4003C. При моделировании в MWO, ADS с использованием метода моментов результаты практически совпадают с измеренными: и полоса, и крутизна скатов. В CST же центральная частота и крутизна скатов считаются правильно, но полоса может быть до 1,5-2 раз шире измеренной (для Frequency solver, Transient вроде для этих целей не подходит и выдает он характеристики, совсем не похожие на правду). Может, кто-нибудь сталкивался с подобным и объяснит, в чем здесь причина?
|
|
|
|
|
Sep 21 2011, 14:47
|

Частый гость
 
Группа: Свой
Сообщений: 106
Регистрация: 10-12-10
Пользователь №: 61 538

|
К сожалению, не могу разглашать частоты. Их можно узнать и по модели, поэтому ее не прилагаю. Качественно модель можно поглядеть на рисунке. На рисунке приведены графики характеристик в MWO, CST и измеренные (частоты не указаны). P.S. Наше предприятие является лицензионным пользователем CST, поэтому аргументы насчет глючных пиратских версий не принимаются.
Сообщение отредактировал Dunadan - Sep 21 2011, 14:52
Эскизы прикрепленных изображений
|
|
|
|
|
Sep 22 2011, 04:39
|
Группа: Участник
Сообщений: 14
Регистрация: 2-03-06
Пользователь №: 14 865

|
Dunadan попробуй Transient метод расчета, при этом увеличь количество разбиений, расчет будет долгий, но правдивый. Столкнулся с такой же проблемой при расчете HF RFID, везде пишут что Frequency метод более подходит, но правду выдал только Transient с огромным разбиением. У меня тоже вопрос возник, как перекрестить два порта? Причем не только два порта накладываются, но и близкие проводники. Есть ли способ из одной точки в другую попасть виртуально, не прямым контактом, т.е. параметром задать, что типа дальше ты перемещаешься сюда и всё.
Сообщение отредактировал Quatro - Sep 22 2011, 04:57
|
|
|
|
|
Sep 22 2011, 10:07
|
Частый гость
 
Группа: Участник
Сообщений: 150
Регистрация: 4-04-06
Пользователь №: 15 779

|
Цитата(Quatro @ Sep 22 2011, 08:39)  DunadanУ меня тоже вопрос возник, как перекрестить два порта? Причем не только два порта накладываются, но и близкие проводники. Есть ли способ из одной точки в другую попасть виртуально, не прямым контактом, т.е. параметром задать, что типа дальше ты перемещаешься сюда и всё.  По поводу портов - разнести ненамного проводники, к которым они подключаются, по высоте.
|
|
|
|
|
Sep 26 2011, 06:38
|
Группа: Участник
Сообщений: 12
Регистрация: 20-09-11
Пользователь №: 67 286

|
Добрый день! Подскажите в чём дело. Нарисовал излучатель. Затем Macros-Array Wizard сделал решетку(например 2 на 2). Посчитал, получил КСВ, ДН каждого элемента и Combine Results ДН. Затем в Transient Solver [Excitation list] изменяю фазы с целью посмотреть новый КСВ элементов, но пересчёта КСВ не происходит. Имеют место ошибки: - Template based postprocessing result "S11": Error in calling "Evaluate1D" function (S Parameter datafile not available) - All calculated S-Parameters are set to be excluded from processing - Error while running S-Parameters post processing Спасибо
|
|
|
|
|
Sep 28 2011, 09:39
|
Участник

Группа: Участник
Сообщений: 20
Регистрация: 21-06-07
Пользователь №: 28 608

|
Здравствуйте! Подскажите как пользоваться Voltage Monitor. В хелпе и на предыдущих страницах информации не нашел. Voltage Monitor сажается на какую-то кривую, чья начальная точка обозначает потенциал 1, а конечная 2, так? Построил монитор. А как теперь посмотреть напряжение между точками? Спасибо.
|
|
|
|
|
Oct 1 2011, 09:17
|
Участник

Группа: Участник
Сообщений: 20
Регистрация: 21-06-07
Пользователь №: 28 608

|
Цитата(Yuri Potapoff @ Sep 30 2011, 11:24)  Из школьного курса физики помнится что напряжение есть разность потенциалов. Может просто вычесть? Это да. Только я не понимаю как посмотреть эти потенциалы. В дереве проекта есть Voltage Monitor и все. А как повесить на него какие-то данные я не понимаю. В пост-обработке вроде бы ничего похожего нет. Можно ли как-нибудь посчитать суммарный магнитный поток через какую-то площадь?
Сообщение отредактировал alsit - Oct 1 2011, 09:18
|
|
|
|
|
Oct 4 2011, 10:03
|
Частый гость
 
Группа: Свой
Сообщений: 108
Регистрация: 13-11-08
Из: Москва
Пользователь №: 41 599

|
Цитата(alsit @ Oct 1 2011, 13:17)  Это да. Только я не понимаю как посмотреть эти потенциалы. В дереве проекта есть Voltage Monitor и все. А как повесить на него какие-то данные я не понимаю. В пост-обработке вроде бы ничего похожего нет. Можно ли как-нибудь посчитать суммарный магнитный поток через какую-то площадь? Voltage monitor задается либо правой кнопкой мыши в дереве проекта, либо в Solve-Voltage Monitors. Работает только в T! солвере. Перед заданием необходимо определить кривую, между конечными точками которой будем мониторить напряжение. В большинстве практически важных случаев задается прямая линия. На каждой точке частоты (через фурье преобразование) рассчитывается интеграл E*dl вдоль выбранной кривой, в итоге в качестве результата расчета получаем зависимсоть напряжения от частоты. Напряжение оказывается комплексным. Аргумент указывает на сдвиг фаз между портом возбуждения и выбранной кривой, на которой задан Voltage Monitor.
Сообщение отредактировал barr - Oct 4 2011, 10:14
|
|
|
|
|
  |
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0
|
|
|