Компоненты, что металлокерамика, что пластик, перед испытаниями вскрываются, обеспечивая воздействие ионов непосредственно на кристалл. Вскрывается только часть корпуса, непосредственно над кристаллом, поэтому, как правило, компоненты могут быть запаяны на плату или установлены в контактирующее устройство. Получается примерно вот так:
Испытания на платах заказчика проводим, часто даже с участием самих заказчиков, т.к. они более глубоко понимают суть происходящего на плате и лучше используют свое ПО. Из возможных ограничений - габариты платы/устройства заказчика, количество соединительных линий и их параметры, работоспособность платы в вакууме.
Используемые ЛПЭ при нормальном падении ионов на кристалл - от 5 до 100 МэВ/(мг/см2) [Si]. Система позволяет устанавливать угол падения ионов на объект в диапазоне от 0 до 90 градусов.