|
внутреннее тестирование FPGA, тест макроселов и соединений |
|
|
|
 |
Ответов
|
Mar 12 2009, 19:26
|
Местный
  
Группа: Свой
Сообщений: 305
Регистрация: 22-06-07
Из: Санкт-Петербург
Пользователь №: 28 617

|
Цитата(sacha @ Mar 12 2009, 22:00)  Вопрос: можно ли оттестировать внутреннюю структуру FPGA... А какая стоит задача? Вы хотите узнать что LE, RAM раположеные в определенной области "работоспособны"?
|
|
|
|
|
Mar 12 2009, 20:37
|
Участник

Группа: Участник
Сообщений: 38
Регистрация: 1-02-07
Пользователь №: 24 959

|
Цитата(yura-w @ Mar 12 2009, 22:26)  А какая стоит задача? Вы хотите узнать что LE, RAM раположеные в определенной области "работоспособны"? Нужно сделать тестовую сигнатурную прошивку использующую как можно больше частей ПЛИС. Сигнатуры выводить на все пины. Сделал тест для Спартан 2Е 300к. Нашел из партии 30 штук 2 плиски с рабочими частотами в 450 МГц. Порадовался  . Среди 200 штук не нашел ни одной неисправной, так что тест для проверки исправности в принципе не нужен для индустриальных плисок - они стопудово рабочие  . Можно только отобрать самые быстрые.
|
|
|
|
|
May 4 2012, 06:16
|

Местный
  
Группа: Свой
Сообщений: 218
Регистрация: 2-02-09
Из: Харьков
Пользователь №: 44 266

|
Цитата(DmitryR @ Mar 13 2009, 10:24)  Тест на исправность не нужен и для коммерческих - их все стопроцентно тестируют на фабрике, иначе представляете какая бы была веселуха? И все-таки хотелось бы узнать и мне и автору топика, наверное тоже. Как именно тестируют ПЛИС на фабриках, если они пишут для Altera => Stratix devices, all families are fully tested by Altera announcements. И у Xilinx Xilinx introduced the Spartan-6Q and Virtex-6Q FPGA families... They are fully tested and qualified to operate in extreme temperatures. Конечно, дорогие коллеги....можно включать свою фантазию с созданием прошивок, которые занимают наибольшее число макроселов с сигнатурным анализом и прочими наворотами...НО! Вопрос про то, как же на самом деле тестируют их на заводах - остается открытым....ведь такой тест должен занимать небольшой промежуток времени производственного цикла! Приезжал тут у нас как-то предаствитель Altera (некий Josef Stiskal)...но ничего внятного он мне на мой вопрос не смог ответить....обещал отправить запрос на завод- производитель....и с 20.12.2011 от него ни ответа ни привета.... Может кто обладает такой информацией?...или может помочь добыть из достоверных источников?
|
|
|
|
|
May 4 2012, 06:24
|
Местный
  
Группа: Свой
Сообщений: 433
Регистрация: 28-02-06
Пользователь №: 14 788

|
Цитата(ADA007 @ May 4 2012, 09:16)  Вопрос про то, как же на самом деле тестируют их на заводах - остается открытым....ведь такой тест должен занимать небольшой промежуток времени производственного цикла! Нету никакого открытого вопроса - Stuck-At / Delay / VLV / IDDQ вам в помощь. Хотите узнать доподлинно как - купите чипов на несколько лямов и если один из них откажет устройте скандал может тогда вам и покажут что нибудь. + BIST конечно
|
|
|
|
|
May 4 2012, 07:15
|

Местный
  
Группа: Свой
Сообщений: 218
Регистрация: 2-02-09
Из: Харьков
Пользователь №: 44 266

|
Цитата(klop @ May 4 2012, 09:24)  Нету никакого открытого вопроса - Stuck-At / Delay / VLV / IDDQ вам в помощь. Хотите узнать доподлинно как - купите чипов на несколько лямов и если один из них откажет устройте скандал может тогда вам и покажут что нибудь. + BIST конечно Stuck-At / Delay / VLV / IDDQ - это модели отказов, на сколько я понимаю...а мне нужны методы их выявления...причем именно те, которые на фабрике применяют.... Если я куплю партию чипов, то хотя бы один их них точно откажет....читайте выше по топику, у коллеги сдох PLL... с тем же успехом мог помереть любой триггер. BIST это хорошо, можно еще и BILBO поюзать....можно все триггеры объединить в сдвиговый регистр и т.д. и т.п.....фантазировать можно до бесконечности... Вопрос был именно про фабричное тестирование. Цитата И, если есть, то что будет тестировать INTEST. Мне кажется что должно быть такое для всех ПЛИС, просто это может быть скрыто от простых смертных...
|
|
|
|
|
May 4 2012, 07:40
|
Участник

Группа: Участник
Сообщений: 68
Регистрация: 28-10-08
Пользователь №: 41 246

|
Цитата(ADA007 @ May 4 2012, 11:15)  Stuck-At / Delay / VLV / IDDQ - это модели отказов, на сколько я понимаю...а мне нужны методы их выявления...причем именно те, которые на фабрике применяют....
Если я куплю партию чипов, то хотя бы один их них точно откажет....читайте выше по топику, у коллеги сдох PLL... с тем же успехом мог помереть любой триггер. BIST это хорошо, можно еще и BILBO поюзать....можно все триггеры объединить в сдвиговый регистр и т.д. и т.п.....фантазировать можно до бесконечности...
Вопрос был именно про фабричное тестирование.
Мне кажется что должно быть такое для всех ПЛИС, просто это может быть скрыто от простых смертных... В силу того, что XLNX - fabless компания, то к тестированию на всех технологических этапах предъявляются серьезные требования. Тестируют все - от пластин до корпусов. На моей памяти, по микросхемам, поставленным по официальному каналу, отказов не было. Если нужен конкретный перечень тестов на фабрике, то уточните, пожалуйста, на каком этапе (резка пластины, упаковка кристалла, конечные тесты и т.д.), почему появилась такая потребность, и для каких типов микросхем (индустриальные, милитари, космические и пр.). При серьезном подходе вся эта эта информация может быть получена.
|
|
|
|
|
May 4 2012, 08:20
|

Местный
  
Группа: Свой
Сообщений: 218
Регистрация: 2-02-09
Из: Харьков
Пользователь №: 44 266

|
Цитата(curly07 @ May 4 2012, 10:40)  В силу того, что XLNX - fabless компания, то к тестированию на всех технологических этапах предъявляются серьезные требования. Тестируют все - от пластин до корпусов. На моей памяти, по микросхемам, поставленным по официальному каналу, отказов не было. Если нужен конкретный перечень тестов на фабрике, то уточните, пожалуйста, на каком этапе (резка пластины, упаковка кристалла, конечные тесты и т.д.), почему появилась такая потребность, и для каких типов микросхем (индустриальные, милитари, космические и пр.). При серьезном подходе вся эта эта информация может быть получена. Интересует выходной контроль готового кристалла....для industrial исполнения....потребность появилась потому, что нет уверенность что что-то не дохлое...на рынке часто отбраковку пихают + почему все этим так интересуются, может я в гараже хочу ПЛИС-ы делать  .... у вас есть информация по методам фабричного выходного контроля? Цитата На моей памяти, по микросхемам, поставленным по официальному каналу, отказов не было. Ну это не значит, что их нет или не бывает....а доверять этим устройствам у меня нет оснований...разве что, если б они состояли из реле 1-го класса надежности =)
|
|
|
|
|
May 4 2012, 09:01
|

Местный
  
Группа: Свой
Сообщений: 401
Регистрация: 6-10-04
Из: Воронеж
Пользователь №: 806

|
Цитата(ADA007 @ May 4 2012, 12:20)  Интересует выходной контроль готового кристалла....для industrial исполнения....потребность появилась потому, что нет уверенность что что-то не дохлое...на рынке часто отбраковку пихают + почему все этим так интересуются, может я в гараже хочу ПЛИС-ы делать  .... у вас есть информация по методам фабричного выходного контроля? Ну это не значит, что их нет или не бывает....а доверять этим устройствам у меня нет оснований...разве что, если б они состояли из реле 1-го класса надежности =) 1) Интересно, Вы не доверяете фирме . Зачем тогда вам ее какието тесты. А интелу, самсунгу, резисторам и конденсаторам значит верите просто??? На плате одна ПЛИС? Или у Вас для них тоже тесты по 9 приемке? Почему требования только к Xilinx? 2) Сделать по такой технологии в гараже - , пожалуйста. 3) У Вас нет такого оборудования как у фирмы. Тестер стоит очень прилично. И он измеряет не только цифровые вещи,а их совокупность. Качество микросхемы это и уровни, и токи и гарантированная времянка(сертифицированоое оборудование). http://www.sovtest.ru/sites/default/files/J750_FLEX.pdfПочитайте. Точносту установки строба, измеритель тока и т.д..... 4) Напишите и скажите как Вы будете тестировать хотя бы внутреннее ОЗУ или умножитель и сколько для этого тестов по Вашему нужно?
|
|
|
|
Сообщений в этой теме
sacha внутреннее тестирование FPGA Mar 12 2009, 19:00     Torpeda Цитата(klop @ May 4 2012, 09:24) Нету ник... May 4 2012, 10:06      ADA007 Цитата(Torpeda @ May 4 2012, 13:06) Отбра... May 4 2012, 11:21       Torpeda Цитата(ADA007 @ May 4 2012, 14:21) Да, по... May 4 2012, 12:01        ADA007 Цитата(Torpeda @ May 4 2012, 15:01) 3) Др... May 8 2012, 10:57 sacha Большое спасибо всем за ответы.
Тестирование FPGA ... Mar 13 2009, 08:44 yes у Ксайлинса есть так называемое EASYPATH solution,... Mar 13 2009, 10:34 jojo >Я так понял, что задача тестирования ядра наду... Mar 13 2009, 09:18 Sefo Цитата(yes @ Mar 13 2009, 13:34) у Ксайли... Mar 13 2009, 11:00 o-henry Цитата(Sefo @ Mar 13 2009, 13:00) Вы что-... Mar 13 2009, 12:34 DmitryR Цитата(Sefo @ Mar 13 2009, 14:00) Вы что-... Mar 13 2009, 12:36 sacha Уважаемые гуру.
Существует в природе редактор, поз... Mar 13 2009, 12:42 o-henry Цитата(sacha @ Mar 13 2009, 14:42) Уважае... Mar 13 2009, 12:51 vitan Если ПЛИС поддерживает команду INTEST, то можно ис... May 4 2012, 06:28 klop Цитата(vitan @ May 4 2012, 09:28) Если ПЛ... May 4 2012, 06:33  vitan Цитата(klop @ May 4 2012, 10:33) Почитайт... May 4 2012, 07:14 Pathfinder 1) Тесты затем, что иногда компоненты отказывают.
... May 4 2012, 09:19 litv Цитата(Pathfinder @ May 4 2012, 13:19) 1)... May 4 2012, 09:28  Мур Цитата(litv @ May 4 2012, 12:28) 1)Xilinx... May 4 2012, 09:50 Джеймс Цитата(Pathfinder @ May 4 2012, 13:19) 1)... May 5 2012, 16:36  artix Цитата(Джеймс @ May 5 2012, 20:36) Ну и ч... May 5 2012, 17:04 Pathfinder Неполная индукция не имеет логической доказательно... May 4 2012, 09:42
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0
|
|
|