реклама на сайте
подробности

 
 
> Антенный эффект в КМОП-технологии, Нужна помощь по опредению критериев антенны
TiNat
сообщение Jan 10 2013, 17:45
Сообщение #1


Частый гость
**

Группа: Свой
Сообщений: 100
Регистрация: 15-09-12
Пользователь №: 73 555



Добрый день. Нужна помощь опытных специалистов. Столкнулись с вопросами антенного эффекта (ANTENNA RULES). Необходимо подобрать критерий, по которому определять - является ли данная шина металла\ПКК антенной для подключенного подзатворного окисла. В зарубежных фабриках\PDK обычно стоит цифра 100, 200, на некоторых бывает и более. Может кто-нибудь знает, по каким методикам выбирается данное соотношение? Какие тесты необходимо разработать? Как их правильно измерять? Понятно, что тут необходимы статистические методы. Наше понимание ограничено тем, что необходимо разработать тесты с разным периметром подключенных шин. Но далее? Отбраковывать нужно по проценту пробитых подзатворных? либо по количественному ухудшению времязависимого пробоя до какой-то степени? Может кто-нибудь сталкивался в современной литературе с таким вопросом? Тогда был бы благодарен за ссылочку. Спасибо.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
 
Start new topic
Ответов
alexxaxa
сообщение Jan 16 2013, 16:30
Сообщение #2


Знающий
****

Группа: Свой
Сообщений: 621
Регистрация: 18-01-06
Пользователь №: 13 343



Все продвинутые фабрики используют для квалификации своего
технологического процесса JEDEC STANDARD.
В частности наиболее информативным является JEDEC стандарт
JP001 FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES (Wafer Fabrication Manufacturing Sites).
По вашему вопросу смотрите в нем например таблицу 10.3.1 P2ID test requirements, где есть
Reference procedure, Test parameters, Test structures и так далее.
Так что всегда начинайте раскручивать вопрос со стандартов.
Go to the top of the page
 
+Quote Post



Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 29th June 2025 - 16:38
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.0137 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016