Как проверить временные характеристики ПЛИС? Опции

[ISK]

Есть проект на альтеровских FPGA. Выпустили 10 плат, проверили, всё работает. Через время закупили новую партию микросхем, сделали новые платы, и в некоторых проявились проблемы. Разные платы по-разному подглючивают. Есть подозрение на времянку. Возник вопрос, можно ли как-то проверить, отличается ли быстродействие микросхем одной партии от другой? Может уже кто-нибудь делал подобное? Скажем, подавать на вход импульс, и замерять задержку на выходе? Хотя хотелось бы это как-то делать это программно.

[litv]

Надо овладеть синхронным проектированием и заданием грамотных констрейнс .
При таких же вопросах проблема была не в ПЛИС вообще - прочтите http://electronix.ru/forum/index.php?showt...=109546&hl= .
ПЛИС можно не тестировать.

[ISK]

ПЛИС можно не тестировать.

Ну а если всё-таки потестировать? Я тоже не исключаю проблемы с констрейнами и даже догадываюсь где именно. Но меня интересует сам факт, можно ли как-то увидеть, есть ли разница (хоть минимальная) во временных характеристиках разных кристаллов?

[Bad0512]

Ну а если всё-таки потестировать? Я тоже не исключаю проблемы с констрейнами и даже догадываюсь где именно. Но меня интересует сам факт, можно ли как-то увидеть, есть ли разница (хоть минимальная) во временных характеристиках разных кристаллов?

Если чипы из обеих партий одного и того же спидгрейда, то это означает лишь то, что временные характеристики их будут _НЕ_ХУЖЕ_ заявленных в даташитах во всём рабочем диапазоне температур.
Но вполне могут оказаться и лучше. Насколько лучше - не регламентируется.Потому что это абсолютно неважно в случае синхронного дизайна.
Измерять эти характеристики вряд ли имеет смысл, кроме того сама методика измерений - вопрос нетривиальный.