Тестирование, JTAG? Опции

[dmitry-tomsk]

Может кто решал задачи быстрого тестирования пайки плис для больших серий?
Можно ли через jtag всё сделать или надо было на плате что-нибудь для этого предусмотреть?
В частности, есть bga плис и bga ddr, с их пайкой постоянные проблемы, как быстро можно проверить на пропай шариков электрическим методом?

[Inanity]

Для boundary scan нужно, чтобы все компоненты имели JTAG, а у памяти его нет. В данном случае JTAG сканирование ПЛИС выдаст ошибку, только в случае короткого замыкания между выводами ПЛИС, подключенными к памяти. Если это корпус BGA, то вероятность такого события крайне мала, чаще бывает непропай, который данное сканирование не сможет определить. По-моему проще написать под ПЛИС прошивку для теста памяти и периферии.

[iosifk]

Для boundary scan нужно, чтобы все компоненты имели JTAG, а у памяти его нет. В данном случае JTAG сканирование ПЛИС выдаст ошибку, только в случае короткого замыкания между выводами ПЛИС, подключенными к памяти. Если это корпус BGA, то вероятность такого события крайне мала, чаще бывает непропай, который данное сканирование не сможет определить. По-моему проще написать под ПЛИС прошивку для теста памяти и периферии.

Высказывание совершенно неверное!
Да, у памяти нет порта для сканирования, поэтому она воспринимается как "черный ящик"... И если на плате есть ПЛИС, то скорее всего это плату можно просканировать вместе с памятью и всем остальным... А вот "тестовые прошивки" еще загрузить надо...
Кстати, непропай олично определяется сканированием.