Тестирование кристаллов mixed signal, как это делается в принципе, что для этого готовить? Опции

[SM]

У меня пока был опыт разработки цифровых ИМС, с тестированием которых было все понятно. Отдаем тест-вектор в виде .vcd-файла, сошлось-не-сошлось. А вот к чему готовиться с миксед-сигнальной ИМС, в составе которой есть процессор с кучей периферии, несколько АЦП/ЦАП, усилители, куча ключей для пропуска анал. сигналов разными путями, супервизор, ШИМ/LDO-контроллер (аналоговый, для DC/DC и стабилизаторов, но с переключаемыми из ядра параметрами), встроенный источник тактовой частоты (от ШИМ-контроллера). Я себе пока просто не представляю, как этой ИС делать выходной контроль. Знающие люди, опишите хотя бы примерно, как это делается, в каком софте что и как готовить, вообще - с чем это едят.

[-=Sergei=-]

У меня пока был опыт разработки цифровых ИМС, с тестированием которых было все понятно. Отдаем тест-вектор в виде .vcd-файла, сошлось-не-сошлось. А вот к чему готовиться с миксед-сигнальной ИМС, в составе которой есть процессор с кучей периферии, несколько АЦП/ЦАП, усилители, куча ключей для пропуска анал. сигналов разными путями, супервизор, ШИМ/LDO-контроллер (аналоговый, для DC/DC и стабилизаторов, но с переключаемыми из ядра параметрами), встроенный источник тактовой частоты (от ШИМ-контроллера). Я себе пока просто не представляю, как этой ИС делать выходной контроль. Знающие люди, опишите хотя бы примерно, как это делается, в каком софте что и как готовить, вообще - с чем это едят.

Ну.... для начала вопрос попроще задать, а то на как мерить аналоговые микросхемы можно книгу написать.

Идея таже что и в цифре. Т.е. что то задаем на вход, и смотрим что получили на выходе. Если в цифре задаются 0 или 1, то в аналоге уровень, форма сигнала, и прочие характеристики аналоговых сигналов соответсвенно которые задаем и контралируем.

Например проверка АЦП. в виде векторов пишем программку для проца по проверку получаемого от АЦП значения, т.е. например если мы на вход АЦП подаем некий уровень его цифровое представление выдается на какой либо порт микросхемы, и тестовая установка задает этот уровень, прогоняет вектора, все совпало - идем далее , нет сбой АЦП. Далее по ГОСТу на измерение АЦП, т.е. проврка всех комбинаций от 0000 до FFFF, зависимость от темпиратуры, питания итп

ЦАП тоже самое, но теперь мы тестовой установке задаем, что при прогоне векторов в такой то и такой то момент времени на таком то выходе долежн быть уровень от и до.... , если да, то все ок, нет сбой ЦАП.

вообщем в идеале, от вас тестировшикам передаются те же вектора и словесное описание где и как и в какие моменты мерить аналоговое или задавать аналогове.

Где кстати тестить собираетесь? в своем измерительном центре или в каком либо тестхаусе ?

[SM]

Где кстати тестить собираетесь? в своем измерительном центре или в каком либо тестхаусе ?

там же на фабе, в тайване, где и печь, и корпусировать. Пока им эти вопросы не задавал, чтобы совсем лохом не выглядеть

PS а где же еще, как не на фабе, если они подключаются прямо на пластину, еще до скрайбирования.

[-=Sergei=-]

Где кстати тестить собираетесь? в своем измерительном центре или в каком либо тестхаусе ?

там же на фабе, в тайване, где и печь, и корпусировать. Пока им эти вопросы не задавал, чтобы совсем лохом не выглядеть

PS а где же еще, как не на фабе, если они подключаются прямо на пластину, еще до скрайбирования.

Ну можно например тут - НТЦ МП
http://www.milandr.ru/company/m-center

[SM]

Ну можно например тут - НТЦ МП
http://www.milandr.ru/company/m-center

Не, не пойдет... Надо китай или тайвань. Не возить же сюда пластины, чтобы их потестили, а потом обратно, чтобы порезали, корпусировали (еще раз протестили после корпусирования!!!) и запаяли.