Я пробовал trial версию Universal Scan. Работает и вроде даже нечего, но для комплексного тестирования, мне кажется, что не подойдет. В обшем можно посмотреть/поменять состояние отдельных контактов. Если, например, мне нужен комплексный тест довольно сложной платы, на которой стоит пять BGA-шек сильно связанных между собой, микросхемы памяти и т.д. и все это завязано по JTAG, для такого теста видимо нужно писать что-то свое.
|