Использование Boundary Scan Опции

[_blurred]

Кто пользовался Boundary Scan для тестирования устройств на ПЛИС? Пожалуйста, поделитесь опытом.

[alex_k]

Я пробовал trial версию Universal Scan. Работает и вроде даже нечего, но
для комплексного тестирования, мне кажется, что не подойдет. В обшем
можно посмотреть/поменять состояние отдельных контактов. Если, например,
мне нужен комплексный тест довольно сложной платы, на которой стоит пять
BGA-шек сильно связанных между собой, микросхемы памяти и т.д. и все это завязано по JTAG, для такого теста видимо нужно писать что-то свое.

[acex2]

Я пробовал trial версию Universal Scan. Работает и вроде даже нечего, но
для комплексного тестирования, мне кажется, что не подойдет. В обшем
можно посмотреть/поменять состояние отдельных контактов. Если, например,
мне нужен комплексный тест довольно сложной платы, на которой стоит пять
BGA-шек сильно связанных между собой, микросхемы памяти и т.д. и все это завязано по JTAG, для такого теста видимо нужно писать что-то свое.

Для таких вещей подойдет какой-нибудь более серьезный JTAG пакет, чем Universal Scan. Например, от Asset. В нем присутствует функция автоматического построения тестов для проверки соединений путем импорта схемы.

Правда, учитывая стоимость таких пакетов, для небольших серий проще написать свой софт.