Проблемы с Universal Scan Опции

[Юрий Захаров]

Хочу протестировать печатную плату с помощью JTAG.
В JTAG цепи две микросхемы XC2C64 и XC2C256. В программе JTools МС нормально определяются, пишет, что ошибок нет. Программа UniversalScan показывает на каких выводах МС высокий потенциал, а на каких низкий, но то, что показывает программа не соответствует действительности (на выводе 0 В, а программа говорит, что высокий потенциал, такой же как на выводе, на котором +3,3 В). Соответственно не о каком тестировании платы речи идти не может.
С чем это может быть связанно? Как эту проблему решить?

[Юрий Захаров]

Как и пологается вопрошающему в подфоруме для чайников, ошибся глупо (на вывод наводился высокий потенциал, и программа его показывала, но осциллограф этот потенциал не показывал т.к. вывод через щуп разряжался, плюс смотрел не в режиме EXTEST). А как наглядно увидеть в прогремме Universal Scan отличие между INTEST и EXTEST? Спасибо!

Сообщение отредактировал Юрий Захаров - Jun 22 2007, 10:31

[iosifk]

Как и пологается вопрошающему в подфоруме для чайников, ошибся глупо (на вывод наводился высокий потенциал, и программа его показывала, но осциллограф этот потенциал не показывал т.к. вывод через щуп разряжался, плюс смотрел не в режиме EXTEST). А как наглядно увидеть в прогремме Universal Scan отличие между INTEST и EXTEST? Спасибо!

Чтобы увидеть в каком состоянии находится микросхема надо по изображению микросхемы кликнуть правой кнопкой мыши. Открывается окошко "Свойства девайса". Там и выбирается режим.
Удачи!
Кстати, а какой Uscan используете?

[Юрий Захаров]

Чтобы увидеть в каком состоянии находится микросхема надо по изображению микросхемы кликнуть правой кнопкой мыши. Открывается окошко "Свойства девайса". Там и выбирается режим.
Удачи!
Кстати, а какой Uscan используете?

Пользуюсь Universal Scan 9.2a. В каком состоянии находится микросхема я могу посмотреть, но я не вижу различия между EXTEST и INTEST. В обоих режимах выставляются потенциалы на выводы микросхем. И в учебной программе я не заметил отличий, вроде, одинаково сдвигаются данные. Как бы мне создать ситуацию при которой различия между этими состояниями стали бы заметны.

[iosifk]

Пользуюсь Universal Scan 9.2a. В каком состоянии находится микросхема я могу посмотреть, но я не вижу различия между EXTEST и INTEST. В обоих режимах выставляются потенциалы на выводы микросхем. И в учебной программе я не заметил отличий, вроде, одинаково сдвигаются данные. Как бы мне создать ситуацию при которой различия между этими состояниями стали бы заметны.

долго описывать. Почитайте мои статьи на сайте, те которые были в Совр.Электр.
Если внутри микросхемы на пин выводится 0, а снаружи приходит 1, то тогда и увидите разницу между EXTEST и INTEST.
Кстати, 9.2 триал или уже есть лекарство?

[Юрий Захаров]

долго описывать. Почитайте мои статьи на сайте, те которые были в Совр.Электр.
Если внутри микросхемы на пин выводится 0, а снаружи приходит 1, то тогда и увидите разницу между EXTEST и INTEST.
Кстати, 9.2 триал или уже есть лекарство?

Спасибо за ответ!

9.2 триал. Ещё 7 дней осталось, может потом контора оплатит, а может и нет. UniScan подходит для тесирования одной "рыжей" платы, на предмет замыканий, что хорошо.
Но генеральная задача состоит в том, чтобы после монтажа серии плат, люди, которые ничего не знают о ней (принципиальную схему, прошивки и т.д.) смогли бы её протестировать. Грубо говоря, запустили программу, нажали "Тест" и на выходе получили список предполагаемых нежелательных замыканий.
Если я правильно понял, то для этой цели больше всего подходит "Путь №2" или "Обычный" из вашей статьи в Сов. Эл. Так ли это? Или с помощью UniScan тоже можно? Если можно, то проще ли это?

[iosifk]

Спасибо за ответ!

9.2 триал. Ещё 7 дней осталось, может потом контора оплатит, а может и нет. UniScan подходит для тесирования одной "рыжей" платы, на предмет замыканий, что хорошо.
Но генеральная задача состоит в том, чтобы после монтажа серии плат, люди, которые ничего не знают о ней (принципиальную схему, прошивки и т.д.) смогли бы её протестировать. Грубо говоря, запустили программу, нажали "Тест" и на выходе получили список предполагаемых нежелательных замыканий.
Если я правильно понял, то для этой цели больше всего подходит "Путь №2" или "Обычный" из вашей статьи в Сов. Эл. Так ли это? Или с помощью UniScan тоже можно? Если можно, то проще ли это?

тут надо брать более мощные программы.
onTAP, ScanWorks.
Есть еще и scanseer и http://www.jtag.ru/.
Игорь - автор этой программы - jtool, должен связаться со мной в течении нескольких дней. У него программа как раз недорогая и она предназначена для сравнения образца с испытуемой платой. Но пока он подробно не объяснит мне как именно производится тестирование, до тех пор я о ней пока ничего говорить не буду.
А я делал именно так - писал "проигрыватель паттернов". Далее был набор паттернов в виде текстовых файлов. И ручной разбор нетлиста. Сейчас я в фоновом режиме попытаюсь сделать разбор нетлиста чтобы автоматически генерить тесты.
Сказать, что самодельный софт проще - нет... Но и глобальных хитростей в нем нет. Разбор BSDL можно сделать и руками - вырезать из файла кусок и оформить его в виде таблицы. А далее только работа с массивами или со строками. И база данных или таблицы...
Но используя его, я всегда знаю, что проверялось и как именно... А вот как генерятся тесты в фирменных программах - это их тайна.
Удачи!