измерение S-параметров микросхемы Опции

[serega_sh]

Как измерить S-параметры устройства (усилителя или диода) пусть даже на 1 частоте.
1. Если я измеряю S11 то на 2 порте Z=50? как это сделать? ведь до выхода стоит цепь согласования, которая приводит к 50Омам.
2. Как измерить S12 ?
Как буржуины это делают? Подскажите может литературу.

Мое предположение: собирают устройство (напр: LNA), настраивают его, измеряют что нужно. Далее выковыривают микросхему и измеряют параметры цепи согласования. Но как потом нормируют и приводят это измерение к 50 Омам? Если так и делают

Из измерительных устройств есть всё (даже векторный анализатор)

[serega_sh]

Простите опечатался:
исправить при прочтении аналогдевайс на Агилент.
Агилент более 300МГц измеряет только пассив! Приведите пример измерения активных эл...ов. Хотябы ссылочку. Пока невижу грамотного решения без использования разборных плат согласования (in, out) чтобы после настройки с микросхемой, измерить параметры без микросхемы подключив конт.приспособы.
У этого способа есть большой недостаток - стоимость, и малое количество иттераций изза разрушения и загрязнения плат (армированый фторопласт FR, Rogers).

Активные пробники которые цепляются на ногу (без разборки узла) - это не серьезно (сигнал наводится оч. хорошо на них, при включении получается несогласование - сигнал падает, на частотах более 1 ГГц их обычно неиспользуют, на хорошо согласованых цепях сигнал в пробник непойдет)

Контактные устройства как в http://electronix.ru/forum/index.php?showtopic=35119 помоему неизмерят реальные параметры СВЧ, НЧ измеряют (частот этак до 300).

Несогласованные цепи нельзя применять. В анализаторах входы 50 Ом.

[EVS]

Агилент более 300МГц измеряет только пассив!

Не обижайте Agilent.
Из описания HP 8517:
The HP 8517B test set configured with an HP 8510B/C network analyzer and an HP 8360 series source, creates a system capable of making S-parameter measurements from 45 MHz to 50 GHz.
The system is particularly suited for making two-port device measurements. You can measure all four S-parameters without physically reversing the DUT (device under test).
The system is also designed for making measurements on non-reciprocal devices or components like transistors, amplifiers or isolators where S measurements are required.
For active-device measurements, two bias tees apply external DC bias to both test port center conductors.