Минимизация проверки ячейки памяти Опции

[Guest_Serg79_*]

Требуется проверять правильную работу регистров общего назначения (РОН) и оперативной памяти (ОЗУ) двумя значениями: 0x55 (01010101b) и 0xAA (10101010b). Вопрос заключается в том, что бы сделать это с минимальным количеством используемых команд (это значит максимальное быстродействие и минимально занимаемое место во FLASH).

Для 16 старших РОН (r16-r31) удалось все свести к четырем командам:

Код

ldi r16, 0x55
com r16
subi r16, 0xAA
err: brne err

Я так думаю, дополнительно минимизировать проверку 16 старших РОН, уже не представляется возможным (все таки через ячейку памяти надо прогнать два значения).

А вот для первой половины РОН и ячеек памяти ОЗУ у меня такого однозначного решения нет. Вот и обращаюсь к коллективному разуму, что бы общими силами найти самое что ни есть оптимальное решение этой задачи.

P.s. Здесь не обсуждается вопрос целесообразности всех этих проверок. Главная подымаемая здесь тема, это найти оптимальное решение для данной задачи. Так что, прошу не флеймить. Заранее всех благодарю.

[Vasia Klin]

Вообще говоря, надёжность и безопасность не совсем одно и тоже. Ситема может быть ненадёжна, но безопасна. НАДЁЖНОСТЬ = БЕЗОПАСНОСТЬ только в том случае, если к опасным последствиям приводит выход из строя любого элементарного элемента системы. В реальных системах при средней наработке на отказ 30000 - 50000 тыс. часов. интенсивность опасного отказа системы должна составлять 10^-10 - 10^-11. Безопасную систему трудно построить на одном процессоре. Применяються дублированные и троированные системы в которых производиться параллельная обработка информации. Производиться сравнение (или мажоритирование конечных результатов). Это ни есть резервирование. Тестироваться в системе должно ВСЁ. Программы в процессорах должны быть самопроверяемы. Производяться тесты всех переферийных узлов процессоров.
Транзисторные ключи не применяються для включения исполнительных устройств. Хоть тысячу соедини и последовательно-парралельно. Любой полупроводниковый компонент является элементом с симметричным отказом, т.е. в случае выхода из строя, например диод, примерно с равной степенью вероятности может оказаться в состоянии пробоя или замыкания.

[Дон Амброзио]

Вообще говоря, надёжность и безопасность не совсем одно и тоже. Ситема может быть ненадёжна, но безопасна. НАДЁЖНОСТЬ = БЕЗОПАСНОСТЬ только в том случае, если к опасным последствиям приводит выход из строя любого элементарного элемента системы. В реальных системах при средней наработке на отказ 30000 - 50000 тыс. часов. интенсивность опасного отказа системы должна составлять 10^-10 - 10^-11. Безопасную систему трудно построить на одном процессоре. Применяються дублированные и троированные системы в которых производиться параллельная обработка информации. Производиться сравнение (или мажоритирование конечных результатов). Это ни есть резервирование. Тестироваться в системе должно ВСЁ. Программы в процессорах должны быть самопроверяемы. Производяться тесты всех переферийных узлов процессоров.
Транзисторные ключи не применяються для включения исполнительных устройств. Хоть тысячу соедини и последовательно-парралельно. Любой полупроводниковый компонент является элементом с симметричным отказом, т.е. в случае выхода из строя, например диод, примерно с равной степенью вероятности может оказаться в состоянии пробоя или замыкания.

Согласен коллега.. От себя лишь хочу добавить следющую мысль, расширяющую наши представления о надёжности..


Как Вы считаете, что более надёжно:

1) Вероятность сбоя устройства равна 10 в минус 9 степени; вероятность того, что этот сбой система не обнаружит (не зарегистрирует) и соотвтетственно не предпримит ни каких мер равна 50%
2) Вероятность сбоя устройства равна 10 в минус 3 степени; вероятность того, что этот сбой система не обнаружит (не зарегистрирует) и соотвтетственно не предпримит ни каких мер равна 0,0000001%

И что более надёжно? "Надёжная" система, сбои которой просто не обнаруживаются
или "ненадёжная" система, у которой 99,99999999% сбоев обнаруживаются и предпринимаются соответствующие меры по устранению их последствий