реклама на сайте
подробности

 
 
> RF Fixture
lexa12
сообщение Dec 19 2010, 07:28
Сообщение #1


Частый гость
**

Группа: Свой
Сообщений: 196
Регистрация: 6-10-10
Из: Санкт-Петербург
Пользователь №: 59 971



Добрый день!
Не сталкивался ли кто-нибудь с проектированием ВЧ фикстур и пробников(см. рис.)? Не подскажете статьи или книги на эту тему?
И в каких программных пакетах их лучше проектировать?

Пока нашел только сайты двух фирм занимающихся чем-то подобным:
http://www.se-group.com/icm/index.htm
www.cascademicrotech.com
Эскизы прикрепленных изображений
Прикрепленное изображение
 
Go to the top of the page
 
+Quote Post
 
Start new topic
Ответов
lexa12
сообщение Dec 19 2010, 11:01
Сообщение #2


Частый гость
**

Группа: Свой
Сообщений: 196
Регистрация: 6-10-10
Из: Санкт-Петербург
Пользователь №: 59 971



А пример такой конструкции в CST или в HFSS можно найти? sm.gif
И возможно ли вместо CST использовать HFSS?

добавлю, что нашел некоторую информацию в книге Microwave Measurements Edited by R.J. Collier and A.D. Skinner
Go to the top of the page
 
+Quote Post
khach
сообщение Dec 19 2010, 11:22
Сообщение #3


Гуру
******

Группа: Свой
Сообщений: 3 439
Регистрация: 29-12-04
Пользователь №: 1 741



Цитата(lexa12 @ Dec 19 2010, 16:01) *
А пример такой конструкции в CST или в HFSS можно найти? sm.gif
И возможно ли вместо CST использовать HFSS?

Готовых проектов нет, но где-то опубликованные результаты моделирования встречал. Главная проблема- неизвестен угол контакта пробы к плате. Чуть от изменился - модель пошла "коту под хвост". Этот угол зависит от усилия прижима и упругости зонда. Т.е приходилось (до появления мультифизики) моделировать в двух моделяторах- в CST (был в наличии) и Abacus (механический моделятор) а для него-долго изобретать модель упругого микрокоаксиального кабеля с оболочкой из бронзовой трубы (для упругости).
Самое противное- непостоянное усилие прижима сводит на нет калибровку по эталонным структурам. Поэтому очень важна повторяемость контакта- одинаковая толщина подложки у эталона и у рабочей структуры, контроль усилия прижатия или контроль угла деформации зонда (например по отраженному лазерному лучу, как в AFM микроскопах). Хотя это все становится важно на десятках ГГц, ниже по частотам оно менее напрягает.
Go to the top of the page
 
+Quote Post



Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 19th August 2025 - 22:46
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.01379 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016