измерение нелинейного вх. импеданса СВЧ транзистора Опции

[Alex_IC]

Доброго времени суток!

Возникла необходимость провести измерение входного импеданса LDMOS СВЧ транзистора в нелинейном режиме (Рвх около 1 Вт). Думаю сделать это с помощью измерительной линии. Проводил ли кто нибудь такие измерения? Какие могут быть "подводные камни"? Может это вообще по другому надо делать, тогда как?

[khach]

Кстати, до НЕЛИНЕЙНОГО импеданса мы то еще и не добрались, застряли на измерении линейного. А вообще то обычные векторные нетворканалайзеры при сильном сигнале меряют не усредненные S-параметры, а параметры для какого то определенного фазового сдвига между тестовым сигналом и гетеродинным сигналом СВЧ самплеров. Я говорю о классической схеме VNA c тремя SPD (sampling phase detector). Для корректного измерения НЕЛИНЕЙНЫХ S-параметров VNA должен обеспечивать плавную перестройку по фазе момента срабатывания SPD. Кто какие модели VNA знает, которые имеют такой режим?

[rloc]

Кстати, до НЕЛИНЕЙНОГО импеданса мы то еще и не добрались, застряли на измерении линейного. А вообще то обычные векторные нетворканалайзеры при сильном сигнале меряют не усредненные S-параметры, а параметры для какого то определенного фазового сдвига между тестовым сигналом и гетеродинным сигналом СВЧ самплеров. Я говорю о классической схеме VNA c тремя SPD (sampling phase detector). Для корректного измерения НЕЛИНЕЙНЫХ S-параметров VNA должен обеспечивать плавную перестройку по фазе момента срабатывания SPD. Кто какие модели VNA знает, которые имеют такой режим?

Если мне не изменяет память, семплирование на SPD идет на частоте, смещенной относительно тестового сигнала на значение промежуточной частоты, т.е. с разными фазами, иначе как нам определить амплитуду и фазу или надо делать квадратурный фазовый семплер. В принципе за счет того, что гетеродины синтезируются на ФАПЧах из одного кварцевого генератора, мы можем узнать разницу фаз между ними и использовать ее для наших измерений большесигнальных S-параметров. Остается под вопросом возможность вытянуть из прибора информацию о фазе или хотя бы получить просто оцифрованный сигнал со всех АЦП.
Интуиция подсказывает, на SPD можно сделать некоторый аналог NVNA Mesuro/Tektronix MB20, построенного на базе стробоскопического осциллографа.

[Transcend]

Остается под вопросом возможность вытянуть из прибора информацию о фазе или хотя бы получить просто оцифрованный сигнал со всех АЦП.

Думаю, Khach намекал, что линию можно заменить синтезатором частоты DDS с произвольно задаваемой фазой. В линии детектор механически двигается по линии, а тут двигается фаза вместо этого, а детектор "приделан" к "клемме" транзистора жостко. Т.е. какбы линия "наоборот" - кверху фазой, т..е.
Если правильно понял, конечно...

[khach]

Думаю, Khach намекал, что линию можно заменить синтезатором частоты DDS с произвольно задаваемой фазой.

Одна из возможных реализаций. Все проблема в том, что двухсигнальные NVNA показывают чушь. Т.е когда один генератор служит для установки рабочего режима транзистора, а второй, с небольшой расстройкой от первого- измерительный.
Надо возвращаться к time- domain измерениям, можно их же назвать сробоскопическим осциллографом многоканальным. Кстати, подход Verspecht-Teyssier-DeGroote именно такой- линия служит для согласования импеданса исследуемого транзистора с 50 омной линией накчки и нагрузки. Согласование достигается конечно только на одной конкретной частоте, и для снятия следующей точки по частоте нужна перестройка тюнера. Но rf pickup- измерительный зонд VNA расположен со стороны транзистора (на неизвестном нелинейном импедансе). И семплирующие головки снимают полную time- domain характеристику сигнала стробоскопически методом (например управляемым сдвигом фаз синтезатора гетеродина семплера). Отсуюда получаем осциллограму 1 периода СВЧ колебания, вернее 3 или четыре- падающую, отраженную, прошедшую, с извесными фазовыми зависимостями между ними. Ну а уж что длать с ними дальше- зависит о принятой методики разарботки. Кто-то работает с временной диаграммой, кто-то с треком рабочей точки на ВАХ, кто- то делает таблицы S-параметров для каждой точки по уровню сигнала. Устоявшейся методики пока нет.