реклама на сайте
подробности

 
 
3 страниц V  < 1 2 3  
Reply to this topicStart new topic
> Старение IGBT в инверторе и изменения параметров, И не тольно IGBT, но и других елементов
Александр Козлов
сообщение Sep 6 2013, 15:54
Сообщение #31


Частый гость
**

Группа: Участник
Сообщений: 157
Регистрация: 27-02-13
Пользователь №: 75 812



Старение полупроводниковых структур науке неизвестно.
Вот если мгновенная мощность на транзисторах слишком большая, то можно ожидать полных отказов транзистора или части структуры (ухудшение параметров). Если транзисторы применены корректно, то вопрос просто не возникнет.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
x-men
сообщение Sep 6 2013, 16:04
Сообщение #32


Местный
***

Группа: Участник
Сообщений: 209
Регистрация: 25-09-07
Пользователь №: 30 817



Цитата(Александр Козлов @ Sep 6 2013, 21:54) *
Старение полупроводниковых структур науке неизвестно.
Вот если мгновенная мощность на транзисторах слишком большая, то можно ожидать полных отказов транзистора или части структуры (ухудшение параметров). Если транзисторы применены корректно, то вопрос просто не возникнет.

Процесс диффузии никто не отменял и он в какой то мере имеет место. + хоть и не космос, но какая то доля облучения может в незначительно мере влиять.
Долгоременная стабильность один из самых малоизученных параметров, потому что требует время для определения. А сейчас же все побыстренькому: время - деньги. Мало стало например ОУ для которых указывается временной дрейф смещения и т.п.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
In_an_im_di
сообщение Sep 6 2013, 16:18
Сообщение #33


Местный
***

Группа: Участник
Сообщений: 454
Регистрация: 20-11-09
Из: Зеленоград
Пользователь №: 53 762



Цитата(Александр Козлов @ Sep 6 2013, 19:54) *
Старение полупроводниковых структур науке неизвестно.

Вас просто этому не учили. Наука тут непричём.

Тема старения и деградации пп структур настолько обширна, что даже примеры приводить как-то смысла нет.

Go to the top of the page
 
+Quote Post
gte
сообщение Sep 6 2013, 17:13
Сообщение #34


Гуру
******

Группа: Свой
Сообщений: 2 318
Регистрация: 13-02-05
Из: Липецкая область
Пользователь №: 2 613



Цитата(Tiro @ Aug 29 2013, 01:14) *
Возможно Вы имели в виду технологов полупроводников?

Да.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
SmartRed
сообщение Sep 7 2013, 15:18
Сообщение #35


Местный
***

Группа: Свой
Сообщений: 302
Регистрация: 27-05-05
Из: Новосибирск
Пользователь №: 5 466



Лет 10 назад приезжал к нам в Энск супостат из Epcos с семинаром.
Показывал он нам презентацию, было там и о деградации силовых приборов.
Основной воздействующий фактор - термоциклы!

Под действием термоциклов разрушается сам кристалл, а также кристалл отваливается от основания.
Причем второе наступает в 10 раз быстрее первого у приборов на медном основании с изоляцией из оксида алюминия.

Выпустив приборы на основании из AlSiC с изоляцией из нитрида алюминия они в 5 раз улучшили устойчивость модуля к термоциклам.

Самих цифр тогда к сожалению раздобыть не удалость. [censored] отказался делиться информацией sad.gif

Сообщение отредактировал Herz - Sep 7 2013, 19:23
Go to the top of the page
 
+Quote Post
khach
сообщение Sep 7 2013, 16:47
Сообщение #36


Гуру
******

Группа: Свой
Сообщений: 3 439
Регистрация: 29-12-04
Пользователь №: 1 741



Цитата(Александр Козлов @ Sep 6 2013, 17:54) *
Старение полупроводниковых структур науке неизвестно.

Расскажите это тому, кто занимается полупроводниковыми лазерами- будет лучшая шутка сезона. Стареют, иногда прямо на глазах. Конечно, в транзисторах далеко не лазерные плотности мощностей, но тоже стареют. Например и собственного опыта- рост времени выключения IGBT транзисторов по сравнени с паспортным. Выяснилось при промере уцелевшей пары в установке индукционного нагрева. Притом запасной транзистор, пролежавший в шкафу 10 лет, не сдеградировал. Что именно деградировало в структуре - сказать невозможно, вторая пара тоже потом взорвалась. Ну и это от технологии IGBT должно зависить- разные поколения будут деградировать по-разному в силу различной конструкции ПП структуры.
PS. Описанное произошло с семикроновкимим модулями 123 серии после 12 лет эксплуатации в условиях достаточно тяжелых режимов, но старт-стоп были плавными, т.е катастрофических термоударов скорее всего небыло.
Go to the top of the page
 
+Quote Post

3 страниц V  < 1 2 3
Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 27th August 2025 - 00:34
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.01745 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016