возникла (неожиданно) задача пройти EMI тест, ну и без подготовки это не получилось (помехи в области >1ГГц)
по результатам измерения - видны гармоники 35dBuV/m, а нужно, в соответствии с профилем, где-то на 10dBuV/m меньше (я не вдаюсь в то, какой тест, по какому стандарту и т.д. - делали это специальные люди со специальными приборами, антеннами, в безэховой камере и т.д. - по моему, в рамках такого вопроса это не важно)
при этом гармоники от процессора достаточно маленькие и удовлетворяют маске, а от ПЛИС не удовлетворяют. причем у ПЛИС, скорее всего, эта частота присутствует только в ядре, то есть помеха с питания ядра (это мое дилетантское предположение) ну естественно, большая часть этой цепи - полигон во внутренних слоях, но есть места, где этот полигон идет по торцу платы, ну и соответственно, в источнике и под плисиной выходит на внешние слои
-------------------
можно ли это как-то промоделировать с весьма малыми трудозатратами и низкой квалификацией в RF? ну то есть у меня есть pcb, есть частота, я могу задать какие-то значения тока (предположить все динамическое потребление ядра на этой частоте) и т.д.
собственно - какие софты для этого существуют (if any) ну и стоит ли с этим связываться или задача не для любителя?
-------------------
цель - 1) подтвердить подозрение, что источник помех это питание ядра 2) изменить pcb и проверить - улучшилось или нет
|