реклама на сайте
подробности

 
 
 
Reply to this topicStart new topic
> Подключение к целевой плате
Titanium
сообщение Mar 17 2011, 12:44
Сообщение #1





Группа: Участник
Сообщений: 12
Регистрация: 16-08-07
Пользователь №: 29 833



Требуется тестирование оборудования, и вот возникла загвоздка: тестовый разъем для подключения к нужным цепям на плате предусмотреть затруднительно из-за большого числа контактов. Было бы удобнее разместить контрольные точки на всей плате, но как к ним подключиться?

Требования:
надежный контакт;
быстрое подключение/отключение платы (вручную);
небольшая стоимость;
количество контрольных точек ~30-50;
расчет на мелкосерийное производство тестируемых плат и несколько стендов.

Как это реализовать?
Go to the top of the page
 
+Quote Post
ataradov
сообщение Mar 17 2011, 14:37
Сообщение #2


Профессионал
*****

Группа: Участник
Сообщений: 1 014
Регистрация: 8-01-07
Из: San Jose, CA
Пользователь №: 24 202



Контакты такие называются pogo pins. Оснастку, держащую их делать естественно придется.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
i-mir
сообщение Mar 18 2011, 06:58
Сообщение #3


Частый гость
**

Группа: Свой
Сообщений: 197
Регистрация: 17-06-10
Из: Киев
Пользователь №: 57 986



В идеале: boundary scan test (BST)
Ваш вариант может внести значительные искажения при тестах,
если это конечно не логика примитивов (0/1).
Вместо параллельного тестового разъема можно поставить
регистр и осуществлять тест например через RS. Благодаря
динамике самого теста выявляются статические отказы,
типа непропай, кз.
Но нужно понимать о чем речь и какого рода тесты вы планируете.
Go to the top of the page
 
+Quote Post
Titanium
сообщение Mar 18 2011, 10:14
Сообщение #4





Группа: Участник
Сообщений: 12
Регистрация: 16-08-07
Пользователь №: 29 833



Цитата(Taradov Alexander @ Mar 17 2011, 19:37) *
Контакты такие называются pogo pins. Оснастку, держащую их делать естественно придется.


Благодрю за наводку!
Нашел подобную тему:
http://electronix.ru/forum/index.php?showtopic=72035
Подпружиненные контакты http://www.perel-russia.ru/catalog/3/67/93/341.html - самое оно:-) Еще бы их купить...

Цитата(i-mir @ Mar 18 2011, 11:58) *
В идеале: boundary scan test (BST)
Ваш вариант может внести значительные искажения при тестах,
если это конечно не логика примитивов (0/1).
Вместо параллельного тестового разъема можно поставить
регистр и осуществлять тест например через RS. Благодаря
динамике самого теста выявляются статические отказы,
типа непропай, кз.
Но нужно понимать о чем речь и какого рода тесты вы планируете.


Раньше выводил различные сигналы (программирование, ввод-вывод, некоторые внутрение цепи) на один тестовый разъем. Теперь плата сложнее, и, поскольку это не пареллельная шина, довольно затруднительно (да и неправильно) сосредоточить их в одном месте.

Будет проводиться заливка в МК тестовой и рабочей прошивки, проверка входных-выходных цепей, контроль напряжений в некоторых внутренних цепях, наличие откликов в них на команды стенда. Цель - отсев неисправных изделий (в т.ч. с ухудьшенными параметрами) с указанием лишь на примерное место неисправности.

Спасибо за ответы!
Go to the top of the page
 
+Quote Post
i-mir
сообщение Mar 21 2011, 11:11
Сообщение #5


Частый гость
**

Группа: Свой
Сообщений: 197
Регистрация: 17-06-10
Из: Киев
Пользователь №: 57 986



Задача тестирования работоспособности разделяется на функционалы (интерфейс, управление, анализ ....) и проводится комплекс тестов по каждому функционалу на всем поле событий. В данном контексте под тестами понимается как физическое так и программное моделирование процессов. Задача написания ПМ (программы и методики испытаний) - это целое искусство. Будет интересным увидеть результат.
Go to the top of the page
 
+Quote Post

Reply to this topicStart new topic
1 чел. читают эту тему (гостей: 1, скрытых пользователей: 0)
Пользователей: 0

 


RSS Текстовая версия Сейчас: 25th July 2025 - 02:55
Рейтинг@Mail.ru


Страница сгенерированна за 0.01368 секунд с 7
ELECTRONIX ©2004-2016