Есть свч схема модулятора сделанная в альтиуме. Нужно оценить какой уровень сигнала будет в разных частях платы при подаче воздействий в контрольных точках ( на определенные дорожки ). Посоветуйте в какой программе это возможно сделать. Нужно наличие базы данных по микросхемам и желательна возможность экспорта необходимых файлов из альтиума.

Сомневаюсь что такое в широко распространенных САПРах есть

Наверно стоит забросить топологию платы во что-нибудь из этого CST, HFSS, Agilent ADS. При этом вместо микросхемы поставить блок с S-параметрами коэффициента передача от гетеродина на выход модулятора. S-параметры возможно придется ввести ручками хотя бы примерные. И соответственно поставить все остальные элементы для моделирования, вроде портов входа и выхода на плате.

А что на счет возможностей genesys в этом плане?

Genesys использует тот же Моментум, что и ADS. Только ADS может еще в FEM считать, если лицензия позволит.

Думаю вам подойдёт пакет SIwave от Ansys/Ansoft (извлечение S-параметров, DC, AC анализ, поля в ближней/дальней зоне) из Altiuma кушается хорошо (ODB)
+AnsysDesigner со своим набором компонентов. Вот и моделируйте себе на здоровье

Я только не пойму, зачем все это? Какую информацию несет в себе уровень сигнала?

Вопрос в том, чтобы на уже нарисованной плате оценить уровень просачивания между цепями.

Спасибо кэп. Это было бы слишком просто.

В альтиуме есть модуль Signal Integrity, с помощью которого можно оценить просачивание.

Раз топикстартер его не упоминает, значит он затевает что-то другое. Речь идет об "свч схеме модулятора", банальное просачивание здесь скорее всего не актуально.

На плате в цепи которая не связана с цепью входного сигнала появляются его гармоники большой амплитуды (цепи подключены к ногам входной микросхемы, но передача такого уровня сигнала через микруху невозможна), собственно надо разобраться почему и избавиться от этого. Signal Integrity именно это анализирует?
Раньше не имел дела с подобного рода анализом и задачами, поэтому может быть все и просто.
Пока разбираюсь с построением модели в ADS.

Я бы так же посоветовал Вам для таких задач или ANSYS SIWave или Sentinel PSI. Поддержка ИС, как и дискретных компонентов/портов/источников сигналов, осуществляется в программе. Более того, современная версия SIWave поддерживает интеграцию с Altium через встроенный AnsoftLinks.

Насколько честно SIwave моделирует топологию и до каких частот ее параметры валидны по сравнению с HFSS например ?
Судя по скорости моделирования, то что HFSS будет считать 24 часа, SIwave щелкает буквально за минуты, не может такая разница во времени не сказываться на результатах.

У HFSS модуль вычислительный - это классический метод Конечных элементов, а в SIWave - гибрид FEM+МоМ и еще метод мультиполей.
Все зависит от типа решения задач. Например, для анализа SYZ параметров в диапазоне от 0 до десятков (иногда сотен) ГГц используется МоМ.
Всего типов анализа в SIWave шесть - это анализа на резонансы (Eigenmode); потом идет анализ в частотной области : анализ на S-параметры (Frequency Sweep) и SYZ-параметры (в том числе проверка чувствительности), а так же расчет поля в ближней/дальней зонах (Near/Far Field). Причем частотные под-диапазоны во всех вариантах м.б. произвольные. Кроме того, есть собственный мастера настройки для анализа плат с подключением IBIS моделей и прогонки через солвер NEXXIM/HSPICE. Есть мастер настройки посадочных мест и номиналов кондеров для устранения паразитных резонансов. Так что SIWave больше подходит для таких задач, как анализ многослойных ПП на ЭМС.

Написано много, но не по существу моего вопроса. Вопрос был о границах применимости SIwave. Прямого ответа я в литературе не нашел, но есть смутное подозрение что выше 500MHz Siwave безбожно врет, и использовать в СВЧ расчетах ее нельзя. Возможно на излучение EMI плюс минус километр еще можно.
А проверить все руки не доходят, нужна тонна времени.

в презентациях заявляют предел 20 ГГц...

Для анализа на перекрестные искажения и наводки в многослойных PKG/PCB, и вообще, систем связанных проводников в многослойных структурах - HFSS менее быстр, чем SIwave, причем на тех же частотах (!). Конечно, HFSSом можно решить и такую задачу, но это будет затратно по ресурсам. Сравнение можно найти в статье "FULL-WAVE MODELING OF MULTIPLE VIAS USING DIFFERENTIAL SIGNALING AND SHARED ANTIPAD IN MULTILAYERED HIGH SPEED VERTICAL INTERCONNECTS.pdf". А почему бы Вам стек слоев и некое пространство вокруг него не просчитать в SIwave, а далее передать по внешней ссылке FarNear Field в HFSS и все остальное (+/- километр ) там считать?




Если проект не секретный, то может выложите на форум или опишите задачку - народ, кто сможет, проверит, посчитает ...

За книжку спасибо огромное, проект несекретный, фильтры до 2ггц на сосредоточенных элементах. Разводка начинает играть решающую роль, а любое изменение резко меняет параметры всего фильтра выше 1 ггц. Загонять все в HFSS и тем более просчитывать топологию совместно с lumped компонентами даже не представляю как. Уже писал вопросы в нескольких темах тут, как это все оптимально просчитать. Не отвечают.
Пока вижу нормальный путь это нарезать топологию кусками, задать порты в местах подключения деталек и считать покусочно...сутками...
Весь фильтр, в котором десяток деталюшек, а это два десятка портов, комп наверное захлебнется.
Еще есть фактор внешнего взаимного влияния индуктивностей друг на дружку, пока плохо представляю себе как вообще это учесть. Наверное придется на тестовой модельке расположить их примерно рядом, как на плате, в 3D отмоделировать честную механику, вытащить значения и потом подставлять их в схему в качестве паразитной индуктивности.