Здравствуйте, уважаемые радиолюбители!
У меня, как бы это странно не показалось (шучу), к Вам просьба о помощи.
Нужен материал по теме “система (устройство) контроля логических устройств”, назовем ее так…
Требования к нему:
- приемочный контроль на предприятиях-изготовителях элементной базы;
- входной контроль на предприятиях, производящих электронную технику;
- исследовательские испытания

Как идеальный вариант будет, если устройство будет интегрироваться в персональный компьютер посредством PCI-шины или RS23 или еще как-то

Вопрос: Можно ли реализовать это устройство на ПЛИС компонентах и как?

Люди, если есть что-нибудь в этом духе или знаете, где можно раздобыть, пожалуйста, помогите чайнику
Буду очень признателен.

Заранее благодарю, Алексей
С нетерпением жду ответов и писем.

...... .диплом что ли? Тогда создайте чудо-логический измеритель!, взяв 2 ацп прицепив к ним контроллер с интерфейсом rs-232 и мерьте этими двумя ацп напряжение с двух! батареек на призводстве батареек..)..ну или придумайте измеритель ВАХ диодов, тоже не сложно...с транзисторами посложнее будет....вы ИМХО как-то много спросили, сузьте глобальность) вопроса, будьте проще и люди к вам потянуться

Логические устройства разные бывают.
SN74AC08, TMS320DM6446 и Pentium-4 все они - логические устройства.
Проверять их всех одним и тем же устройством контроля как-то не очень разумно.
А что касается интерфейса, так это вторично. Можно взять готовый процессор с
PCI/USB/RS232 на борту, можно и в FPGA все синтезировать.
Но пока не ясно что и как "контролировать".

Думаю, Вам стоит обратить внимание на сигнатурный анализ.Дешево и сердито.

Как я вижу этот вопрос: Необходимо разработать устройство в виде платки, которая либо будет подключаться к ПК посредством вставки ее в PCI разъем, либо подключаться через LPT или COM-порт… Далее, оно будет соединено посредством шины либо со стендом (на стенде должны быть предусмотрены разъемы для проверяемых микросхем), либо специфическим разъемом (трудно даже вообразить его физическое представление, кажется, будет неудобно в эксплуатации)…
На ПК должна быть запущена программка (желательно попроще) написанная хотя бы на паскале или бейсике (тут уж мои возможности совсем ограничены, а с этими языками я поверхностно знаком – не программист я ).
Подключаем микросхему, выбираем на ПК ее тип, запускаем программу, получаем резултат: Можно, я думаю, представить в виде таблицы истинности и небольших комментариев, типа “работает”/ “не работает” “неверный сигнал на такой-то ножке”…

На самом деле здесь все не так легко и просто как кажется на первый взгляд.
Я участвовал в разработке прибора контроля DIMM'ов для РС. Так вот это была далеко не "платка" в РС, а тумба размером в стол.
Если хотите правду жизни - посмотрите на сайте Semtech - пин-электроника. Там есть драйверы пинов и PMU.
Надо уметь:
проверять токи утечки по входам-выходам, от микроампер до 50 мА,
проверять потребляемый ток при разном питании, температуре и режимах,
надо уметь двигать импульсы данных относительно строба, чтобы проверить границы сетап-холд.
Ну а при температуре это-же все надо уметь повторять тоже....
Итак - сконфигурить, проверить пины, выдать паттерн, проверить результат....

Так что можно сказать: "нам наплевать на мировых производителей тестового оборудования, у нас такое парень новичок за неделю сбацает"
По поводу Semtech - в Элтех пишите...

Удачи! Будут вопросы - пишите.

Хорошо если тумба она, а так тянет на несколько стоек. Если еще и динамические параметры проверять, но если функционирование на какой-нить частоте, то еще раз повторяю - сигнатурный анализ.

Спасибо за пояснение, Iosifk.
Твой ответ дал мне пищу для размышлений. Понял, что имелось ввиду под исследовательскими испытаниями… На самом деле это так, но сам об этом не задумался. Благодарю за наводку.

Согласен, в глобальном смысле работа довольно навороченная, и уж тягаться мне с мировыми разработчиками точно не под силу, как и остальным рядовым выпускникам вузов. В общем то, не претендую… Да и думаю, от меня это и не требуется…
Необходимо скажем, несложное тестирование микросхем на работоспособность. Температурное влияние, я думаю, рассматривать либо вообще не стоит, либо, моделированное в программном отношении, то есть увеличение/снижение параметров сигналов посылаемых на вход проверяемых микросхем… Идея или туфта, как ты считаешь?
Еще раз, благодарю, Алексей

Во первых, мы на "ты" еще не переходили, да и вряд ли перейдем.
Во-вторых, надо еще раз подумать и решить, что же такое "несложное тестирование микросхем на работоспособность"...
Что это за испытание? Температура, динамика, статика?
Какие микросхемы предвидятся, в каких корпусах, с каким кол-вом выводов?
Как из устанавливать в проверочное устр-во? Вручную, автоматически?
Какие типы микросхем надо проверять? Скажем оюно дело логика, мультиплексоры. Другое дело микроконтроллеры. И совсем третье - FPGA...
Сколько по времени Вы готовы отдать на один тестовый вектор и сколько текторов планируется выдавать на одну микросхему.
У меня на сайте есть статейка о "Гайке М3 и о разработке ТЗ". Она либо лежит отдельно, либо на страничке "Записки Инженера". Прочитайте эту короткую статейку, и подумайте о том, что же Вы хотите спросить...
В соответствии с запросами, получите и ответы.

Удачи!

Во первых, мы на "ты" еще не переходили, да и вряд ли перейдем.
Во-вторых, надо еще раз подумать и решить, что же такое "несложное тестирование микросхем на работоспособность"...
Что это за испытание? Температура, динамика, статика?
Какие микросхемы предвидятся, в каких корпусах, с каким кол-вом выводов?
Как из устанавливать в проверочное устр-во? Вручную, автоматически?
Какие типы микросхем надо проверять? Скажем оюно дело логика, мультиплексоры. Другое дело микроконтроллеры. И совсем третье - FPGA...
Сколько по времени Вы готовы отдать на один тестовый вектор и сколько текторов планируется выдавать на одну микросхему.
У меня на сайте есть статейка о "Гайке М3 и о разработке ТЗ". Она либо лежит отдельно, либо на страничке "Записки Инженера". Прочитайте эту короткую статейку, и подумайте о том, что же Вы хотите спросить...
В соответствии с запросами, получите и ответы.

Удачи!
[/quote]

Здравствуйте, Иосиф Григорьевич.

Для каждого человека форма обращения имеет свое значение… Прошу прощения, если форма “ты” настолько глубоко зацепила и, может, как-то обидела. Не вкладывал в выбранную форму обращения оттенка “патцанства” и неуважения.
Предполагал, что убрав официальность обращения, будет проще общаться. Учту Ваше замечание.
Пишу в рубрике “электроника для чайников”, что предполагает мои неглубокие познания в данной сфере, что в дальнейшем будем исправлять.
Поэтому, к примеру, под “несложным тестированием микросхем на работоспособность” предполагал проверку соответствия выходных сигналов эталонным значениям при подаче соответствующих сигналов на вход.
Дать в данный момент ответ на вопрос о типах проверяемых микросхем и типах корпусов не могу. Этот вопрос, естественно, требует отдельного рассмотрения и является далеко не второстепенным. Но на данной стадии разработки считаю, что можно этот вопрос немного отсрочить.
Установка микросхем будет происходить вручную, что предполагает использование данного тестового устройства на мелкосерийном производстве.
Разрешите задать вопрос: Сильное ли отличие в проверки логики и проверки микроконтроллеров.
Прошу прощения за, возможно, глупый вопрос, но разве микроконтроллеры не относятся к разряду логики?
Вопрос о тестовых векторах: Что под ними имеется ввиду, поясните, пожалуйста?

Все выше написанное было до прочтения статьи “о Гайке М3 и о разработке ТЗ"… Сейчай прекрасно понимаю, что с ТЗ все и начинается...

Хочу сказать отдельное спасибо за Вашу статью про гайку. Очень наглядно показывает необходимость правильного составления ТЗ. Видимо, в этом заключается часть моей проблемы – неумение верно составить ТЗ… Попробую сделать это более грамотно, на сколько мне позволят знания данные в институте. Слабый уровень грамотности, к сожалению.

Также хочу выразить благодарность за созданный вами сайт. Множество полезной информации. Кое-что обязательно рассмотрю. Все по мере необходимости в конкретный момент. Прочел Вашу рубрику “Это конечно я. Пара слов о том, зачем я пишу..”, понял причину Вашей реакции на мою просьбу о помощи.

Сложность решения моей задачи для меня, как мало грамотного в вопросах проектировки, заключается в сжатых сроках, которые я имею.
Еще раз благодарю за Ваш отклик на мой пост, за наводящие вопросы с Вашей стороны и определенный урок.
Если можете дать какие-то дополнительные рекомендации по составлению ТЗ или в общем по освещенному мной вопросу о разработке устройства, буду благодарен.

С уважением, Алексей

Здравствуйте, Иосиф Григорьевич.

Для каждого человека форма обращения имеет свое значение… Прошу прощения, если форма “ты” настолько глубоко зацепила и, может, как-то обидела. Не вкладывал в выбранную форму обращения оттенка “патцанства” и неуважения.
Предполагал, что убрав официальность обращения, будет проще общаться. Учту Ваше замечание.
Пишу в рубрике “электроника для чайников”, что предполагает мои неглубокие познания в данной сфере, что в дальнейшем будем исправлять.
Поэтому, к примеру, под “несложным тестированием микросхем на работоспособность” предполагал проверку соответствия выходных сигналов эталонным значениям при подаче соответствующих сигналов на вход.
Дать в данный момент ответ на вопрос о типах проверяемых микросхем и типах корпусов не могу. Этот вопрос, естественно, требует отдельного рассмотрения и является далеко не второстепенным. Но на данной стадии разработки считаю, что можно этот вопрос немного отсрочить.
Установка микросхем будет происходить вручную, что предполагает использование данного тестового устройства на мелкосерийном производстве.
Разрешите задать вопрос: Сильное ли отличие в проверки логики и проверки микроконтроллеров.
Прошу прощения за, возможно, глупый вопрос, но разве микроконтроллеры не относятся к разряду логики?
Вопрос о тестовых векторах: Что под ними имеется ввиду, поясните, пожалуйста?

Все выше написанное было до прочтения статьи “о Гайке М3 и о разработке ТЗ"… Сейчай прекрасно понимаю, что с ТЗ все и начинается...

Хочу сказать отдельное спасибо за Вашу статью про гайку. Очень наглядно показывает необходимость правильного составления ТЗ. Видимо, в этом заключается часть моей проблемы – неумение верно составить ТЗ… Попробую сделать это более грамотно, на сколько мне позволят знания данные в институте. Слабый уровень грамотности, к сожалению.

Также хочу выразить благодарность за созданный вами сайт. Множество полезной информации. Кое-что обязательно рассмотрю. Все по мере необходимости в конкретный момент. Прочел Вашу рубрику “Это конечно я. Пара слов о том, зачем я пишу..”, понял причину Вашей реакции на мою просьбу о помощи.

Сложность решения моей задачи для меня, как мало грамотного в вопросах проектировки, заключается в сжатых сроках, которые я имею.
Еще раз благодарю за Ваш отклик на мой пост, за наводящие вопросы с Вашей стороны и определенный урок.
Если можете дать какие-то дополнительные рекомендации по составлению ТЗ или в общем по освещенному мной вопросу о разработке устройства, буду благодарен.

С уважением, Алексей

Боюсь, что этот вопрос является первоочередным, потому как от типа микросхемы зависит алгоритм проверки. Вы же не собираетесь делать установку для поверки ВСЕХ существующих ныне микросхем

Еще было бы неплохо какие параметры требуется проверить и при каких внешних раздражающих факторах. Потому как одно дело подать на инвертор что-то и проверить - проинвертировал он или нет, и совсем другое - протестировать какую-нибудь ПЛИСину в печке при мощном электронном фоне.

Порой очень трудно общаться пересылаю друг другу сообщения...
Читают через строчку... Собственно говоря, и сам так частенько делаю...

Конечно, вопрос о типах тестируемых микросхем является далеко не второстепенным, просто до этого мне нужно сформулировать для себя общий принцип работы устройства... Поэтому этот вопрос НЕМНОГО отсрочим...
Необходимо осуществить приемочный контроль на предприятиях-изготовителях элементной базы, отсюда и вытекают требования, полагаю...
Хорошо было бы обойтись проверкой некоторого набора наиболее часто используемых микросхем...
Если возможно, то совместно и для обычной логики и для программируемой.
Может, я заблуждаюсь, но для проектировки требуемого устройства не столь важно знать будут ли тестируемый элементы пихаться в печку или в холодильник, или трястись на вибростенде… Оно будет проверять их в поставленных условиях, каких, как мне кажется, не важно. А уж за разработку целого комплекса я не берусь (видимо, я немного не корректно обозначил тему, что вводит Вас в заблуждение). Почему уж тогда не задать мне вопрос типа: “А какой ПК ты будешь проектировать для тестирования микросхем?”. Так, на всякий случай – ПК тоже проектировать не предполагал

Novich
Если вы не можете квалифицированно оценить даваемый вам совет - не стоит его объявлять неправильным. В конце концов, это вы просите совета в том, в чем не разбираетесь, у тех, кто разбирается.
Нет. Именно сейчас этот вопрос является принципиально-важным и именно неотложным. От ответа на него на 100% зависят остальные ответы.
Обратите внимание - в любом даташите (справочнике) у любой микросхемы целая куча параметров. Проверка разных из них требует разного вида оборудования. И получается либо много типов оборудования для разных групп параметров (что громоздко и при этом не факт, что просто), либо "универсальное" оборудование на разнородные параметры (а это - точно и сложно, и _очень_ дорого).
Ограничив перечень контролируемых параметров, ограничите перечень оборудования и требования к оборудованию (ДО начала его разработки). Могу сказать одно: у изготовителей этих микросхем ради полной проверки по всем параметрам используется оборудование стоимостью многие десятки и сотни тысяч долларов. Оно обслуживается целым штатом высококвалифицированных инженеров, содержащих его в нужном техническом состоянии (а это сложное многоканальное высокоточное измерительно-вычислительное оборудование) и подготавливающих для него рабочее программное обеспечение под каждый вид типономинал микросхем. В стоимости любой микросхемы не менее 30% - затраты на тестирование при производстве (и это при крупносерийном производстве! У вас уровень затрат будет в разы больше).
Параметров много, и введены они не зря - невыполнение любого из них в определенных условиях может привести к отказу изделия. Что из них важно, а что не важно конкретно для вашей продукции - решать только вам.
Даже проверка только функционирования: Комбинационные цифровые микросхемы ("дискретная логика") проверяются не так, как микросхемы с памятью. Микроконтроллеры - не так, как обе предыдущие (и принципиально их очень сложно проверить досконально. Изготовители _для себя_ встраивают в них дополнительные средства проверки, о которых потребителям даже и не сообщается). Аналоговые микросхемы - принципиально не так, как цифровые.
А важны ли вам динамические параметры (времена задержек, переключений)? На какой частоте проверять собираетесь?
А важны ли входные-выходные токи и напряжения?
И еще много-много подобных вопросов. Без ответа на них просто не о чем дальше разговаривать. Поверьте на слово - мне приходилось иметь с этим дело.
Или пишите конкретно, без уклончивости - что и для каких целей, в каком объеме предполагается проверять. Тогда (при доброй воле тех, кого вы уже проигнорировали) вам помогут ответить на эти вопросы. Правда, процентов 99 за то, что в результате вы поймете, что вам эта задача непосильна.
В это вообще не верится. Не имея такого контроля, они не смогут быть изготовителями элементной базы. Может, речь о потребителях, а вам стоит отказаться от применения выражений, в которых вы не уверены?
Именно заблуждаетесь и именно важно. Одно дело - обеспечить достоверность контролируемых параметров в 2 см от контролирующей электроники, и совсем другое - если проверяемую микросхему нужно относить от измерительного оборудования (стенда) на 2-3-5 м, чтобы поместить в термокамеру (или нужна спец.термокамера прямо на месте измерения) или на вибростенд и т.п.
Так вам что, требуется помощь в написании ТЗ для стороннего разработчика?

Все лишне из цитаты убирать некогда.
Давайте о главном.
Начнем с конца. Чтобы проверить микросхему в нее надо выдать воздействия и получить результат.
Воздействие - это называется тестовый вектор. Шаблон, по которому делают проверку - паттерн.
Как будем выдавать вектора - в виде 010101010000101010? и под каждый чих все вручную???
Или за основу будете брать какой либо язык выдачи векторов более высокого уровня? Например SVF или Stapl???
Далее, если число выдываемых векторов 10, то можно их генерировать вручную. А если это число 2 в степени 32 - например для микросхем памяти????
Из сказанного выше, зная общее число векторов можно задать время на тестирование, например 1 час, а уже из него надо определить время выдачи, приема и обработки одного вектора.
Зная время "одного вектора" можно определить протокол связи с проверяемым изделием - DUT. Если укладывается, то можно применить послед. протокол. А это позволит отнести DUT от РС на несколько метров в термокамеру. Но при послед протоколе динамики не будет, а будет только проверка в статике.
Далее пойдет разговор о стандартах сигналов.
TTL, LVTTL, MOS, LVCMOS, GTL, далее уровни 1.8, 2.5, 3.3, и так далее... Как будете менять стандарты выводов???
А если часть - 2.5 другие 3,3 и не подряд, а вразброс???
Ну вот добрались до микросхем.
Если микросхема не имеет внутри элементов памяти, то тесты довольно простые.
А вот как проверить вЫход UARTA, если вы можете делать только проверку в статике? Если программа в микроконтроллер еще не загружена то как проверить вход запроса прерывания, или Вы еще будете загружать тестовые программы в микроконтроллер?
Или вот FPGA. Если они не загружены, то ни один сигнал со входа не попадет ни на один выход...

Так что вопросов довольно много. И только Вы можете определить границы работоспособности Вашего прибора.

По поводу моего сайта - спасибо за похвалу...
По поводу составления ТЗ - я сейчас отдал в печать статью "Микропроцессор своими руками - 5". Будет напечатина в "КиТ" 3, 4, 5. Так что, следите за журналом... Посещайте страничку "Статьи".
И вот ссылка на русскоязычный ресурс: http://authorit.ru/?c=8&b=3.
А что касается цены на прибор проверки DIMM'ов, то доктор Алекс называл примерные цифры "от полумиллиона долл." И это не у Бренда, у Бренда цены в разы выше... И речь шла о приборе проверяющем только память, а не все подряд...

Удачи!

Контроль на предприятиях-изготовителях сводится к контролю за надлежащей работой их персонала и правильному оформлению ими документации + проверка некоторого выборочного количества МС из каждой партии на соответствие ТУ на их оборудовании.
Примерно так работала , а может и работает ВП.

Это в России? Как же в таком случае выход годных может быть меньше 100%

Это в СССР.

Не знаю, где Вы такое видели (в том числе в СССР). Каждая микросхема (диод, транзистор) измерялась минимум дважды (на пластине - до упаковки в корпус. Тут отсевалась бОльшая часть брака, обусловленная собственно кристаллами) и в готовом виде (после упаковки в корпус). Это не считая косвенных проверок параметров в течение изготовления на имеющихся на пластине тестовых элементах. И не считая периодических испытаний по расширенному набору тестов (на воздействие температуры, вибрации и т.п.).
На каждую микросхему имеются ТУ, в которых расписаны контролируемые параметры и приемочные нормы. Все это реально проверялось на каждом экземпляре микросхем. Целые цеха занимались _только_ измерениями.
Если под ВП вы имеете в виду приемку представителем заказчика (ПЗ), то там еще строже (если на микросхему для приемки ПЗ не было отдельного ТУ, то она принималась по отдельным, ужесточенным приемочным нормам). И штамп ПЗ ставился после просмотра распечаток результатов тестирования. По крайней мере, так это было на "Интеграле". И продолжает быть, насколько я знаю.

Novich, а может, все обстоит гораздо проще?
Пример из жизни: нам как-то разработали и поставляли некую несложную заказную мелкосхему. Но по сложившимся обстоятельствам, ТУ на нее не оформлялись, и полноценных приемочных испытаний она не проходила. Нам обошлось это дешевле при заказе, изготовителю дешевле было нам молча менять все экземпляры, которые у нас не работали.
Но поскольку неисправные м/схемы попадались, а испытательный стенд ради них делать - слишком дорого, просто взяли прибор, в котором эта микросхема использовалась, поставили в нем панельку вместо м/схемы, и каждый экземпляр микросхем на этом приборе проверяли на общую работоспособность в составе конкретного изделия (больше она никуда и не применялась). Крутили туда-сюда напряжение питания и входные сигналы (с имитатора) - вот и весь "входной контроль".
Язык не повернется назвать это "испытаниями" или "проверкой параметров". Но наше производство было удовлетворено, рекламации на прибор в части этой микросхемы _почти_ исчезли, и все решили, что такой контроль экономически достаточно целесообразен, большего не надо.
Короче, пиши подробнее, что и для чего требуется.

Ндя... сам сейчас занимаюсь этим, как раз пишу ТЗ. Могу сказать, что задачка действительно не из простых. Сначала все было в радужных тонах, потом пришло понимание, что лучше бы я умер вчера
У Вас конечная цель какая? только ТЗ или прибор тоже делать будете? просто интересно, может и совместим усилия. Вообще могу порекомендовать www.form.ru, там делают такие приборчики.
И вопрос к Иосифу: на Вашем сайте не нашел (или плохо искал) информацию про тестер диммов. Если есть что не секретное почитать на эту тему, буду рад, да и автор этой ветки тоже порадуется.

Дело было... Работал я в маленькой инофирме 2 года. А на сайте этого нет, поскольку обещал доктору не разглашать его тайн. Хотя, как таковых тайн то и нет.
144 линии на частоте 300 Мгц, причем каждая линия программно двигается относительно тактовых, проверка токов утечек, потребляемого тока. Ну и конечно выдача паттернов с проверкой результата.

Но это был не мой проект. Когда я попал в этот проект исправить уже было ничего не возможно. Да и не та это была фирма, чтобы прислушиваться к мнению "туземных инженеров". Дальше не пишу.... Один из моих бывших сослуживцев теперь в Германии на Адвантесте...

Моя часть в этом проекте - расчет многофазных импульсных источников питания, потом получил задание - управление модулем PMU, а именно автомат в Virtex2, который крутил 3-мя источниками питаня, ЦАПами, АЦП и полусотней реле. Жуткое число завязок и блокировок... Как я это сделал - сделал связку из 2-х микропроцессоров в FPGA. Об этом я написал. Как "заклинал" менторовский ПАДС, чтобы он рисовал куски схемы автоматически - это я тоже описал. Самое интересное - это было JTAG тестирование на припайку. Это тоже удалось довести до работающего софта и даже на одной из плат среди 5-ти тыс. цепей программа нашла одну закоротку. Померили - 10 Ом. Т.е. осцилл. такие вещи не брал - ну подсажен импульс слегка... Поскольку стандарт вывода брали 26 мА или больше, а у незагруженной мс - 12 мА.
Для меня в описании приборов контроля микросхем интересного мало, т.к. это очень специфичные разработки, да и интересны они очень узкому кругу людей. Да и информация о таких разработках известна.
Вот в статье "клуб экспертов" участвуют ребята из "Совтеста". Обратитесь к Роману Малышеву - это им ближе. И их фирма занимается приборами контроля.
Удачи!

Мы видели , там где работали. Причем около 8 лет.
Я описал работу военной приемки(ВП), ну ПЗ(ВП понятнее), А вот Вы ,судя по всему , знаете это по наслышке, и не внимательно читаете.
До ВП(ПЗ) . изделия проверяло ОТК, тоже выборочно.
А вот до них было примерно то что Вы написали, только еще уточню, думаю Вы это не знаете.
До ОТК изделия проверяли не по ТУ , а по специальным нормам НТ, которые в разы круче.


А в чем, собственно , жесткость ? Они со своим оборудованием приходили?

muravei
Есть подозрение, что мы писали о разном. Я исходно так понял, что здесь:
Вы писали о внутренней приемке продукции у изготовителя (и о сдаче готовой продукции ПЗ). Но теперь предполагаю, что Вы имели в виду инспекционный контроль системы качества предприятия-изготовителя "со стороны" (в том числе аттестацию и переаттестацию для работы с ПЗ). Вряд ли Novich имел в виду в своем вопросе именно это, ну да ладно (от него уточнений все равно нет). Не думаю, что ему ставили задачу контроля предприятия-изготовителя, я почему-то думаю, что он ошибся, когда писал об изготовителях элементной базы (но может, тут неправ как раз я). Так что между тем, что писал я, и тем, что писали Вы, противоречий вроде как и нет. Правы и Вы, и я.
Только у нас ОТК принимало НЕ выборочно, а все сплошь (просто контролер ОТК присутствовал на приемочных замерах непрерывно и смотрел текущие результаты контроля, а потом - итоговую распечатку по партии подписывал). Приемочные нормы при контроле на производстве жестче, чем в ТУ - да, были (хотя, конечно, и не "в разы").
Да собственно в нормах. И в объеме испытаний (их было больше, чем для "гражданских"). На основании спецдополнения к ТУ (ну, чисто "военные" схемы - понятно, там просто сразу ТУ с нужными требованиями). Не один раз видел, как по требованию ПЗ снимали с измерительной системы носитель загружаемой программы и волокли проверять - та ли это программа, с "правильными" ли нормами браковки.
Насчет ВП/ПЗ - "наши" предпочитали, чтобы "ВП" нигде не фигурировало. Везде писалось _только_ ПЗ (кстати, это именно официальное название). На предприятиях, где я с ними еще сталкивался (не только у нас, но и в России, а в советские времена и в других местах) - аналогично. Но для данной ветки, наверное, это оффтоп.
А насчет того, что я знаю, а что нет - Вы заблуждаетесь. Не страшно, я тоже этим страдаю, бывает.

С учетом того что по ТУ , например , проверялись не все ноги у МС.

ВП написал, чтобы не объяснять что такое ПЗ

ПЗ, естесвенно, проверяли по всему циклу,собственно, как и гражданские,только он у каждого свой , но тоже выборку, при 1 брака вся партия перепроверялась.

А ко всему этому еще частенько добавлялся входной контроль на предприятии потребителе микросхем и прочих ППП