Цитата(ATname @ Oct 31 2010, 17:43)

"Неправильную" форму "шарик" на рентгеновской засветке иметь не может по определению (в случае непропая).
Интересно... Как это - "по определению"?

Цитата(ATname @ Oct 31 2010, 17:43)

Этот способ более точен (определяет наличие скрытых пустот, не обнаруживаемых рентгеновским контролем), но более дорог.
А почему рентген не способен обнаружить некоторые виды пустот?
Цитата(ATname @ Oct 31 2010, 17:43)

Форму контакта ПП изменяют специально для того чтобы при пайке видеть именно изменение формы засветки отличной от формы контакта корпуса.
Об этом я тоже сказал. Но при этом я считаю, что у этого способа есть более серьезные минусы. Например, увеличенная площадь, окрытая от маски. Более серьезным я считаю этот минус потому, что при наличии нормального рентгена все и так отлично видно (в т.ч. по пояскам, плюс можно наклонять ось просмотра).
Цитата(ATname @ Oct 31 2010, 17:43)

Оптимальной (с технологической точки зрения), для этого, как раз и является форма капли с параметрами указанными в файле (т.е. удлинение на 1/2 от диаметра онтакта).
Но еще раз: там нарисована не капля! И при чем здесь технологическая точка зрения? Уточните.
Цитата(ATname @ Oct 31 2010, 17:43)

Вообще, капли на контактах SMD (и не только) микросхем делают совсем для других целей.
Есть такая штука при изготовлении ПП, которая называется застой кислоты. Этому эффекту наиболее подвержены углы. Особенно углы при входе связи в контактную площадку. Вот для нейтрализации этого эффекта, который особенно опасен на платах класса 5+ (где ширина трассы 75 мкм и менее), и применяют каплю на контакте. Или если у изготовителя совсем древняя технология травления, что в РФ тоже имеет место быть.
Вот-вот. Кстати, если вообще отказаться от травления, то и капли здесь окажутся лишними. Есть еще проблемы со сверлением, ну да ладно.
Меня заинтересовал именно рентгеновский контроль.
Я первый раз увидел такие падстеки и, признаться, Вы меня пока не убедили, что они сильно облегчают жизнь.