Форум разработчиков электроники ELECTRONIX.ru

Victor®

Jul 14 2009, 11:37

Здравствуйте!
Интересует информация по DFT методологии.
В первую очередь интересует различные алгоритмы MBIST.
Что-то не могу в инете найти ничего конретного.
Единственно, что хоть как-то прояснило вопрос -
http://www.asic-dft.com

Может у кого ссылки есть какие-то или книги?

С уважением, Виктор

iosifk

Jul 14 2009, 12:10

Цитата(Victor® @ Jul 14 2009, 15:37)

Здравствуйте!
Интересует информация по DFT методологии.
...
Что-то не могу в инете найти ничего конретного.
...
Может у кого ссылки есть какие-то или книги?

На сайте Ментора...

Victor®

Jul 14 2009, 13:10

Цитата(iosifk @ Jul 14 2009, 15:10)

На сайте Ментора...

Спасибо, но поиск по ментору дал всего 2 полезные ссылки на документы.

Интересуют книги:

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
http://www.amazon.com/VLSI-Test-Principles.../ref=pd_sim_b_4

System-on-Chip Test Architectures
http://www.amazon.com/System-Chip-Architec.../ref=pd_sim_b_5

High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
http://www.amazon.com/High-Performance-Mem...s/dp/1402072554

A. J. van de Goor, Testing Semiconductor Memories

Losik

Jul 14 2009, 14:08

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Systems on Silicon)
h__p://ifile.it/e6lsymi/0123705975.zip
or
h__p://www.filefactory.com/file/01be03/n/0123705975_zip

High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (Frontiers in Electronic Testing)
h__p://www.badongo.com/file/8034169
or
h__p://ifile.it/1yawvx5/1402072554__gigle.ws.rar archive password: gigle.ws

/..../docs/System-on-Chip Test Architectures By Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba

Victor®

Jul 14 2009, 14:43

Цитата(Losik @ Jul 14 2009, 17:08)

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Systems on Silicon)
h__p://ifile.it/e6lsymi/0123705975.zip
or
h__p://www.filefactory.com/file/01be03/n/0123705975_zip

High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (Frontiers in Electronic Testing)
h__p://www.badongo.com/file/8034169
or
h__p://ifile.it/1yawvx5/1402072554__gigle.ws.rar archive password: gigle.ws

/..../docs/System-on-Chip Test Architectures By Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba

Спасибо за помощь!
Желаю успехов!

Цитата(Losik @ Jul 14 2009, 17:08)

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Systems on Silicon)
h__p://ifile.it/e6lsymi/0123705975.zip
or
h__p://www.filefactory.com/file/01be03/n/0123705975_zip

High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (Frontiers in Electronic Testing)
h__p://www.badongo.com/file/8034169
or
h__p://ifile.it/1yawvx5/1402072554__gigle.ws.rar archive password: gigle.ws

/..../docs/System-on-Chip Test Architectures By Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba

Может еще что-то посоветуете по тестированию памяти?

Losik

Jul 14 2009, 15:10

добавил книгу /.../docs/High_Performance_Memory_Testing
и
Design for Testability Theory and Practice
"Professors Adit Singh and Vishwani Agrawal
Electrical and Computer Engineering
Auburn University, Auburn, AL 36849, USA"
/.../docs/DFT 3 Day Course- VAgrawal

Losik

Jul 14 2009, 17:18

/.../docs/mbist_wkb
Memory_BIST_Training_Workbook. Men.tor Gr.aphics

Victor®

Jul 15 2009, 06:19

Цитата(Losik @ Jul 14 2009, 20:18)

/.../docs/mbist_wkb
Memory_BIST_Training_Workbook. Men.tor Gr.aphics

Спасибо за литру.
Пошел читать :-)

-- Желаю успехов!