Цитата(НЕХ @ Apr 2 2013, 09:03)

Для минимизации индуктивность цепи затвора необходимо уменьшать площадь контура драйвер-проводники-mosfet.
Индуктивность цепи истока всячески сопротивляется изменению тока при манипуляциях напряжения затвора вблизи порогового. Это приводит к росту потерь из-за более продолжительного пребывания ключа в линейном режиме.
Уважаемый HEX, Вы абсолютн прав.
Читайте статьи Тогатов, Терновский "Коммутационные процессы в высокочастотных преобразователях", "Теория сверхбыстрого включения МОП-транзисторов","Теория сверхбыстрого вЫключения МОП-транзисторов", "UltraFast switching of Power MOSFETs", в которых мы рассматриваем процессы происходящие в момент включения (выключения) полевых транзисторов.
На приведенной HEX картинке можно наблюдать короткие импульсы тока стока - "ложное включение", что связано с колебательным процессом в цепи затвора и превышением напряжения на емкости затвор-исток выше порогового...
к сожалению, мы не можем видеть "чистое" напряжение на емкости затвор-исток, а все-равно смотрим наприяжение на цепочке емкость+индуктивность, отсюда может быть не четкое понимание ситуации.
В первом случае амплитуда больше, потому что выключение транзистора происходит быстрее, отсюда и больше выброс.
Кстати, заметьте, напряжение на затворе сначала спадает быстро, а потом медленно...быстрый спад - это время до достижения активного режима, дальше экспонента с постоянной S*Lистока
Цитата(НЕХ @ Apr 2 2013, 09:03)

..есть ключи, в которых проблема всплывает чаще, например, старые COOLMOS ...
Интересно узнать (простите за оффтоп) про параметры транзисторов разных технологий.
Нет случаем хорошего материала, где сравниваются параметры МОП-транзисторов в зависимости от технологий их производтсва...или еще дальше - структура МОПов с концентрациями акцепторов, доноров, используемых материалов.
Хочется посчитать физические процессы происходящие в МОП-транзисторах, но мне не известна страктура современных приборов.